Microscopios electrónicos de transmisión

Los avances en la investigación científica de materiales dependen de información rápida y fiable de alta resolución que le permite optimizar el rendimiento de un material. La comprensión completa de su material requiere el uso de técnicas avanzadas de caracterización junto con datos de composición y estructurales en 2D y 3D.

Esto significa que necesita acceder a instrumentos sólidos y precisos capaces de proporcionar la información a escala atómica a la mayor resolución posible. La microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM) es capaz de proporcionar datos de alta calidad combinando los principios de microscopía electrónica de transmisión  (TEM) y de  microscopía electrónica de barrido (SEM). Al igual que TEM, STEM requiere muestras muy finas y observa principalmente a los electrones del haz transmitidos por la muestra. Una de las principales ventajas de STEM sobre TEM es que permite el uso de otras señales que no pueden correlacionarse espacialmente en TEM, incluyendo los espectros característicos de rayos X y la pérdida de energía de electrones.

Al igual que SEM, la técnica STEM realza un barrido de un haz de electrones muy bien enfocado a través de la muestra en un patrón de trama. Las interacciones entre los electrones del haz y los átomos de muestra generan una adquisición simultánea de flujo de señal de datos multimodales, que se correlaciona con la posición del haz para crear una imagen virtual en la que el nivel de señal en cualquier ubicación de la muestra se representa mediante el nivel de gris en la ubicación correspondiente de la imagen. Su principal ventaja sobre las imágenes SEM convencionales es la mejora de la resolución espacial.

Con STEM, se pueden recopilar datos analíticos extremadamente localizados para su muestra. Esto incluye asignaciones EDS de alta resolución de áreas grandes, sondeo de los estados de oxidación usando EELS y adquisición de imágenes de resolución atómica de las interfaces de materiales.

La línea de productos STEM de Thermo Fisher Scientific ofrece imágenes y análisis acelerados mediante un funcionamiento simplificado/automatizado, lo que ofrece una mayor calidad de datos y tiempos de adquisición más rápidos. También combina la adquisición de imágenes STEM de alta resolución con avances sin precedentes en la detección de señales EDS para la cartografía de composición y la caracterización química 3D con los detectores EDS Dual-X y Super-X de Thermo Scientific. Las plataformas STEM de Thermo Fisher Scientific son adecuadas para entornos multiuso y de varios usuarios al combinar todas las aplicaciones en un único sistema.