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Thermo Scientific Velox 소프트웨어는 뛰어난 실험 제어 기능을 제공하기 위해 포괄적인 액세스를 (주사) 투과전자현미경(STEM/TEM) 광학부와 검출기에 결합하였습니다. Velox 소프트웨어는 정량적 STEM/TEM 물질 분석을 위한 높은 재현성, 수율 및 지원을 제공합니다.
Velox 소프트웨어는 Thermo Scientific Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템과 결합하여 에너지 X선 분광학(EDS, EDX라고도 함) 응용분야를 위한 고유한 패키지를 제공합니다. 견고한 맵핑 엔진에는 투과전자현미경에 최적화된 여러 기술이 결합되어 있습니다. 즉각적인 드리프트 보정, 회귀 맵핑, 독립 채널 판독, 홀더 보상을 통한 고유한 흡수 보정: 이 기술들은 최고 수준의 EDS 스펙트럼 이미지를 높은 수율로 획득할 수 있도록 지원합니다.
통합형 인체공학적 사용자 인터페이스
빠른 맵핑에서 드리프트 수정 프레임 통합(DCFI, drift corrected frame integration), cross correlations와 같은 고급 드리프트 보상 방법을 통해 최고 품질의 이미징과 조성 맵핑을 제공합니다. 또한 Velox 소프트웨어는 까다로운 TEM 조건용으로 특별히 설계된 스펙트럼 이미징을 위한 편차 보상을 제공합니다.
상호작용식 검출기 레이아웃 인터페이스
상호작용식 검출기 레이아웃 인터페이스와 모든 중요한 메타 데이터의 자동 저장을 통해, 최고의 재현성, 최고의 실험 제어 및 문서화.
Time resolved XEDS
Time resolved XEDS를 통한 동적 조성 맵핑과 프레임 별로 제거하는 맵핑을 위한 "peel back" 기능으로 빔에 민감한 물질의 조성 분석에서 아티팩트(artifact)를 최소화합니다.
EDS 정량분석 소프트웨어
모든 경사 및 네 개의 독립적 검출기의 홀더 음영에 대한 보상을 제공하는 고유하고 강력한 EDS 정량 소프트웨어. 고속 EDS 정량 분석은 EDS 데이터의 빠른 사후 프로세싱과 더불어 획득 중 실시간 피드백을 제공합니다.
고대비 영상
고유한 통합형 차동 위상 대조(iDPC, integrated differential phase contrast) 모드를 사용하여 경원소 및 중원소의 고대비 원소 이미징을 제공합니다. 경량 시료에 대한 저선량 고대비 이미징을 통해 자연 상태로 빔 민감성 물질을 이미지화할 수 있습니다.
Dynamic studies
Dynamic studies를 위한 유연한 STEM 및 TEM 동영상 레코딩.
재품 표 사항에 대한 스타일시트
TEM 이미징 | 지원되는 하드웨어 | 속도 향상 기능을 갖춘 Ceta Camera |
픽셀 | 512, 1k, 2k, 4k, binning 2x, 4x, 8x | |
STEM 이미징 | 지원되는 하드웨어 | HAA DF 검출기, 3중 분할 BF/DF 검출기, Panther STEM 검출 시스템 |
신호 수 | 최대 5개의 STEM 신호 또는 최대 9개의 STEM + EDS 신호 | |
속도 | 50 nsec/pixel | |
에너지 X선 분석* | 지원되는 하드웨어 | SuperX G1/SuperX G2/DualX/SingleX |
다중모드 | STEM+EDS, STEM+EDS+EELS 및 STEM+카메라+EDS | |
시스템 요구 사항 | Thermo Scientific Talos 및 Themis STEM과 TEM 플랫폼은 Windows 7 또는 Windows 10 64 비트 운영 체제 사용 | |
* 옵션 및 기능은 해당 하드웨어가 컬럼 구성의 일부인 경우에만 사용할 수 있습니다.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스
최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.
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