La preparación de muestras para el análisis de microscopía electrónica de barrido/transmisión (S/TEM) en los laboratorios de caracterización de materiales se considera una de las tareas más importantes y difíciles y que requiere mucho tiempo. Los métodos convencionales utilizados para preparar muestras ultrafinas necesarias para S/TEM son lentos, por lo general requieren muchas horas o incluso días de esfuerzo por parte de personal altamente cualificado. Esto se complica aún más por la variedad de diferentes materiales y la necesidad de información específica de la ubicación.

Thermo Fisher Scientific posee más de 25 años de experiencia en la tecnología DualBeam (FIB-SEM, haz de iones enfocado – microscopía electrónica de barrido) para poder ofrecerle herramientas de preparación de muestras de vanguardia accesibles, sólidas y fiables. El proceso comienza con una columna con gran estabilidad y una fuente de alta calidad, lo que permite proporcionar un rendimiento excelente, incluso a bajas tensiones. El pulido final de la laminilla con tensiones de tan solo 500 V reduce considerablemente los daños, incluso en materiales sensibles al haz, y ofrece una calidad de muestra sin igual. Para la preparación de muestras sin Galio, Thermo Fisher Scientific cuenta con una amplia gama de productos de FIB de plasma, incluido el Thermo Scientific Helios Hydra DualBeam, que ofrece una rápida conmutación entre cuatro tipos de haces de iones: Xenón, Argón, Oxígeno y Nitrógeno.

Además, la tecnología SmartAlign de Thermo Scientific elimina la necesidad de cualquier alineación de la columna de electrones por parte del usuario, lo que no solo minimiza el mantenimiento, sino que también aumenta la productividad. Las herramientas de ajuste automático, integradas en la interfaz de usuario, aumentan aún más su capacidad para obtener imágenes de alta calidad, ajustando la imagen hasta 10 veces más rápido que la alineación manual estándar.

El hardware de calidad está respaldado por un conjunto de soluciones de software que mejoran y simplifican la preparación de muestras. El software Thermo Scientific AutoTEM 5 permite una preparación  in situ  completamente automatizada de la laminilla y el dispositivo de extracción, permitiendo incluso a los usuarios inexpertos producir muestras de calidad. Esto amplía enormemente la accesibilidad del instrumento, aumentando así el rendimiento, ya que la preparación de las muestras ya no depende del funcionamiento experto. Además, la automatización total permite que el tiempo del sistema se utilice al máximo con un funcionamiento sin supervisión durante la noche, lo que mejora enormemente la productividad.

Preparación de muestras S/TEM con instrumentos DualBeam

Sample preparation with a FIB SEM tool, showing the protective layer.

1. Depósito de haz de iones y electrón de protección.

Sample preparation with a FIB SEM tool, showing trenching.

2. Trabajo sobre el terreno.

Sample preparation with a FIB SEM tool, showing undercutting and lamella lift out.

3. Corte y extracción de laminillas.

Sample preparation with a FIB SEM tool, showing sample thinning.

4. Reducción del tamaño de la muestra.

Sample preparation with a FIB SEM tool, showing a low energy final polish.

5. Pulido final de bajo consumo.

Presentación de Helios 5 DualBeam

Presentación de Helios 5 DualBeam

Descubra cómo las funciones avanzadas de automatización, la mayor solidez y la mejora de la estabilidad del software Helios 5 y AutoTEM 5 pueden aumentar significativamente el rendimiento de la preparación de muestras al permitir un funcionamiento sin supervisión e incluso durante la noche.

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Presentación de Helios 5 DualBeam

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Aplicaciones

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Control de proceso
 

La industria moderna exige un alto rendimiento con una calidad superior, un equilibrio que se mantiene a través de un control de procesos sólido. Las herramientas SEM y TEM con software de automatización exclusivo proporcionan información rápida y multiescala para la supervisión y la mejora de procesos.

 

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Control de calidad
 

El control y garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas de EM y espectroscopía para el análisis multiescala y multimodal de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora de procesos.

 

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Investigación sobre materiales fundamentales

Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.

 

Muestras


Investigación de baterías

El desarrollo de baterías se realiza mediante análisis multiescala con microCT, SEM y TEM, espectroscopía Raman, XPS y visualización y análisis 3D digital. Aprenda cómo este enfoque proporciona la información estructural y química necesaria para crear mejores baterías.

Más información ›


Investigación sobre polímeros

La microestructura polimérica determina las características y el rendimiento del material a granel. La microscopía electrónica permite un análisis exhaustivo en microescala de la morfología y composición de los polímeros para aplicaciones de control de calidad e I+D.

