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Microscopios electrónicos de barrido
Desde la introducción de los microscopios de electrones en la década de 1930, la microscopía electrónica de barrido (SEM) se ha convertido en una herramienta fundamental dentro de numerosos campos de investigación distintos que abarcan desde la ciencia de los materiales hasta la ciencia forense, la fabricación industrial e incluso las ciencias de la vida.
Cuando se necesita información microscópica sobre la superficie o la zona cercana a la superficie de una muestra, el SEM se convierte en una herramienta necesaria. Por ese motivo, el método encuentra aplicaciones en casi todas las ramas de la ciencia, la tecnología y la industria.
Los SEM de suelo ofrecen la flexibilidad y versatilidad necesarias para satisfacer una amplia gama de necesidades académicas e industriales: compatibilidad con muestras grandes y pesadas, una amplia gama de accesorios, excelente calidad de adquisición de imagen para los materiales más difíciles o los detalles más pequeños, y experimentación dinámica.
Thermo Fisher Scientific centra sus esfuerzos en la producción de SEM analíticos que se adaptan perfectamente a sus necesidades específicas. Ofrecemos una amplia gama de herramientas versátiles, desde los SEM de escritorio Thermo Scientific Phenom hasta los potentes instrumentos capaces de ofrecer una resolución y un contraste incomparables, como el SEM Thermo Scientific Verios.
Comparación rápida de microscopios electrónicos de barrido de suelo
| Producto | Tecnología de columnas | Etapa | Vacío bajo | |
|---|---|---|---|---|
| Axia ChemiSEM | Instrumento SEM EDS flexible, fácil de usar y que ofrece análisis elemental instantáneo y cuantitativo. | Fuente termoiónica potenciada por tetrodo | 5 ejes motorizados de 120 x 120 mm², eucéntricos | Opcional |
| Prisma E SEM | SEM ambiental adecuado para una amplia gama de aplicaciones | Fuente termoiónica potenciada por tetrodo | 5 ejes motorizados de 110 x 110 mm2, eucéntricos | Estándar |
| Quattro SEM | SEM ambiental de alta resolución para experimentos dinámicos in situ | Cañón de emisión de campo (FEG) | 5 ejes motorizados de 110 x 110 mm2, eucéntricos | Estándar |
| Apreo SEM | SEM versátil de alto rendimiento | FEG dentro de la lente | 5 ejes motorizados de 110 x 110 mm2, eucéntricos | Opcional |
| Verios SEM | La máxima resolución, exactitud y estabilidad de todos los SEM Thermo Scientific | FEG UC de inmersión | 5 ejes eucéntricos motorizados de 150 x 150 mm2, 2 ejes, piezoeléctrica | N/D |
| VolumeScope 2 SEM | SEM 3D para adquisición de imágenes de cara de bloques en serie de gran volumen | FEG dentro de la lente | 5 ejes motorizados de 110 x 110 mm², eucéntricos | Estándar |
Microscopios electrónicos de barrido de alta resolución
Si quiere aumentar al máximo la resolución y el contraste, solo necesita nuestros revolucionarios SEM Verios y Apreo. Estos instrumentos están comprometidos con obtener la información más detallada posible, con el excelente contraste y resolución del SEM Apreo solo igualado por el rendimiento líder mundial del SEM Verios.
Microscopios electrónicos de barrido de suelo de nivel básico y ambiental
Nuestros versátiles SEM Thermo Scientific Axia ChemiSEM, Thermo Scientific Prisma E y Thermo Scientific Quattro son la opción ideal si la flexibilidad de las muestras es una prioridad. Axia ChemiSEM combina una increíble flexibilidad en el tamaño de las muestras con el flujo de trabajo de caracterización EDS más intuitivo y eficaz disponible. Disponible en la configuración tradicional de High Vacuum (alto vacío) o Low Vacuum (bajo vacío) opcional, el Axia ChemiSEM es la plataforma ideal para el análisis rutinario y el análisis de fallos.
Los instrumentos Prisma E y Quattro de Thermo Scientific son capaces de ofrecer un rendimiento excepcional en todo tipo de condiciones gracias a los modos SEM (ESEM) ambientales, que permiten el análisis de muestras de carga, desgasificación, húmedas, calientes, sucias o difíciles. La alta estabilidad y facilidad de uso (así como una selección de accesorios opcionales y una cámara analítica altamente modular) hacen de estos instrumentos las herramientas de elección para los laboratorios multiusuario. Ambos instrumentos cuentan con la tecnología Thermo Scientific ColorSEM opcional, que colorea la imagen de SEM en escala de grises en tiempo real según la composición elemental mediante la combinación de la adquisición de imágenes por SEM y EDS.
Microscopios electrónicos de barrido de escritorio
La línea de productos Thermo Scientific Phenom redefine la velocidad, la facilidad de uso y el rendimiento gracias a su diseño y software innovadores y fáciles de usar, que permite incluso a los usuarios inexpertos obtener una imagen de SEM en cuestión de minutos. Y no solo eso, sino que el vanguardista SEM Phenom Pharos incluso cuenta con una fuente de cañón de emisión de campo (FEG), que permite resoluciones por debajo de 3 nm.
Hoja de estilo para las especificaciones de la tabla de productos
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Hoja de estilo para tarjetas originales instrumentos
The Quattro SEM is capable of imaging insulating samples without sample coating. On this glass specimen, a high-quality artifact-free image is obtained thanks to the instrument’s low vacuum mode. Horizontal field width ~127 μm. Sample courtesy of Stazione Sperimentale del Vetro, Murano, Venezia.
SEM image of CaCu₃Ti₄O₁₂ (CCTO), a compound with an extraordinarily high dielectric constant. A high-quality SEM image was obtained thanks to the instrument’s low vacuum mode. Sample courtesy of Ensi Caen, CRISMAT laboratory – Guillaume Riquet, Sylvain Marinel, Yohann Breard.
Corroded solder specimen colorized with ColorSEM Technology. The ability to directly see which materials the sample consists of, as well as their distribution, saves time in a variety of applications, such as failure analysis. Horizontal field width ~64 μm.
The Verios XHR SEM reveals the finest details even on the most beam sensitive samples. This example shows mesoporous SiO₂ imaged at 1 kV.
Self-catalyzed GaAs microwires imaged on Apreo. Sample courtesy of David Fuster at IMM-Instituto de Microelectrónica de Madrid (CNM-CSIC).
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The Quattro SEM is capable of imaging insulating samples without sample coating. On this glass specimen, a high-quality artifact-free image is obtained thanks to the instrument’s low vacuum mode. Horizontal field width ~127 μm. Sample courtesy of Stazione Sperimentale del Vetro, Murano, Venezia.
SEM image of CaCu₃Ti₄O₁₂ (CCTO), a compound with an extraordinarily high dielectric constant. A high-quality SEM image was obtained thanks to the instrument’s low vacuum mode. Sample courtesy of Ensi Caen, CRISMAT laboratory – Guillaume Riquet, Sylvain Marinel, Yohann Breard.
Corroded solder specimen colorized with ColorSEM Technology. The ability to directly see which materials the sample consists of, as well as their distribution, saves time in a variety of applications, such as failure analysis. Horizontal field width ~64 μm.
The Verios XHR SEM reveals the finest details even on the most beam sensitive samples. This example shows mesoporous SiO₂ imaged at 1 kV.
Self-catalyzed GaAs microwires imaged on Apreo. Sample courtesy of David Fuster at IMM-Instituto de Microelectrónica de Madrid (CNM-CSIC).
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