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Thermo Scientific NEXS Software goes far beyond a CAD viewer and stage driver by facilitating fault isolation, failure analysis, sample preparation and circuit edit. NEXS Software enables diverse workflows by providing CAD connectivity with Thermo Scientific analytical equipment.
NEXS Software directly reads/displays the mask data and drives the system stage accurately to fault or edit locations.
- Reads/displays GDS2 and OASIS mask data
- Creates cache database for faster re-load, rendering and tracing (GDS only)
- Connects to most Thermo Scientific tools used for EFA, PFA and Circuit Edit space
- Supports overlaying CAD on microscope image
- Auto-syncs position/magnification between NEXS and Circuit Edit system for a more seamless user experience
- Annotates layout, navigates by text location point, and receives marked hotspot locations
- Reads popular box, text and net trace formats (.vl, .dl, .hl)
- Traces/highlights nets and cells
- Reads software diagnostic callouts and scan chains from various formats (.vl, .sigps.txt, query.txt)
Technical specifications
- Windows® 10 – Runs on Thermo Scientific support PC (SPC)
- 64-bit Linux OS – Can run on Linux server farm, network or local server
- RAM and hard drive requirements vary with CAD database sizes
Database file formats supported
- GDS2
- Gnuzip compressed GDS2 (.gz) for Linux only
- OASIS
Thermo Scientific equipment supported
- PFA: Helios, Scios, Apreo, Prisma, Verios, Quattro
- EFA: Meridian, WaferScan, ELITE, nProber
- Circuit Edit: Centrios, Taipan, OptiFIB IV, V400 ACE
Desarrollo y trazabilidad de semiconductores
Microscopía electrónica avanzada, haz de iones enfocado y técnicas analíticas asociadas para identificar soluciones viables y métodos de diseño para la fabricación de dispositivos semiconductores de alto rendimiento.
Análisis de fallos de semiconductores
Las estructuras de dispositivos semiconductores cada vez más complejas dan lugar a que existan más ubicaciones en las que se oculten los defectos inducidos por fallos. Nuestros flujos de trabajo de última generación le ayudarán a localizar y caracterizar los sutiles problemas eléctricos que afectan a la producción, al rendimiento y a la fiabilidad.
Style Sheet for Komodo Tabs
Aislamiento de fallo óptico
Los diseños cada vez más complejos complican el aislamiento de fallos y defectos en la fabricación de semiconductores. Las técnicas de aislamiento óptico de fallos le permiten analizar el rendimiento de los dispositivos activos eléctricamente para localizar defectos críticos que causan fallos en el dispositivo.
Edición de circuito
Las soluciones exclusivas y avanzadas de edición de circuitos y creación de prototipos, que combinan nuevos sistemas de suministro de gas con una amplia gama de productos químicos y tecnología de haz de iones focalizada, ofrecen un control y una precisión sin precedentes para el desarrollo de dispositivos semiconductores.
Aislamiento de fallo óptico
Los diseños cada vez más complejos complican el aislamiento de fallos y defectos en la fabricación de semiconductores. Las técnicas de aislamiento óptico de fallos le permiten analizar el rendimiento de los dispositivos activos eléctricamente para localizar defectos críticos que causan fallos en el dispositivo.
Edición de circuito
Las soluciones exclusivas y avanzadas de edición de circuitos y creación de prototipos, que combinan nuevos sistemas de suministro de gas con una amplia gama de productos químicos y tecnología de haz de iones focalizada, ofrecen un control y una precisión sin precedentes para el desarrollo de dispositivos semiconductores.
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Servicios de microscopía electrónica
Para garantizar un rendimiento óptimo del sistema, le proporcionamos acceso a una red de expertos de primer nivel en servicios de campo, asistencia técnica y piezas de repuesto certificadas.
Recursos y asistencia para la microscopía electrónica
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Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards