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Style Sheet for Global Design System

Thermo Fisher Scientific Electron Microscope Upgrade Program

Regularly upgrading your microscope allows you to enhance the capabilities of current system and utilize the instrument in the most effective and productive way possible. Microscope upgrades can expand the range of applications your instrument can accommodate and helps you maintain your competitive edge. Investing in upgrades not only extend the equipment lifetime but also assures that your microscope will continue to serve your changing microscopic analysis needs reliably for years to come.

Upgrades for the Thermo Fisher Scientific TEM, SEM, and Dual Beam FIB SEM instruments, providing you with the latest developments and capabilities for your instrument.

Whether it is time consuming frequent alignment of current equipment, limitation on image resolution and image processing for advanced materials research or time-to-result, Our continuously evolving automation features, detection enhancement and microscope software upgrades will lead to a superior microcopy experience for every researcher.

Accessories for Electron Microscopes

Detector Falcon 4

  • Eficiência quântica de detecção líder
  • Tempo de exposição 10 vezes menor do que o seu antecessor
  • Totalmente integrado ao software da Thermo Scientific
  • Gerenciamento de dados integrado

μHeater

  • Solução de aquecimento ultrarrápida para imagens de alta resolução in situ
  • Totalmente integrado
  • Temperaturas de até 1200 °C

μPolisher

  • Potencial para permitir um grande número de aplicativos novos e inexplorados
  • Desbaste com energia muito baixa
  • Tamanho de ponto pequeno para um tratamento de superfície local preciso

Câmera Ceta-D

  • Desempenho ideal em todas as altas tensões (20 kV a 300 kV)
  • Compatível com filtros e espectrômetros pós-coluna
  • Aquisição de filmes para estudos dinâmicos

Filtros de imagem Selectris e Selectris X

  • Desenvolvidos para imagens de alta estabilidade e resolução atômica
  • Operação direta
  • Em conjunto com a geração mais recente do detector eletrônico Falcon 4 Direct da Thermo Scientific

Accessories for Phenom Desktop Scanning Electron Microscopes

 

Holders

Suporte de amostra de redução de carga

  • Ampliação até oito vezes maior
  • Maior rapidez na preparação de amostras
  • Amostras não condutivas podem ser obtidas por imagem em seu estado natural

Alimentação elétrica através do suporte de amostra

  • Conecte as sondas elétricas à amostra para medições in situ
  • A altura da amostra pode ser ajustada manualmente de 0 mm a 25 mm
  • Medições de correntes da sonda

Suporte de amostra eucêntrico

  • Inclinação eucêntrica e rotação compucêntrica em um SEM desktop
  • Tempo de imagem rápido com carregamento de amostra < 1 minuto
  • Módulo de visualização de amostra 3D em tempo real

Suporte para amostras metalúrgicas

  • Projetado para suportar amostras montadas em resina
  • Solução preferida para metalurgia e ao trabalhar com insertos
  • Tamanho da amostra de até 32 mm de diâmetro e 30 mm de altura

Inclinação motorizada e suporte de amostra com rotação

  • Faixa de inclinação de -10° a +45°
  • Rotação compucêntrica contínua de 360°
  • Controle feito pelo aplicativo dedicado Motion Control ProSuite

Suporte de amostra padrão

  • Estágio compacto que permite a análise de amostras de até 100 mm x 100 mm
  • Pode ser estendida com 3 tipos de resina ou insertos de montagem metalúrgicos
  • Usado com o Phenom Desktop SEM

Suporte de amostra Micro Tool

  • Fixação rápida
  • A inclinação e a rotação facilitam o posicionamento da amostra
  • Sem necessidade de ferramentas extras para o carregamento de amostras

Dispersor de partículas Nebula

  • Método padrão para dispersão uniforme de pó seco
  • Evita aglomerados de partículas
  • Usado com o Phenom Desktop SEM

Inserts

Insertos filtrantes

  • Análise de resíduos do filtro e análise de amianto
  • Disponível em dois modelos que suportam 47 mm (1,85 pol.) e filtros de 25 mm (1 pol.)
  • Uso no Phenom Desktop SEM

Insertos de montagem em resina

  • Um conceito exclusivo de suporte de amostra
  • Disponível em 3 modelos para suportar amostras de tamanho padrão com diâmetros de 25 mm (aprox. 1 pol.), 32 mm (aprox. 1¼ pol.) e 40 mm (aprox. 1½ pol.)

Insertos de suporte de amostra

  • Imagens transversais mais rápidas de revestimentos e amostras de várias camadas
  • Fixação fácil sem a necessidade de parafusos ou ferramentas extras
  • Elimina a necessidade de parafusos e ferramentas para prender a amostra

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Serviços de microscopia eletrônica para
a ciência dos materiais

Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.

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