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La espectroscopia de rayos X de energía dispersiva (EDS, también abreviada EDX o XEDS) es una técnica analítica que permite la caracterización química/análisis elemental de materiales. Una muestra excitada por una fuente de energía (como el haz de electrones de un microscopio electrónico) disipa parte de la energía absorbida expulsando un electrón de núcleo. Un electrón de capa exterior de mayor energía continúa ocupando su posición, liberando la diferencia de energía como un rayo X que tiene un espectro característico basado en su átomo de origen. Esto permite el análisis de composición de un volumen de muestra específico excitado por la fuente de energía. La posición de los picos en el espectro identifica el elemento, mientras que la intensidad de la señal corresponde a la concentración del elemento.
Como se ha indicado anteriormente, un haz de electrones proporciona suficiente energía para expulsar los electrones de núcleo y causar la emisión de rayos X. La información de composición, hasta un nivel atómico, se puede obtener con la adición de un detector EDS a un microscopio electrónico. A medida que se explora la sonda de electrones en la muestra, se emiten y miden rayos X característicos; cada espectro EDS registrado se asigna a una posición específica en la muestra. La calidad de los resultados depende de la intensidad de la señal y de la limpieza del espectro. La intensidad de la señal depende en gran medida de una buena relación señal-ruido, especialmente para la detección de elementos traza y la minimización de la dosis (lo que permite un registro más rápido y resultados sin artefactos). La limpieza afectará el número de picos falsos que se han visto; esto es una consecuencia de los materiales que componen la columna de electrones.
Thermo Fisher Scientific ofrece una gama de soluciones que se esfuerzan por maximizar estas cualidades clave. Nuestras capacidades de análisis de composición EDS incluyen:
- Análisis elemental
- Asignación de composición de resolución atómica
- Adquisición de imágenes de composición 3D
- Tecnología ColorSEM
Electroplated bimetallic metal foams imaged with ColorSEM Technology. Sample courtesy of Prof. Dr. Peter Broekmann, Department of Chemistry and Biochemistry, University of Bern.
Fractured teapot made from aluminum oxide, imaged with ColorSEM Technology. Micro-quantities of iron debris from tools used in the manufacturing process can be seen.
Automated, large-area STEM-EDS data reveals the elemental composition of individual gold-nickel nanoparticles. Data processing performed with Avizo Software. Sample courtesy of J. Bursik, Institute of Physics of Materials, Brno.
Representación segmentada de la superficie de nanopartículas coloreadas con elementos presentes: núcleos de plata (rojo) con carcasas de platino (verde). Para aumentar la visibilidad, las carcasas de platino son semitransparentes. Muestra cortesía los profesores Yi Ding y Jun Luo, Centro de Microscopía Electrónica, Universidad Tecnológica de Tianjin.
Tomografía EDS de nanotubos de P-Zn-in. Muestra cortesía de la Dra. Reza Shahbazian Yassar, Universidad Tecnológica de Michigan.
Electroplated bimetallic metal foams imaged with ColorSEM Technology. Sample courtesy of Prof. Dr. Peter Broekmann, Department of Chemistry and Biochemistry, University of Bern.
Fractured teapot made from aluminum oxide, imaged with ColorSEM Technology. Micro-quantities of iron debris from tools used in the manufacturing process can be seen.
Automated, large-area STEM-EDS data reveals the elemental composition of individual gold-nickel nanoparticles. Data processing performed with Avizo Software. Sample courtesy of J. Bursik, Institute of Physics of Materials, Brno.
Representación segmentada de la superficie de nanopartículas coloreadas con elementos presentes: núcleos de plata (rojo) con carcasas de platino (verde). Para aumentar la visibilidad, las carcasas de platino son semitransparentes. Muestra cortesía los profesores Yi Ding y Jun Luo, Centro de Microscopía Electrónica, Universidad Tecnológica de Tianjin.
Tomografía EDS de nanotubos de P-Zn-in. Muestra cortesía de la Dra. Reza Shahbazian Yassar, Universidad Tecnológica de Michigan.
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