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Modern cutting-edge metals are increasingly engineered at the nanoscale to enhance their durability, reliability, and cost. Even traditional processes are now augmented with microscopic inspection to determine the resulting material’s elemental and structural composition.
In particular, the effective production of metals requires precise control of inclusions and precipitates. Depending on their consistency and distribution, these can either strengthen the material or act as contaminants, greatly impacting quality and lifetime. These microscopic properties can include;
Historically, researchers have used optical microscopy to rate the size and number of inclusions, but this method does not provide any elemental information. Even optical emission spectroscopy, which can determine the elemental ratios of inclusions, does not accurately characterize the shape and composition of individual inclusions. Electron microscopy techniques have also been used for metal analysis, with scanning electron microscopy (SEM) capable of visualizing larger oxide inclusions, whereas transmission electron microscopy (TEM) is generally required to study features smaller than 100 nm. TEM analysis, however, has previously required manual particle counting and analysis, limiting the amount of data that could be collected to several dozen particles per day.
Thermo Fisher Scientific provides a range of electron microscopy solutions that make metal analysis not only more informative but also far more rapid. Thanks to our unique automation capabilities, a thorough overview of the elemental and structural composition of hundreds, if not thousands, of precipitates is possible in a manner of hours, as compared to the few dozen that would be found in a day of manual analysis. Not only is statistical information on the bulk available, but individual precipitates can also be seen with high detail, providing a multi-scale overview of the metal.
Our robust, automated instruments can perform a variety of critical tasks including:
Phenom ParticleX Steel Desktop SEM inclusion analysis short demonstration.
ParticleX Steel Desktop SEM - Workflow introduction.
Axia ChemiSEM provides high-quality imaging of steel samples to aid in the production of high-value steels.
Axia ChemiSEM identifies composition on-the-fly
HSLA steel lamella characterization of Nb precipitates by Automated Particle Workflow (APW).
3D EDS TEM tomography of precipitates in an AlMgSi alloy.
High resolution APW showing complex features in additively manufactured stainless steel.
Maps and Avizo2D recordings (left and right) running side by side during an acquisition.
Webinar: Nanoparticle Characterization by Automated TEM.
Webinar: Correlative Microscopy for Aerospace and Defense Industries
Documents
Hao Wu, Guohua Fan, Lin Geng, Xiping Cui, Meng Huang
Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow
Behnam Amin-Ahmadi,⁎, Joseph G. Pauza, Ali Shamimi, Tom W. Duerig, Ronald D. Noebe, Aaron P. Stebner
Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow
Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow
“Formation of White Etching Areas in SAE 52100 Bearing Steel under Rolling Contact Fatigue − Influence of Diffusible Hydrogen”
M. Oezel, A. Schwedt, T. Janitzky, R. Kelley, C.Bouchet-Marquis, L. Pullan, C. Broeckmann, J. Mayer
Wear, Volumes 414-415, November 2018, Pages 352-365.
“Industrial Gear Oils: Tribological Performance and Subsurface Changes”
Aduragbemi Adebogun, Robert Hudson, Angela Breakspear, Chris Warrens, Ali Gholinia, Allan Matthews, Philip Withers Tribology Letters (2018) 66:65.
“Insight into atmospheric pitting corrosion of carbon steel via a dual-beam FIB/SEM system associated with high-resolution TEM”
Corrosion Science 152 (2019) 226–233.
“Micro-tensile strength of a welded turbine disc superalloy”
K.M. Oluwasegun, C.Cooper, Y.L.Chiu, I.P.Jones, H.Y.Li, G.Baxter
Materials Science & Engineering A 596 (2014) 229–235.
“Application of Plasma FIB to Analyze a Single Oxide Inclusion in Steel”
D. Kumar, N.T. Nuhfer, M.E. Ferreira and P.C. Pistorius
Metallurgical and Materials Transactions B, Volume 50B, June 2019, Pages 1124-1127.
Phenom ParticleX Steel Desktop SEM inclusion analysis short demonstration.
ParticleX Steel Desktop SEM - Workflow introduction.
Axia ChemiSEM provides high-quality imaging of steel samples to aid in the production of high-value steels.
Axia ChemiSEM identifies composition on-the-fly
HSLA steel lamella characterization of Nb precipitates by Automated Particle Workflow (APW).
3D EDS TEM tomography of precipitates in an AlMgSi alloy.
High resolution APW showing complex features in additively manufactured stainless steel.
Maps and Avizo2D recordings (left and right) running side by side during an acquisition.
Webinar: Nanoparticle Characterization by Automated TEM.
Webinar: Correlative Microscopy for Aerospace and Defense Industries
Documents
Hao Wu, Guohua Fan, Lin Geng, Xiping Cui, Meng Huang
Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow
Behnam Amin-Ahmadi,⁎, Joseph G. Pauza, Ali Shamimi, Tom W. Duerig, Ronald D. Noebe, Aaron P. Stebner
Yu Sun, Rainer J. Hebert, Mark Aindow
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“Formation of White Etching Areas in SAE 52100 Bearing Steel under Rolling Contact Fatigue − Influence of Diffusible Hydrogen”
M. Oezel, A. Schwedt, T. Janitzky, R. Kelley, C.Bouchet-Marquis, L. Pullan, C. Broeckmann, J. Mayer
Wear, Volumes 414-415, November 2018, Pages 352-365.
“Industrial Gear Oils: Tribological Performance and Subsurface Changes”
Aduragbemi Adebogun, Robert Hudson, Angela Breakspear, Chris Warrens, Ali Gholinia, Allan Matthews, Philip Withers Tribology Letters (2018) 66:65.
