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Aunque la microscopía electrónica de barrido (SEM) ha hecho enormes avances, puede ser considerada por nuevos usuarios como una técnica complicada. La preparación de las muestras, las alineaciones, el coste de amortización y las dificultades con las técnicas analíticas impiden que su adopción sea generalizada. Nos hemos comprometido a resolver estos retos para hacer un SEM verdaderamente accesible sin comprometer la flexibilidad. Nuestro objetivo era hacer de la microscopía una experiencia fácil y agradable en la que no era necesario luchar contra el microscopio para obtener datos de calidad. El resultado es el microscopio electrónico de barrido Axia ChemiSEM™ de Thermo Scientific™, un sistema en el que la obtención de datos SEM-EDS ya no es una tediosa tarea. El EDS ya no es solo un pensamiento idílico: los datos químicos y las imágenes ahora se han unido.
El Axia ChemiSEM es diferente a los SEM tradicionales en que siempre se recopilan datos EDS en segundo plano. Utiliza algoritmos únicos para procesar las señales SEM y EDS simultáneamente, lo que le permite mostrar la morfología de una composición elemental cuantitativa de forma conjunta, en tiempo real. Procesa constantemente los datos EDS en segundo plano, lo que le proporciona actualizaciones en vivo de los datos elementales, a medida que se adquieren. Los elementos que se encuentran en la muestra se pueden activar y desactivar, lo que permite aislar áreas de interés.
Axia ChemiSEM ofrece una experiencia de usuario superior mejorada por la automatización, como la tecnología SmartAlign para un funcionamiento sin alineación, funciones automáticas recientemente desarrolladas y mapeo EDS cuantitativo en tiempo real. Este procesamiento está siempre activado, haciendo que el análisis sea el doble de rápido que los métodos tradicionales. El microscopio electrónico de barrido Axia ChemiSEM pone el análisis SEM/EDS al alcance de un público científico más amplio, acelera su flujo de trabajo y ahorra tiempo en la formación.
Mapeo elemental cuantitativo en directo
Actualice su flujo de trabajo analítico con la tecnología de vanguardia Thermo Scientific ChemiSEM completamente integrada que proporciona caracterización en la mitad de tiempo.
Fácil de empezar
Este instrumento se combina con una guía integrada para el usuario, imágenes de composición en tiempo real y un funcionamiento sin alineación para que pueda centrarse en la recopilación de datos.
Carga de muestras flexible
La plataforma flexible admite muestras de hasta 10 kg con movimiento x-y, y la puerta se abre completamente para facilitar la carga de muestras grandes y difíciles, al tiempo que mantiene un tiempo de inactividad de la bomba muy rápido.
Excelente rendimiento de imagen
Gestione fácilmente una amplia gama de aplicaciones, incluidas muestras de aislamiento con funcionamiento a baja tensión y barrido de haz avanzado para garantizar imágenes de alta fidelidad
Varios softwares de aplicación
Gestione aplicaciones avanzadas con la opción de automatización avanzada del sistema, como el software Thermo Scientific Maps™, y personalice el desarrollo del flujo de trabajo con el software Thermo Scientific AutoScript™.
Fácil mantenimiento.
El intercambio de fuentes es fácil y los puede completar cualquier usuario, mientras que el diseño directo se traduce en un alto tiempo de actividad y un servicio rápido cuando se necesita atención.
Hoja de estilo para las especificaciones de la tabla de productos
| Estándar |
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| Resolución del haz de electrones |
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| Cámara |
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| Etapa |
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| Opciones comunes |
|
Style Sheet for Techniques (LONG VERSION) and Media Gallery Tab
Seminario web previa solicitud: Conozca nuestro SEM más reciente
Asista a este seminario web para:
- Descubrir el análisis elemental con un solo clic que mejora la accesibilidad y la productividad con la adquisición de imágenes elementales cuantitativas en tiempo real.