Más información ›


Investigación sobre metales

La producción eficaz de metales requiere un control preciso de las inclusiones y precipitados. Nuestras herramientas automatizadas pueden realizar varias tareas cruciales para el análisis de metales, incluyendo el recuento de nanopartículas, el análisis químico EDS y la preparación de muestras de TEM.

Más información ›


Investigación sobre catálisis

Los catalizadores son cruciales para la mayoría de los procesos industriales modernos. Su eficacia depende de la composición microscópica y la morfología de las partículas catalíticas; EM con EDS es ideal para estudiar estas propiedades.

Más información ›


Productos

Hoja de estilo para tarjetas originales instrumentos

Spectra 300

  • Información química y estructural de máxima resolución a nivel atómico
  • Intervalo de alta tensión flexible de 30-300 kV
  • Sistema de condensador de tres lentes

Spectra 200

  • Adquisición de imágenes de alta resolución y contraste para tensiones de aceleración de 30-200 kV
  • Lente de objetivo simétrico S-TWIN/X-TWIN con diseño de pieza polar de holgura amplia de 5,4 mm
  • Resolución de imágenes STEM subangstrom de 60 kV-200 kV

Talos F200i TEM

  • Imágenes S/TEM y EDS precisas y de alta calidad
  • Disponible con tecnología EDS dual
  • Capacidades óptimas in situ
  • Amplio campo de adquisición de imágenes a grande a alta velocidad

Talos F200S TEM

  • Datos precisos de composición química
  • Adquisición de imágenes de alto rendimiento y análisis de composición preciso para microscopía dinámica
  • Cuenta con software Velox para una adquisición y análisis rápidos y fáciles de datos multimodales

Talos F200X TEM

  • Alta resolución/rendimiento en adquisición de imágenes STEM y análisis químicos
  • Añade soportes de muestras in situ para experimentos dinámicos
  • Cuenta con software Velox para una adquisición y análisis rápidos y fáciles de datos multimodales

Talos F200C TEM

  • Análisis EDS flexible que revela información química
  • Adquisición de imágenes TEM y STEM de alto contraste y alta calidad
  • La cámara Ceta de 16 MP con sensor CMOS proporciona un amplio campo de visión y una rápida velocidad de lectura

Talos L120C TEM

  • Mayor estabilidad
  • Cámara Ceta CMOS 4k × 4K
  • Rango de aumento TEM entre 25 y 650 kX
  • Análisis EDS flexible que revela información química

Helios Hydra DualBeam

  • 4 especies de iones rápidos conmutables (Xe, Ar, O, N) para el procesamiento optimizado de PFIB de la gama más amplia de materiales
  • Preparación de muestras de TEM sin GA
  • Adquisición de imágenes SEM de alta resolución

Helios 5 DualBeam

  • Preparación de muestras de TEM ultrafina, de alta calidad y completamente automatizada
  • Subsuperficie de alto rendimiento, alta resolución y caracterización en 3D
  • Capacidades de rápida creación de prototipos a nanoescala

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Preparación de muestras STEM y TEM sin galio
  • Subsuperficie multimodal e información 3D
  • Columna FIB con plasma xenón de 2,5 μA de última generación

Sistema Helios 5 Laser PFIB

  • Secciones cruzadas rápidas a escala milimétrica
  • Subsuperficie profunda relevante estadísticamente y análisis de datos 3D
  • Comparte todas las capacidades de la plataforma Helios 5 PFIB

Scios 2 DualBeam

  • Soporte completo de muestras magnéticas y no conductoras
  • Subsuperficie de alto rendimiento y caracterización en 3D
  • Facilidad de uso y capacidades de automatización avanzadas

SEM de escritorio de acero Phenom ParticleX

  • SEM y EDS integrados
  • Facilidad de uso
  • Elementos de submicrómetro

μPolisher

  • Potencial para permitir un gran número de aplicaciones novedosas e inexploradas
  • Fresado de muy baja energía
  • Tamaño de punto pequeño para un tratamiento preciso de la superficie local

μHeater

  • Solución de calentamiento ultrarrápido para adquisición de imágenes de alta resolución in situ
  • Totalmente integrada
  • Temperaturas de hasta 1200 °C

AutoTEM 5

  • Preparación de muestras S/TEM in situ totalmente automatizada
  • Compatible con geometría invertida, plana y "top-down" (arriba-abajo)
  • Flujo de trabajo altamente configurable
  • Interfaz de usuario intuitiva, fácil de utilizar
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Servicios de microscopía electrónica para
la ciencia de materiales

Para garantizar un rendimiento óptimo del sistema, le proporcionamos acceso a una red de expertos de primer nivel en servicios de campo, asistencia técnica y piezas de repuesto certificadas.