“Insight into atmospheric pitting corrosion of carbon steel via a dual-beam FIB/SEM system associated with high-resolution TEM”
Corrosion Science 152 (2019) 226–233.
“Micro-tensile strength of a welded turbine disc superalloy”
K.M. Oluwasegun, C.Cooper, Y.L.Chiu, I.P.Jones, H.Y.Li, G.Baxter
Materials Science & Engineering A 596 (2014) 229–235.
“Application of Plasma FIB to Analyze a Single Oxide Inclusion in Steel”
D. Kumar, N.T. Nuhfer, M.E. Ferreira and P.C. Pistorius
Metallurgical and Materials Transactions B, Volume 50B, June 2019, Pages 1124-1127.
La industria moderna exige un alto rendimiento con una calidad superior, un equilibrio que se mantiene a través de un control de procesos sólido. Las herramientas SEM y TEM con software de automatización exclusivo proporcionan información rápida y multiescala para la supervisión y la mejora de procesos.
El control y garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas de EM y espectroscopía para el análisis multiescala y multimodal de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora de procesos.
Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.
Más que nunca, la fabricación moderna necesita componentes fiables y de calidad. Con la microscopía electrónica de barrido, el análisis de limpieza de las piezas se puede llevar a cabo internamente, lo que le proporciona una amplia gama de datos analíticos y acorta su ciclo de producción.
Los microscopios DualBeam permiten la preparación de muestras ultrafinas de alta calidad para el análisis (S)TEM. Gracias a la automatización avanzada, los usuarios con cualquier nivel de experiencia pueden obtener resultados de nivel experto para una amplia gama de materiales.
El desarrollo de materiales suele requerir caracterización en 3D en varias escalas. Los instrumentos DualBeam permiten el corte en secciones en serie de grandes volúmenes y la posterior adquisición de imágenes SEM a escala de nanómetro, las cuales se pueden procesar en reconstrucciones 3D de la muestra de alta calidad.
La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
La investigación de materiales modernos depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización en 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con EM en 3D y espectroscopia de rayos X dispersiva.
Mediante la utilización de EDS en tiempo real (espectroscopia de rayos X por dispersión de energía) con cuantificación en tiempo real, la tecnología ColorSEM transforma las imágenes SEM en una técnica de color. Cualquier usuario puede adquirir datos elementales de forma continua para obtener información más completa que nunca.
El corte transversal proporciona una visión adicional, ya que descubre información de la subsuperficie. Los instrumentos DualBeam tienen columnas FIB para poder realizar el corte transversal con alta calidad. Con la automatización, se puede realizar el procesamiento de muestras de alto rendimiento sin supervisión.
La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento del grano y la transformación de fases durante el calentamiento, refrigeración y humectación.
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
La espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) permite el análisis de superficie, proporcionando la composición elemental, así como el estado químico y electrónico de los 10 nm principales de un material. Con la realización de perfiles de profundidad, el análisis XPS se extiende a la visión de composición de las capas.
El flujo de trabajo de nanopartículas automatizado (APW) es un flujo de trabajo de microscopio electrónico de transmisión para el análisis de nanopartículas que proporciona adquisición de imágenes de área extensa y de alta resolución, además de adquisición de datos en nanoescala, todo ello con un procesamiento sobre la marcha.
Los microscopios DualBeam permiten la preparación de muestras ultrafinas de alta calidad para el análisis (S)TEM. Gracias a la automatización avanzada, los usuarios con cualquier nivel de experiencia pueden obtener resultados de nivel experto para una amplia gama de materiales.
El desarrollo de materiales suele requerir caracterización en 3D en varias escalas. Los instrumentos DualBeam permiten el corte en secciones en serie de grandes volúmenes y la posterior adquisición de imágenes SEM a escala de nanómetro, las cuales se pueden procesar en reconstrucciones 3D de la muestra de alta calidad.
La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
La investigación de materiales modernos depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización en 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con EM en 3D y espectroscopia de rayos X dispersiva.
Mediante la utilización de EDS en tiempo real (espectroscopia de rayos X por dispersión de energía) con cuantificación en tiempo real, la tecnología ColorSEM transforma las imágenes SEM en una técnica de color. Cualquier usuario puede adquirir datos elementales de forma continua para obtener información más completa que nunca.
El corte transversal proporciona una visión adicional, ya que descubre información de la subsuperficie. Los instrumentos DualBeam tienen columnas FIB para poder realizar el corte transversal con alta calidad. Con la automatización, se puede realizar el procesamiento de muestras de alto rendimiento sin supervisión.
La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento del grano y la transformación de fases durante el calentamiento, refrigeración y humectación.
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
La espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) permite el análisis de superficie, proporcionando la composición elemental, así como el estado químico y electrónico de los 10 nm principales de un material. Con la realización de perfiles de profundidad, el análisis XPS se extiende a la visión de composición de las capas.
El flujo de trabajo de nanopartículas automatizado (APW) es un flujo de trabajo de microscopio electrónico de transmisión para el análisis de nanopartículas que proporciona adquisición de imágenes de área extensa y de alta resolución, además de adquisición de datos en nanoescala, todo ello con un procesamiento sobre la marcha.
Para garantizar un rendimiento óptimo del sistema, le proporcionamos acceso a una red de expertos de primer nivel en servicios de campo, asistencia técnica y piezas de repuesto certificadas.