- Disfrutar de la flexibilidad de una cámara de gran tamaño preparada para el futuro, el soporte de muestras de hasta 10 kg y suficientes puertos para alojar muchos accesorios.
- Descubra cómo puede ahorrar tiempo con un bombeo rápido, alineaciones automáticas y una interfaz sencilla.
Color coatings (zinc silicate) incorporating Ba, Ti, S fillers and iron traces imaged with the retractable BSE detector. Axia ChemiSEM provides instant access to the chemical variations of the different fillers. (Acc voltage 20 keV, beam current 3.6 nA)
The instant quantitative elemental mapping provided by Axia ChemiSEM allows to highlight the presence of Al, Mg and Ti contaminants that would have been otherwise unnoticed. (Acc voltage 10 keV, beam current 0.76 nA)
Copper and Nickel coated brass. As Cu and Ni have similar atomic number the compositional information provided by the backscattered electrons detector is not enough to clarify the layers’ distribution. That information, with Axia ChemiSEM is one click away. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.94 nA)
Tungsten carbide (WC-Co) drill bit with a titanium aluminum nitride (TiAlN) coating. The distribution of the different elements is easily provided by the quantitative elemental imaging of Axia ChemiSEM. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.85 nA)
Chrome plated aluminum alloy. The sample has a copper and nickel coating whose difference is not evident as Cu and Ni have similar atomic number, thus the compositional information provided by the backscattered electrons detector is not enough to clarify the layers’ distribution. That information, with Axia ChemiSEM is one click away. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.48 nA)
Facemask: Weft thread of a facemask showing the presence of different particles on it. Their nature and the distribution of the different elements (Al, Ca, Na, Cl, K) is easily recognizable thanks to the instant chemical information provided by Axia ChemiSEM. (Acc voltage 10 keV, beam current 0.39 nA)
Section of a geological sample acquired combining the live quantitative elemental information and the navigation montage feature. The navigation montage allows to collect multiple images over a wide area automatically (in this case 13x13 frames have been acquired). Thanks to the instantaneous elemental information provided by Axia ChemiSEM, the montage shows the chemical variability within the grains over a large thin section and permits the user to identify areas of interest for further analysis.
Polished cement surface highlighting several chemical variations that were not visible with the contribution of the retractable BSE detector only. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.48 nA)
Zirconium oxide (ZrO2) precipitates in different inclusions in steel. Sample courtesy of Laboratory team of Primetals Austria.
Inhomogeneities in the surface of an aluminum alloy manufactured object. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.44 nA)
Calcium carbonates (CaCO3). The image shows three different polymorphs (aragonite, calcite, vaterite) with different morphologies and size distribution. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.44 nA)
Polycristalline alumina (PCA).
Image (left): Acc voltage 2 keV, beam current 45 pA. Image (right); Acc voltage 15 keV, beam current 7.9 pA
Silver on gold nanosheets. High resolution results are possible with Axia ChemiSEM. (Acc voltage 15 keV, beam current 7.9 pA)
A ceramic catalytic converter honeycomb mounted inside the Axia ChemiSEM's chamber, ready to be imaged. No sample preparation or special mounting is required.
