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Environmental scanning electron microscope
The Thermo Scientific Prisma E Scanning Electron Microscope (SEM) combines a wide array of imaging and analytical modalities with advanced automation to offer the most complete solution of any instrument in its class. It is ideal for industrial research and development, quality control, and failure analysis applications that require high resolution, sample flexibility and an easy-to-use operator interface. The Prisma E SEM succeeds the highly successful Thermo Scientific Quanta SEM.
ESEM with EDS
The unique combination of accessible all-round performance, a large set of accessories, and the most intuitive elemental analysis with Thermo Scientific ColorSEM make the Prisma E SEM the go-to SEM for micro-scale imaging and analysis in any industry or field.
Elemental information at your fingertips
Live composition-based image coloring for intuitive elemental analysis with optional ChemiSEM Technology and integrated energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS). Speed up your work and obtain the most complete sample information with always-on analysis.
Excellent image quality
Excellent image quality at low kV and low vacuum thanks to flexible vacuum modes, including through-the-lens differential pumping. Simultaneous secondary electron (SE) and backscattered electron (BSE) imaging in every mode of operation.
Minimize sample preparation time
Low vacuum and ESEM capability enable charge-free imaging and analysis of nonconductive and/or hydrated specimens.
In-situ study of materials in their natural state
With the Prisma E SEM's environmental SEM (ESEM) mode, samples can be imaged even if they are hot, dirty, outgassing or wet.
Excellent analytical capabilities
Excellent analytical capabilities with a chamber that allows 3 simultaneous EDS detectors, EDS ports that are 180° opposite, wavelength-dispersive spectroscopy (WDS), coplanar EDS/EBSD and high-quality charge-free EDS and EBSD in low vacuum.
Easy to use
Easy to use, intuitive software with user guidance and undo functionality makes highly effective operation possible for novice users, while enabling experts to do their work faster and with fewer mouse clicks.
Hoja de estilo para las especificaciones de la tabla de productos
Resolution |
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Standard detectors |
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Optional detectors |
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ChemiSEM Technology (optional) |
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Stage bias (beam deceleration, optional) |
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Low vacuum mode |
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Stage |
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Standard sample holder |
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Chamber |
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In situ accessories (optional) |
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Software options |
|
Style Sheet for Komodo Tabs
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Goldrush. This mixture of particles contains gold (large area on the left), copper (smallest particles) and a Al/Si/Mg alloy (the bigger particles). The mixture is heated to higher and higher temperatures. At a certain point, gold starts diffusing across the metal surfaces, thereby completely changing their appearance. The experiment is performed using the High Vacuum Heating Stage mounted on a Prisma E SEM.
Ceramic-glass composite imaged with the Prisma E SEM.
Ceramic-glass composite imaged with the Prisma E SEM.
Chlorite-lined pores imaged with the Prisma E SEM.
CRT phosphors imaged with the Prisma E SEM.
Dyneema fibers imaged with the Prisma E SEM.
Malachite imaged with the Prisma E SEM.
Lithium ion battery cathode imaged with the Prisma E SEM.
Fiber-reinforced polymer imaged at 15 kV and 70 Pa chamber pressure.
An inclusion in steel imaged with the Prisma E SEM.
Slag sample imaged with the Prisma E SEM.
Optical navigation camera image showing the multi-purpose sample holder. In the Prisma E SEM user interface, point-and-click navigation brings you straight to the region of interest.
Pollen is imaged in a hydrated state using the Prisma E SEM environmental mode (ESEM).
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Goldrush. This mixture of particles contains gold (large area on the left), copper (smallest particles) and a Al/Si/Mg alloy (the bigger particles). The mixture is heated to higher and higher temperatures. At a certain point, gold starts diffusing across the metal surfaces, thereby completely changing their appearance. The experiment is performed using the High Vacuum Heating Stage mounted on a Prisma E SEM.
Ceramic-glass composite imaged with the Prisma E SEM.
Ceramic-glass composite imaged with the Prisma E SEM.
Chlorite-lined pores imaged with the Prisma E SEM.
CRT phosphors imaged with the Prisma E SEM.
Dyneema fibers imaged with the Prisma E SEM.
Malachite imaged with the Prisma E SEM.
Lithium ion battery cathode imaged with the Prisma E SEM.
Fiber-reinforced polymer imaged at 15 kV and 70 Pa chamber pressure.
An inclusion in steel imaged with the Prisma E SEM.
Slag sample imaged with the Prisma E SEM.
Optical navigation camera image showing the multi-purpose sample holder. In the Prisma E SEM user interface, point-and-click navigation brings you straight to the region of interest.
Pollen is imaged in a hydrated state using the Prisma E SEM environmental mode (ESEM).
Control de proceso
La industria moderna exige un alto rendimiento con una calidad superior, un equilibrio que se mantiene a través de un control de procesos sólido. Las herramientas SEM y TEM con software de automatización exclusivo proporcionan información rápida y multiescala para la supervisión y la mejora de procesos.
