트랜스미션 라인 펄스 검사 | Celestron

Thermo Scientific Celestron transmission line pulse/very fast transmission line pulse (TLP/VF-TLP) 검사 시스템은 웨이퍼 및/또는 패키지 수준에서 검사를 위해 표준 TLP 및 VF-TLP 모두에 대해 구성할 수 있습니다. 프로브 옵션을 사용하여 스트레스 상태에 있는 핀/패드가 아닌 핀 또는 패드의 신호를 측정할 수도 있습니다. Celestron 시스템 소프트웨어는 업계에서 가장 종합적인 소프트웨어이며 시스템 설정 및 device under test (DUT)에 연결하는 데 도움이 되는 그래픽을 사용합니다. 검사 작업 중에 소프트웨어는 기록된 TLP 펄스 전압과 전류 파형, 컴파일된 Pulsed I-V 커브, 누설 전류 측정치, DC I-V 커브 트레이스 데이터를 보여줍니다. 작업자는 검사 전압(응력파)의 범위, 펄스 극성, 누설 및 커브 트레이스 파라미터를 선택할 수 있습니다. 데이터가 수집된 후 TLP 펄스 내에서 측정 구간의 위치와 지속시간도 선택하고 수정할 수 있습니다.

주요 특징

유연한 검사 기능

Thermo Scientific Celestron TLP/VF-TLP 검사 시스템은 웨이퍼 수준 및/또는 패키지 수준에서 검사를 위한 표준 TLP 및 VF-TLP에 대해 구성할 수 있습니다. 프로브 옵션을 사용하여 스트레스 상태에 있는 핀/패드가 아닌 핀 또는 패드의 신호를 측정할 수도 있습니다.

탁월한 검사 제어

작업자는 검사 전압(응력파)의 범위, 펄스 극성, 누설 및 커브 트레이스 파라미터를 선택할 수 있습니다. 데이터가 수집된 후 TLP 펄스 내에서 측정 구간의 위치와 지속시간도 선택하고 수정할 수 있습니다.

펄스 생성기

고전류 TLP 펄스 생성기.

프로버

반자동 프로버(prober)와 인터페이스 가능.

사양

재품 표 사항에 대한 스타일시트

표준 TLP 구성	30~500ns의 펄스 폭	펄서(pulser) 상자에 통합된 표준 TLP 펄스 폭은 100ns입니다. 30~500ns 범위의 케이블 변경을 통해 외부에서 펄스 폭을 추가할 수 있습니다. 컴퓨터로 제어하는 펄스 폭(3가지의 선택 가능 펄스폭 포함)을 옵션으로 선택할 수 있습니다.
	상승 시간(rise time) 사용 가능	표준 상승 시간은 200ps입니다. 500ps~10ns 사이의 상승 시간을 옵션으로 선택할 수 있습니다. 외부 상승 시간 필터(옵션)로 제어 2ns 및 10ns 외부 상승 시간 필터 포함 컴퓨터로 제어하는 상승 시간(3가지의 선택 가능한 상승 시간 포함)을 옵션으로 선택할 수 있습니다. 참고: TLP 측정에는 500MHz 이상의 오실로스코프가 필요합니다. 1ns 미만의 상승 시간을 측정하는 경우 1GHz 이상의 범위를 사용하는 것이 좋습니다.
	모든 TLP 구성 지원	25~500ohm 전달 임피던스에 대한 구성 변경을 옵션으로 선택할 수 있습니다. ESD 협회의 TLP 표준 검사법에 설명된 모든 구성 지원 모든 임피던스에서의 웨이퍼 수준 및 패키지 시험
표준 TLP/VF-TLP 구성	통합형 시스템 컨트롤러	전용 컴퓨터가 필요하지 않습니다. Windows® 운영 체제
	통합 소스/미터 장치	±200V까지 커브 트레이싱 50pA까지 누출 측정 강제 전류가 있는 전압 또는 누출에 기반한 DUT 실패 검출
	트랜스미션 라인 펄스 (TLP / VF-TLP)	최신 ESD 협회 표준 검사법 문서(ANSI/ESD STM 5.5.1-2016)를 준수하여 설계
표준 VF-TLP 구성	1.2~10ns의 펄스 폭	시스템 전면에서 케이블 변경에 의해 선택 표준 너비는 1.2, 2.5, 5ns(기타는 옵션)입니다.
	200ps~2ns의 상승 시간	옵션 필터로 제어됨 표준 상승 시간은 200 및 300ps입니다. 2ns 외부 상승 시간 필터 포함
	최대 펄스 전류	15A를 50 ohm 으로 로딩 단락(short circuit)으로 약 30A
	최대 개방 회로(open circuit) 전압	1500V