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您在採礦及探勘程序的所有階段中,都需要依據礦業模式、判斷及經驗做出決定。您總預期讓探勘預算發揮最高效益、預先篩選實驗室樣品、迅速識別鑽探目標、降低重新遷移成本,並迅速將正確報告提供給資本市場。可攜式 X 光螢光 (XRF) 分析儀及取樣收集和製備工具,代表礦業及探勘應用之中元素分析技術的最新創新成果,奠定基礎實現正投資報酬率。
可攜式分析儀可讓您輕鬆即時化驗分析,並可用於礦物測繪、礦石等級控制及環境法規遵循,此外也能協助探勘及開採各種卑金屬、貴金屬、稀土元素、礦物燃料、工業礦物及含氣層樣品。
X 光螢光 (XRF) 為非破壞性分析技術,用於判定材料的化學組成。其如何運作?精度有多高?是否安全? 請利用這些資源深入瞭解。
目前並沒有儀器技術能夠直接識別岩石類型。礦物學利用 X 光繞射 (XRD) 及拉曼光譜等實驗室方法,識別岩石的礦物組成。現在有了可在現場使用的可攜式 X 光螢光 (FPXRF) 設備,補足以上技術的不足之處;這項設備不僅能夠識別元素組成,也能掌握儲油岩細微的地質化學變化,並監測岩石類型逐漸轉換的情形。
雖然稀土元素不像貴金屬那麼稀少,但其開採及探勘技術非常昂貴。稀土元素的探勘及開採因為全球大量需求 (普遍用於電子裝置) 及供應短缺而大幅增加。
電感耦合等離子體及原子吸收光譜儀 (ICP 及 AAS) 等實驗室技術,普遍用於分析地質樣品。這類技術利用同質岩石粉末,以消除礦石在石基或礦脈/細礦脈之中的異質效應及分布不均等情況。不過這類方法需要讓樣品完全溶解在溶液之中。由於許多礦物無法完全溶解 (包括部分礦石),因此並無法獲得真正完整的化驗值。
使用 Thermo Scientific Niton XL3t GOLDD+立即取得元素分析結果。
示範如何使用 Thermo Scientific Niton XL3t GOLDD+ 分析樣品,並利用地理空間找出元素結果。
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