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Thermo Fisher Scientific Electron Microscope Upgrade Program

Regularly upgrading your microscope allows you to enhance the capabilities of current system and utilize the instrument in the most effective and productive way possible. Microscope upgrades can expand the range of applications your instrument can accommodate and helps you maintain your competitive edge. Investing in upgrades not only extend the equipment lifetime but also assures that your microscope will continue to serve your changing microscopic analysis needs reliably for years to come.

Upgrades for the Thermo Fisher Scientific TEM, SEM, and Dual Beam FIB SEM instruments, providing you with the latest developments and capabilities for your instrument.

Whether it is time consuming frequent alignment of current equipment, limitation on image resolution and image processing for advanced materials research or time-to-result, Our continuously evolving automation features, detection enhancement and microscope software upgrades will lead to a superior microcopy experience for every researcher.

Accessories for Electron Microscopes

Detector Falcon 4

  • Eficacia cuántica de detección líder del sector,
  • con un tiempo de exposición 10x menor que el modelo anterior
  • Totalmente integrado en el software Thermo Scientific
  • Gestión de datos incorporada

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μHeater

  • Solución de calentamiento ultrarrápido para adquisición de imágenes de alta resolución in situ
  • Totalmente integrada
  • Temperaturas de hasta 1200 °C

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μPolisher

  • Potencial para permitir un gran número de aplicaciones novedosas e inexploradas
  • Fresado de muy baja energía
  • Tamaño de punto pequeño para un tratamiento preciso de la superficie local

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Cámara Ceta-D

  • Rendimiento óptimo en cualquier tensión alta (20–300 kV)
  • Compatible con filtros postcolumna y espectrómetros
  • Adquisición de películas para estudios dinámicos

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Filtros de adquisición de imágenes Selectris y Selectris X

  • Diseñados para adquisición de imágenes de alta estabilidad y resolución atómica
  • Funcionamiento sencillo
  • En combinación con el detector de electrones directos Falcon 4 de Thermo Scientific

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Accessories for Phenom Desktop Scanning Electron Microscopes

 

Holders

Soporte de muestras de reducción de carga

  • Aumento de hasta 8 veces más
  • Preparación más rápida de muestras
  • Se pueden obtener imágenes de las muestras sin conductividad en su estado natural

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Soporte de muestras de alimentación eléctrica

  • Conecte sondas eléctricas a la muestra para mediciones in situ
  • La altura de la muestra se puede ajustar manualmente de 0 a 25 mm
  • Mediciones de corrientes de la sonda

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Soporte de muestras eucéntricas

  • Rotación en dos dimensiones e inclinación eucéntrica en un SEM de escritorio
  • Tiempo rápido de obtención de imágenes con carga de muestras en < 1 minuto
  • Módulo de visualización de muestras 3D en tiempo real

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Soporte de muestras metalúrgicas

  • Diseñado para su compatibilidad con muestras con montaje de resina
  • Solución preferida para la metalurgia y al trabajar con insertos
  • Tamaño de la muestra de hasta 32 mm de diámetro y 30 mm de altura

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Soporte de muestras de rotación e inclinación motorizado

  • Intervalo de inclinación de -10° a +45°
  • Rotación continua en dos dimensiones en 360°
  • Controlado por la aplicación ProSuite de control de movimiento exclusiva

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Soporte de muestras estándar

  • Etapa compacta que permite el análisis de muestras de hasta 100 mm x 100 mm
  • Se puede ampliar con 3 tipos de resina o insertos de montaje metalúrgicos
  • Se utiliza con el SEM de escritorio Phenom

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Soporte de muestras de microherramientas

  • Sujeción rápida
  • Inclinación y la rotación que permiten una fácil colocación de la muestra
  • No se requieren herramientas adicionales para la carga de muestras

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Dispersor de partículas Nebula

  • Método estándar para la dispersión uniforme de polvo seco
  • Evita las agrupaciones de partículas
  • Se utiliza con el SEM de escritorio Phenom

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Inserts

Insertos de filtro

  • Análisis de residuos de filtro y análisis de asbesto
  • Disponible en dos modelos compatibles con filtros de 47 mm (1,85 pulg) y de 25 mm (1 pulgada)
  • Uso con el SEM de escritorio Phenom

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Insertos de montaje de resina

  • Concepto exclusivo del soporte de muestras
  • Disponible en 3 modelos compatibles con muestras de tamaño estándar de 25 mm (~1 pulgada), 32 mm (aproximadamente 1⁄4 pulgada) y 40 mm (aproximadamente 1⁄4 pulgada) de diámetro

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Insertos de soporte de muestras

  • Adquisición más rápida de imágenes transversales de los revestimientos y muestras multicapa
  • Fácil sujeción sin necesidad de tornillos ni herramientas adicionales
  • No es necesario utilizar tornillos ni herramientas para fijar la muestra

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