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ELECTRICAL FAILURE ANALYSIS SYSTEMS
Meridian S System
Static optical fault isolation solution for semiconductor failure analysis and service labs.
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The Thermo Scientific Meridian S System is designed to perform inverted photon emission (EMMI) and laser scanning microscopy analysis on devices stimulated by static bias via probe card or micro-probes. With the overall cost of ownership for the system being a critical aspect of profitability, the Meridian S System offers a range of photon emission options, dual-side probing flexibility and an upgrade path to dynamic optical fault isolation capabilities such as laser voltage imaging/probing and soft defect localization.
The Meridian S System is designed for use in failure analysis labs worldwide, aiding in:
- Identification of systematic process, design or integration issues
- Isolation of root cause for random electrical failures
Fault Diagnostic with Active Probe Technology
High-sensitivity, lock-in capable, noise-eliminating static laser stimulation/optical beam induced resistance change (SLS/OBIRCH) detection enabled by Fault Diagnostic with Active Probe Technology.
Photon emission
Photon emission options spanning a range of sensitivity requirements for isolating shorts, detecting areas of excess leakage, and mapping active regions.
Ease-of use
Probing setup and software designed for ease-of-use and productivity.
Scalable and upgradable
Fully scalable and upgradable optical platform.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
Inverted optical system |
Combo system: LSM + PEM standard, with optional LSM-only or PEM-only configurations |
220VAC, 50Hz/60Hz |
Standard 9” x 9” load board interface, plus customizable alternatives |
Dual-side microprobing and Probe Card configurations available |
Stage repeatability ≤2μm |
Optional laser marker for defect redetection |
Desenvolvimento e localização de semicondutores
Microscopia eletrônica avançada, feixe de íon focalizado e técnicas analíticas associadas para identificar soluções viáveis e métodos de desenho para a fabricação de dispositivos semicondutores de alto desempenho.
Análise de falha de semicondutores
Estruturas de dispositivos semicondutores cada vez mais complexas resultam em mais locais onde defeitos que induzem falhas podem se ocultar. Nossos fluxos de trabalho de última geração o ajudam a localizar e caracterizar problemas elétricos sutis que afetam o rendimento, o desempenho e a confiabilidade.
Style Sheet for Komodo Tabs
Isolamento de falha óptica
Projetos cada vez mais complexos dificultam o isolamento de falhas e defeitos na fabricação de semicondutores. As técnicas de isolamento óptico de falhas permitem analisar o desempenho de dispositivos eletricamente ativos para localizar defeitos críticos que causam falhas no dispositivo.
Isolamento de falha óptica
Projetos cada vez mais complexos dificultam o isolamento de falhas e defeitos na fabricação de semicondutores. As técnicas de isolamento óptico de falhas permitem analisar o desempenho de dispositivos eletricamente ativos para localizar defeitos críticos que causam falhas no dispositivo.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Serviços de microscopia eletrônica para
semicondutores
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
Suporte e recursos para microscopia eletrônica
Folha de estilo para Rodapé de suporte e serviço
Folha de estilo para Fontes
Folha de estilo para Cartões