Sistemas de descarga electrostática (ESD), compatibilidad electromagnética (EMC) y pulsos de línea de transmisión (TLP)

Proteja los sistemas de aeronaves con un sistema de pruebas de rayos modular para la conformidad con RTCA DO-160, EUROCAE y otras normas de aviónica.

Mida los peligros de interferencias de pulsos electromagnéticos de sus equipos eléctricos con una potente herramienta de diseño y producción para pruebas de EMC.

Asegúrese de que sus componentes electrónicos cumplen las normas reglamentarias globales con un sistema de pruebas de compatibilidad electromagnética configurado para realizar unas pruebas de inmunidad de EMC totalmente conformes.

Logre que sus componentes semiconductores lleguen más rápido al mercado con un dispositivos de pruebas de ESD diseñado para ayudar a identificar y corregir los problemas relacionados con los eventos de modelo de dispositivo cargado.

Demuestre el cumplimiento normativo y evite daños en los productos electrónicos sensibles causados por ESD con una prueba de descarga electrostática para la fabricación o el servicio de asistencia en campo.

Mejore la funcionalidad de su sistema de pruebas ESD/cierre con placas de accesorio de pruebas garantizado para cumplir con las especificaciones de la espectometría de onda cuando se utiliza en un sistema de pruebas calibrado Thermo Scientific™.

Evite los daños por descarga electrostática y los peligros de la espectometría de onda con los análisis de fallos y las pruebas de cierre ESD rápidos y de alto rendimiento en dispositivos de recuento de pines bajo.

Logre unas pruebas rápidas y de alto rendimiento complejos dispositivos de circuito integrado con un sistema de pruebas de cierre y ESD basado en relés y excepcionalmente rápido.

Asegúrese de que sus operaciones de pruebas satisfacen las normas reglamentarias y de calidad con un sistema de pruebas de alto rendimiento para dispositivos de elevado recuento de pines multifunción.

Logre que sus componentes semiconductores lleguen más rápido al mercado con un dispositivo de pruebas de ESD de 2 pines diseñado para ayudar a identificar y corregir los problemas relacionados con los eventos de HMM y HBM.

Descubra cuál será el comportamiento de sus dispositivos con tensión de ESD con una sistema de pruebas de línea de transmisión de pulsos (TLP) que proporciona una caracterización rápida y precisa de semiconductores avanzados.

Ofrecemos fuentes de rayos X con punto focal pequeño, gran capacidad de ampliación y salida estable de alta intensidad para obtener imágenes 2D y 3D de excelente calidad que satisfagan una gran variedad de retos de inspección.