Control de calidad
El control y garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas de EM y espectroscopía para el análisis multiescala y multimodal de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora de procesos.
Investigación sobre materiales fundamentales
Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.
Desarrollo y trazabilidad de semiconductores
Microscopía electrónica avanzada, haz de iones enfocado y técnicas analíticas asociadas para identificar soluciones viables y métodos de diseño para la fabricación de dispositivos semiconductores de alto rendimiento.
Metrología y rampa de producción
Ofrecemos capacidades analíticas avanzadas para el análisis de defectos, metrología y control de procesos, diseñadas para ayudar a aumentar la productividad y mejorar el rendimiento en una amplia gama de aplicaciones y dispositivos semiconductores.
Análisis de fallos de semiconductores
Las estructuras de dispositivos semiconductores cada vez más complejas dan lugar a que existan más ubicaciones en las que se oculten los defectos inducidos por fallos. Nuestros flujos de trabajo de última generación le ayudarán a localizar y caracterizar los sutiles problemas eléctricos que afectan a la producción, al rendimiento y a la fiabilidad.
Caracterización física y química
La demanda continua de los consumidores impulsa la creación de dispositivos electrónicos más pequeños, más rápidos y más baratos. Su producción se basa en instrumentos y flujos de trabajo de alta productividad que generan imágenes, analizan y caracterizan una amplia gama de semiconductores y dispositivos de visualización.
ColorSEM
Mediante la utilización de EDS en tiempo real (espectroscopia de rayos X por dispersión de energía) con cuantificación en tiempo real, la tecnología ColorSEM transforma las imágenes SEM en una técnica de color. Cualquier usuario puede adquirir datos elementales de forma continua para obtener información más completa que nunca.
Adquisición de imágenes de muestras calientes
El estudio de los materiales en condiciones reales suele implicar el trabajo a altas temperaturas. El comportamiento de los materiales cuando se recristalizan, derriten, deforman o reaccionan ante el calor se puede estudiar in situ con la microscopía electrónica de barrido o con las herramientas DualBeam.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
SEM ambiental (ESEM)
El SEM ambiental permite que se adquieran imágenes de los materiales en su estado nativo. Esto es ideal para investigadores académicos e industriales que necesitan probar y analizar muestras húmedas, sucias, reactivas, con liberación de gases o que no son compatibles con el vacío.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Catodoluminiscencia
La catodoluminiscencia (CL) describe la emisión de luz de un material cuando se excita por un haz de electrones. Esta señal, captada por un detector de CL especializado, contiene información sobre la composición de la muestra, defectos de cristal o propiedades fotónicas.
Adquisición de imágenes y análisis de semiconductores
Thermo Fisher Scientific ofrece microscopios electrónicos de barrido para todas las funciones de un laboratorio de semiconductores, desde tareas generales de adquisición de imágenes hasta técnicas avanzadas de análisis de fallos que requieren mediciones precisas de contraste de tensión.
ColorSEM
Mediante la utilización de EDS en tiempo real (espectroscopia de rayos X por dispersión de energía) con cuantificación en tiempo real, la tecnología ColorSEM transforma las imágenes SEM en una técnica de color. Cualquier usuario puede adquirir datos elementales de forma continua para obtener información más completa que nunca.
Adquisición de imágenes de muestras calientes
El estudio de los materiales en condiciones reales suele implicar el trabajo a altas temperaturas. El comportamiento de los materiales cuando se recristalizan, derriten, deforman o reaccionan ante el calor se puede estudiar in situ con la microscopía electrónica de barrido o con las herramientas DualBeam.
SEM ambiental (ESEM)
El SEM ambiental permite que se adquieran imágenes de los materiales en su estado nativo. Esto es ideal para investigadores académicos e industriales que necesitan probar y analizar muestras húmedas, sucias, reactivas, con liberación de gases o que no son compatibles con el vacío.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Catodoluminiscencia
La catodoluminiscencia (CL) describe la emisión de luz de un material cuando se excita por un haz de electrones. Esta señal, captada por un detector de CL especializado, contiene información sobre la composición de la muestra, defectos de cristal o propiedades fotónicas.
Adquisición de imágenes y análisis de semiconductores
Thermo Fisher Scientific ofrece microscopios electrónicos de barrido para todas las funciones de un laboratorio de semiconductores, desde tareas generales de adquisición de imágenes hasta técnicas avanzadas de análisis de fallos que requieren mediciones precisas de contraste de tensión.
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Servicios de microscopía electrónica
Para garantizar un rendimiento óptimo del sistema, le proporcionamos acceso a una red de expertos de primer nivel en servicios de campo, asistencia técnica y piezas de repuesto certificadas.
Recursos y asistencia para la microscopía electrónica
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Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards