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À medida que a complexidade dos processos industriais aumenta, também aumenta a necessidade de análises mais rigorosas e de alta qualidade para garantir que os produtos atendam a todos os padrões de qualidade e confiabilidade. A microscopia eletrônica de varredura (SEM) se tornou uma ferramenta comum para pesquisa e desenvolvimento modernos, bem como para análise de falhas e solução de problemas, porque fornece informações detalhadas (em escala nanométrica) sobre a estrutura da superfície das amostras. O SEM é frequentemente usado em conjunto com a espectroscopia de raios-X de energia dispersiva (EDS), que adiciona informações elementares aos dados de imagem de superfície.
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