Search Thermo Fisher Scientific
Search Thermo Fisher Scientific
Meet your demands for increased analytical performance and flexibility with the Thermo Scientific™ ESCALAB™ QXi X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) Microprobe, which combines high spectral sensitivity and resolution with quantitative imaging and multi-technique capabilities.
The ESCALAB QXi XPS Microprobe is an expandable and optimized multi-technique instrument with unparalleled flexibility and configurability. It is extremely sensitive, producing high-quality spectra in seconds. System control, data acquisition, processing, and reporting are seamlessly integrated in the powerful Thermo Scientific Avantage Data System. The cutting-edge technology, driven by intuitive software, guarantees world-class results and productivity. The ESCALAB QXi XPS Microprobe, with its unique dual detector system, also delivers superb XPS imaging with excellent spatial resolution.
Thermo Scientific ESCALAB QXi Microprobe Auto Sample Transfer
The twin-crystal, micro-focusing monochromator has a 500 mm Rowland circle, uses an Al anode (or a dual Al and Ag anode with the dual monochromator option), and allows you to select any sample spot size ranging from 200 µm to 900 µm.
An electron source, co-axial with the analyzer input lens, is used for charge compensation when analyzing non-conducting samples with the monochromatic X-ray source, while a second flood source produces both low-energy ions to assist in providing effective charge compensation and low-energy electrons when the magnetic lens is not in use.
The lens and analyzer system on the ESCALAB QXi XPS Microprobe is optimized for both spectroscopy and for parallel imaging; the single analyzer path means that the same instrument parameters (e.g., pass energy) can be used for both spectroscopy and imaging.
The ESCALAB QXi XPS Microprobe is fitted with two detector systems: one optimized for spectroscopy, consisting of an array of six-channel electron multipliers, and one for parallel imaging, consisting of a pair of channel plates and a continuous position-sensitive detector.
The ESCALAB QXi XPS Microprobe has two options for rapid, high-resolution depth profiling: the standard EX06 ion gun, which is optimized for monatomic ion sputtering and ion scattering spectroscopy; and the optional monatomic and gas cluster ion source, MAGCIS, which is capable of monatomic ion profiling, cluster ion profiling, and ion scattering spectroscopy.
All analytical functions are controlled from the Windows Software-based Avantage data system, meaning that the entire analysis process can be performed remotely, if required.
A standards block, which has samples of copper, silver, and gold, can be used for assessing sensitivity, setting the linearity of the analyzer energy scale, calibrating the ion source, aligning the X-ray monochromator, and determining the transmission function of the analyzer.
All axes of movement on the sample stage are controlled by the Avantage Data System, and a high-resolution digital video camera is fitted to the instrument and is accurately aligned with the analysis position.
The computer-controlled, 5-axis, high-precision translator (HPT) allows accurate sample alignment for analysis. When coupled with the new automated sample loading system, it can be used to automatiucally exchange sample holders and run queued experiments.
The analysis chamber is constructed from 5 mm-thick mu-metal to maximize the efficiency of the magnetic shielding, and the chamber is pumped using both a turbomolecular pump and a titanium sublimation pump, allowing the analysis chamber to achieve a vacuum better than 5 x 10-10 mbar.
The standard Preploc chamber, which is a combined sample entry lock and preparation chamber, has ports that accommodate a variety of sample preparation devices, such as heating/cooling probes, ion guns, high-pressure gas cells, sample parking, and gas admission.
Measurement coordinates can be imported into Avantage Data System from dedicated microscopy systems using Thermo Scientifc Maps Software for even faster identification of measurement areas. XPS spectroscopy and imaging data can be added into Maps Software to allow direct comparison of surface chemistry and structural information.
Monochromated X-ray source |
|
Analyze |
|
Ion source |
|
Vacuum system |
|
Sample stage |
|
Included standard analysis techniques |
|
Optional analysis techniques |
|
Optional accessories |
|
Sample preparation options |
|
Watch this webinar to:
Watch this webinar to:
El desarrollo de baterías se realiza mediante análisis multiescala con microCT, SEM y TEM, espectroscopía Raman, XPS y visualización y análisis 3D digital. Aprenda cómo este enfoque proporciona la información estructural y química necesaria para crear mejores baterías.
La producción eficaz de metales requiere un control preciso de las inclusiones y precipitados. Nuestras herramientas automatizadas pueden realizar varias tareas cruciales para el análisis de metales, incluyendo el recuento de nanopartículas, el análisis químico EDS y la preparación de muestras de TEM.
La microestructura polimérica determina las características y el rendimiento del material a granel. La microscopía electrónica permite un análisis exhaustivo en microescala de la morfología y composición de los polímeros para aplicaciones de control de calidad e I+D.
Las ciencias geológicas están basadas en la observación uniforme y precisa de múltiples escalas de características dentro de las muestras de roca. SEM-EDS, combinado con software de automatización, permite el análisis directo a gran escala de la composición de la textura y los minerales para la investigación de la petrología y la mineralogía.
A medida que la demanda de petróleo y gas continúa, existe la necesidad constante de una extracción eficiente y eficaz de hidrocarburos. Thermo Fisher Scientific ofrece una amplia gama de soluciones de microscopía y espectroscopía para una gran variedad de aplicaciones de la ciencia del petróleo.
Los materiales tienen propiedades sustancialmente diferentes en la nanoescala y en la macroescala. Para estudiarlos, la instrumentación S/TEM se puede combinar con la espectroscopia de rayos X por dispersión de energía para obtener datos de resolución nanométrica, o incluso subnanométrica.
Los microrastros de las pruebas de las escenas del crimen se pueden analizar y comparar usando microscopía electrónica como parte de una investigación forense. Las muestras compatibles incluyen fragmentos de vidrio y pintura, marcas de herramientas, drogas, explosivos y residuos de armas de fuego.
Los catalizadores son cruciales para la mayoría de los procesos industriales modernos. Su eficacia depende de la composición microscópica y la morfología de las partículas catalíticas; EM con EDS es ideal para estudiar estas propiedades.
El diámetro, la morfología y la densidad de las fibras sintéticas son parámetros clave que determinan la vida útil y la funcionalidad de un filtro. La microscopía electrónica de barrido (SEM) es la técnica ideal para investigar rápida y fácilmente estas características.
La investigación de materiales novedosos presta cada vez más atención a la estructura de materiales de baja dimensión. La microscopía electrónica de transmisión de barrido con corrección de sonda y monocromación permite la adquisición de imágenes de materiales bidimensionales de alta resolución.
Todos los componentes de un vehículo moderno están diseñados para garantizar la máxima seguridad, eficacia y rendimiento. La caracterización detallada de materiales de automoción con microscopía electrónica y espectroscopía informa sobre decisiones cruciales sobre procesos, mejoras de productos y nuevos materiales.
La espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) permite el análisis de superficie, proporcionando la composición elemental, así como el estado químico y electrónico de los 10 nm principales de un material. Con la realización de perfiles de profundidad, el análisis XPS se extiende a la visión de composición de las capas.
La espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) permite el análisis de superficie, proporcionando la composición elemental, así como el estado químico y electrónico de los 10 nm principales de un material. Con la realización de perfiles de profundidad, el análisis XPS se extiende a la visión de composición de las capas.