Cathodoluminescence

Cathodoluminescence (CL) is the process by which a material emits characteristic photons of visible light when struck by electrons (such as those produced by the source in an electron microscope). Researchers in geology, optoelectronics, failure analysis, ceramics, glass and many other fields use CL detection as a unique way to highlight sample properties that are not visible with conventional electron or X-ray imaging techniques. By correlating CL data to topography, crystallography and elemental information, a better understanding of photonic properties, composition, material quality or sample history can be obtained.

CL detector

A range of third-party CL accessories exists for the Thermo Scientific SEM and DualBeam product lines. These are usually specialized in spectral CL detection, i.e. the collection of a full spectrum for each pixel of the image (also called hyperspectral imaging). While this provides a great deal of information, most CL solutions suffer from alignment and ease-of-use issues, limitations in working distance and field of view, and/or cannot perform simultaneous detection of X-ray/backscattered electron signal.

The Thermo Scientific RGB Cathodoluminescence Detector offers real-color CL imaging, without any of the beforementioned limitations, integrated into the instrument user interface. It features a flat design that slides between the sample and the final lens, much like a retractable backscatter detector. Unlike conventional mirror-based solutions, the large detector area eliminates the need for any optical alignment and does not limit the field of view. Additionally, simultaneous detection of secondary electrons (SE), backscatter electrons (BSE) or X-rays is possible, enabling correlation of CL data with SE, BSE and energy-dispersive x-ray spectroscopy (EDS) in only a single scan of the electron beam.

Integrated into the user interface of the microscope, the RGB Cathodoluminescence Detector makes color images available as soon as the beam is scanning. This makes the detector a unique asset to multi-user labs requiring CL data and correlation with worry-free operation.

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Applications

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Control de calidad
 

El control y garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas de EM y espectroscopía para el análisis multiescala y multimodal de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora de procesos.

 

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Investigación sobre materiales fundamentales

Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.

 


Samples


Investigación geológica

Las ciencias geológicas están basadas en la observación uniforme y precisa de múltiples escalas de características dentro de las muestras de roca. SEM-EDS, combinado con software de automatización, permite el análisis directo a gran escala de la composición de la textura y los minerales para la investigación de la petrología y la mineralogía.

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Gas y petróleo

A medida que la demanda de petróleo y gas continúa, existe la necesidad constante de una extracción eficiente y eficaz de hidrocarburos. Thermo Fisher Scientific ofrece una amplia gama de soluciones de microscopía y espectroscopía para una gran variedad de aplicaciones de la ciencia del petróleo.

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Pruebas de materiales para automóviles

Todos los componentes de un vehículo moderno están diseñados para garantizar la máxima seguridad, eficacia y rendimiento. La caracterización detallada de materiales de automoción con microscopía electrónica y espectroscopía informa sobre decisiones cruciales sobre procesos, mejoras de productos y nuevos materiales.

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Products

Hoja de estilo para tarjetas originales instrumentos

Helios Hydra DualBeam

  • 4 especies de iones rápidos conmutables (Xe, Ar, O, N) para el procesamiento optimizado de PFIB de la gama más amplia de materiales
  • Preparación de muestras de TEM sin GA
  • Adquisición de imágenes SEM de alta resolución

Helios 5 DualBeam

  • Preparación de muestras de TEM ultrafina, de alta calidad y completamente automatizada
  • Subsuperficie de alto rendimiento, alta resolución y caracterización en 3D
  • Capacidades de rápida creación de prototipos a nanoescala

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Preparación de muestras STEM y TEM sin galio
  • Subsuperficie multimodal e información 3D
  • Columna FIB con plasma xenón de 2,5 μA de última generación

Scios 2 DualBeam

  • Soporte completo de muestras magnéticas y no conductoras
  • Subsuperficie de alto rendimiento y caracterización en 3D
  • Facilidad de uso y capacidades de automatización avanzadas

Axia ChemiSEM

  • Mapeo elemental cuantitativo en directo
  • Adquisición de imágenes de microscopía electrónica de barrido de alta fidelidad
  • Flexible y fácil de usar, incluso para usuarios principiantes
  • Fácil mantenimiento.

Apreo 2 SEM

  • SEM de alto rendimiento para resolución de subnanómetro o nanómetro completo
  • Detector de retrodispersión de T1 incorporado en la columna para contraste de materiales sensibles de velocidad TV
  • Excelente rendimiento en distancias de trabajo largas (10 mm)

Prisma E SEM

  • SEM de nivel básico con excelente calidad de imagen
  • Rápida y sencilla navegación y carga de muestras para varias muestras
  • Compatible con una amplia gama de materiales gracias a los exclusivos modos de vacío

Verios 5 XHR SEM

  • SEM monocroma para resolución de subnanómetros sobre el rango de energía completo de 1 keV a 30 keV
  • Fácil acceso a la energía de recepción de haz, a un nivel tan bajo como 20 eV
  • Excelente estabilidad con fase piezoeléctrica como estándar

Quattro ESEM

  • Tecnología de obtención de imágenes por microscopía electrónica de barrido (SEM) con cañón de emisión de campo (FEG) de alta resolución con versatilidad absoluta y capacidad medioambiental única (ESEM)
  • Consulte la información completa de todas las muestras con obtención de imágenes SE y BSE en cada modo de funcionamiento

Software Maps

  • Adquiera imágenes de alta resolución en grandes áreas
  • Encuentre fácilmente áreas de interés
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