Descargue nuestro libro electrónico SEM and EDS Analysis in Industry (Análisis por SEM y EDS en la industria) para obtener más información sobre:
- Cómo la aplicación conjunta de los análisis por SEM y EDS apoya la caracterización de materiales en profundidad para aplicaciones industriales
- Cómo nuestra exclusiva tecnología Thermo Scientific ColorSEM integra estas dos técnicas en un único paquete rápido y fácil de usar, que es accesible y valioso tanto para principiantes como para expertos
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The instant quantitative elemental mapping provided by Axia ChemiSEM allows to highlight the presence of Al, Mg and Ti contaminants that would have been otherwise unnoticed. (Acc voltage 10 keV, beam current 0.76 nA)
Copper and Nickel coated brass. As Cu and Ni have similar atomic number the compositional information provided by the backscattered electrons detector is not enough to clarify the layers’ distribution. That information, with Axia ChemiSEM is one click away. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.94 nA)
Tungsten carbide (WC-Co) drill bit with a titanium aluminum nitride (TiAlN) coating. The distribution of the different elements is easily provided by the quantitative elemental imaging of Axia ChemiSEM. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.85 nA)
Chrome plated aluminum alloy. The sample has a copper and nickel coating whose difference is not evident as Cu and Ni have similar atomic number, thus the compositional information provided by the backscattered electrons detector is not enough to clarify the layers’ distribution. That information, with Axia ChemiSEM is one click away. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.48 nA)
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Polished cement surface highlighting several chemical variations that were not visible with the contribution of the retractable BSE detector only. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.48 nA)
Zirconium oxide (ZrO2) precipitates in different inclusions in steel. Sample courtesy of Laboratory team of Primetals Austria.
Inhomogeneities in the surface of an aluminum alloy manufactured object. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.44 nA)
Calcium carbonates (CaCO3). The image shows three different polymorphs (aragonite, calcite, vaterite) with different morphologies and size distribution. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.44 nA)
Polycristalline alumina (PCA).
Image (left): Acc voltage 2 keV, beam current 45 pA. Image (right); Acc voltage 15 keV, beam current 7.9 pA
Silver on gold nanosheets. High resolution results are possible with Axia ChemiSEM. (Acc voltage 15 keV, beam current 7.9 pA)
A ceramic catalytic converter honeycomb mounted inside the Axia ChemiSEM's chamber, ready to be imaged. No sample preparation or special mounting is required.
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Control de proceso
La industria moderna exige un alto rendimiento con una calidad superior, un equilibrio que se mantiene a través de un control de procesos sólido. Las herramientas SEM y TEM con software de automatización exclusivo proporcionan información rápida y multiescala para la supervisión y la mejora de procesos.
Control de calidad
El control y garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas de EM y espectroscopía para el análisis multiescala y multimodal de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora de procesos.
Investigación sobre materiales fundamentales
Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.
ColorSEM
Mediante la utilización de EDS en tiempo real (espectroscopia de rayos X por dispersión de energía) con cuantificación en tiempo real, la tecnología ColorSEM transforma las imágenes SEM en una técnica de color. Cualquier usuario puede adquirir datos elementales de forma continua para obtener información más completa que nunca.
Adquisición de imágenes de muestras calientes
El estudio de los materiales en condiciones reales suele implicar el trabajo a altas temperaturas. El comportamiento de los materiales cuando se recristalizan, derriten, deforman o reaccionan ante el calor se puede estudiar in situ con la microscopía electrónica de barrido o con las herramientas DualBeam.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Catodoluminiscencia
La catodoluminiscencia (CL) describe la emisión de luz de un material cuando se excita por un haz de electrones. Esta señal, captada por un detector de CL especializado, contiene información sobre la composición de la muestra, defectos de cristal o propiedades fotónicas.
ColorSEM
Mediante la utilización de EDS en tiempo real (espectroscopia de rayos X por dispersión de energía) con cuantificación en tiempo real, la tecnología ColorSEM transforma las imágenes SEM en una técnica de color. Cualquier usuario puede adquirir datos elementales de forma continua para obtener información más completa que nunca.
Adquisición de imágenes de muestras calientes
El estudio de los materiales en condiciones reales suele implicar el trabajo a altas temperaturas. El comportamiento de los materiales cuando se recristalizan, derriten, deforman o reaccionan ante el calor se puede estudiar in situ con la microscopía electrónica de barrido o con las herramientas DualBeam.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Catodoluminiscencia
La catodoluminiscencia (CL) describe la emisión de luz de un material cuando se excita por un haz de electrones. Esta señal, captada por un detector de CL especializado, contiene información sobre la composición de la muestra, defectos de cristal o propiedades fotónicas.
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