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穩健的 ICP-OES 系統

我們穩健的 ICP-OES 系統提供了簡易使用的軟體，並提供了遠優於單元素 AAS 和多元素微波等離子體技術的多元素偵測技術。它們非常適合具有低樣本處理量需求的實驗室，以及技術新手，或需要簡單解決方案進行多元素分析的使用者。

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進階、高處理量 ICP-OES 系統

利用靈敏的多元素偵測功能分析高基質微量元素樣本，以達到您的資料需求。這些儀器包含 iFR 分析模式 (可一次測量整個波長范圍) 及 eUV 分析模式 (以更高的靈敏度測量光譜的 UV 區域)。

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 iCAP PRO ICP-OESiCAP PRO X ICP-OESiCAP PRO XP ICP-OESiCAP PRO XPS ICP-OES
等離子體檢視垂直徑向或垂直雙向
開始時間1 小時 (自關機起)15 分鐘 (自待機起)5 分鐘 (自待機起)
波長範圍iFR 模式 167.021 nm - 852.145 nmiFR 模式 167.021 nm - 852.145 nm
eUV 模式 167.021 nm - 240.063 nm
解析度 @ 200nm0.007
測量模式iFRiFR 與 eUV
相機技術CID821
全光譜擷取是
RF 來源徑向1150 W750、1150 或 1350 W750 至 1600 W
RF 來源雙向1150 W750、1150 或 1350 W750 至 1600 W
氣體流量控制最佳化 MFC可變 MFC
等離子氣體固定於 12.5 L/min固定於, 最佳化於
8.5、12.5 或 14.5 L/min		0 至 20 L/min
輔助氣體固定於 0.5 L/min可選擇
0.5、1 或 1.5 L/min		0 至 2 L/min
霧化氣體0.3 至 0.8 L/min0 至 1.5 L/min0.0 至 1.5 L/min
補充氣體—0 至 0.25 L/min
iCAP PRO 系列 ICP-OES 影片

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