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미세시료분석
X선 미세시료분석을 개선하는 방법
SEM/EDS 및 SEM/WDS를 위한 Thermo Scientific Pathfinder X-선 미세시료분석은 기존의 원소 기반 X선 미세시료분석에서 발견되는 여러 가지 문제를 방지합니다. 스펙트럼 이미징 데이터와 함께 가장 정확한 데이터를 보장하는 일련의 처리 알고리즘을 기본으로 한 Pathfinder 소프트웨어는 시료의 화학적 상(chemical phases)을 직접 분류해냅니다. 유용한 정보가 단 몇 분만에 분석적 편향 없이 명료하게 제공됩니다. Pathfinder 소프트웨어는 EDS/EDX와 WDS/WDX를 사용하는 방식을 변화시킵니다.
빠른 링크
주요 미세시료분석 제품
Thermo Scientific Quasor II Electron Backscatter Diffraction(EBSD) 시스템을 사용하면 EBSD 데이터와 EDS/WDS 스펙트럼 이미지를 동시에 획득할 수 있습니다. Quasor II EBSD는 주사 전자 현미경(SEM) 검사 및 X선 미세시료분석을 통해 금속, 지질학 시료, 반도체 소재 등 다양한 물질에서 물리적 속성에 영향을 미치는 결정 구조 특성을 분석합니다.
새로운 Thermo Scientific Lumis EBSD 시스템은 금속, 지질학, 반도체 소재 등의 시료에 대한 스펙트럼 이미징을 개선해 줍니다. 최대 처리량과 높은 해상도를 제공하도록 설계된 EBSD 기술을 통해 주사 전자 현미경(SEM) 시료의 결정학적 상, 결정립 크기 및 방향을 신속하게 식별하고 구조적 변형을 모니터링합니다.
Pathfinder X-선 미세시료분석 소프트웨어는 에너지분산 분광법(EDS, energy-dispersive spectroscopy)과 파장분산 분광법(WDS, wavelength-dispersive spectroscopy)에서 전자 현미경과 함께 사용됩니다. Pathfinder 소프트웨어는 최신 X-선 검출기 기술로부터 수신한 데이터를 참신하고 효율적인 방식으로 처리하여 분석 시간을 시간 단위에서 분 단위로 크게 줄였습니다.
이 분광분석기(spectrometer)로 원소 분석에서 최고의 속도와 신뢰도를 얻으십시오. 빌트인 전문가용 시스템은 조정, 분석 설정, 데이터 획득을 자동으로 처리하여 실질적으로 통합된 EDS/WDS 시스템을 구축하며, EDS 시스템처럼 사용이 쉬운 고분해능 미세시료분석을 가능하게 합니다.
이 검출기로 더욱 정확한 X-선 해석을 보다 빠르게 수행하십시오. 믿을 수 없이 높은 수집 속도로 뛰어난 분해능을 제공합니다. Pathfinder X-선 미세시료분석 소프트웨어와 함께 사용하면 금속 및 채광, 첨단 소재, 반도체 분야에서 이상적으로 활용할 수 있습니다.
WDS 기술에 대해 알아보기
Wiley Essential Knowledge Briefing 시리즈의 일부인 30페이지 분량의 소책자 "Wavelength-dispersive (X-ray) Spectroscopy"을 다운로드해 보십시오. SEM/EDS를 보완하는 이 귀중하고 --현재-- 사용가능한 기술에 대해 알아보십시오.
관련 제품
Phenom 데스크톱 시스템을 사용하여 다양한 애플리케이션에 필요한 고분해능, 고품질 이미징과 분석을 직접 수행할 수 있습니다. 신속한 시료 로딩과 놀라울 정도로 빠른 이미지 처리 시간은 실패 분석, 품질 보증 프로세스 또는 재료에 대한 비파괴 시험 효과를 향상시킵니다.
당사의 혁신적인 현미경 검사법과 애플리케이션 전문성은 고객이 질문에 대한 의미있는 답을 찾도록 도와드리며, 이로 인해 획기적인 발견을 가속화하고, 생산성을 높이며, 궁극적으로 세상을 변화시킵니다.