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AutoScript TEM Software scripting environment
Thermo Scientific AutoScript TEM Software is a scripting environment combining a TEM-specific Python API with the Python editor. Thermo Scientific software packages for electron/ion microscopy, such as Maps Software and Tomography Software for automation and for mapping, are great for making collection of standard information easy. However, industrial automation and fundamental research often require advanced techniques for imaging and analysis that cannot be covered in the scope of general purpose software. AutoScript TEM Software provides access to the microscope controls in a Python environment to define your application tailored to the question at hand.
Automated electron microscopy workflows
AutoScript TEM Software for TEM is the customization toolkit tor transmission electron microscopes. Built around Python, it provides you the power to automate workflows and associated processing pipelines built to solve specific research questions.
AutoScript TEM Software:
- Provides a direct link between research needs and microscope automation
- Enables improved reproducibility and accuracy
- Focuses time on the microscope for higher throughput
- Empowers new scientific results
Key features
Automated electron microscopy and TEM imaging
Integrated IDE
An integrated development environment (IDE) makes it easy to get up and running with AutoScript TEM Software. Object browsing and syntax tools with auto completion are all included to ensure a rich user experience and rapid, consistent scripting framework.
Python
Harness the power of your microscope using the most popular scientific programming language. AutoScript TEM Software is built on Python 3.5 and includes a number of pre-installed libraries for scientific computing, data analysis, data visualization, image processing, and machine learning.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
| System requirements |
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| Common packages |
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| Application examples |
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| Compatibility |
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Style Sheet for Komodo Tabs
AutoScript TEM Software microscope status and controls
- Optics (mode, beam shift, tilt, magnification, rotation)
- Control of Thermo Scientific Selectris Energy Filter
- Stage (movement, position read-out) including piezo stage
- Apertures
- Vacuum (state), column valves controls
- Lorentz mode support
AutoScript TEM Software for image acquisition
- Acquisition (camera and detector control, single image or a sequence, simultaneous acquisition from multiple detectors or segments)
- TEM image acquisition with Thermo Scientific Ceta, Falcon (including counting mode), and SmartCam Cameras
- STEM detectors (insert, retract, gain, offset, individual segments)
- STEM image acquisition with Fischione HAADF, Panther STEM, or Thermo Scientific BF/DF detector
- Acquisition from any segment or combination of segments of Panther STEM
- Post processing of images using integrated Vision Toolkit package
AutoScript TEM Software auto-functions
- TEM autofocus and astigmatism correction
- STEM autofocus including access to OptiSTEM/AutoSTEM (if purchased)
- AutoComa correction
- AI processing available with Scikit-learn
An optional offline mode is available to provide simulation of the microscope. Scripts can be tested offline on user PCs before going to the microscope. Regular updates available with new functionality. For latest information please check: https://www.fei-software-center.com/tem-apps/tem-applications-update-page/
Feature based image segmentation (geological sample).
Compensation of thermal drift during a bulk heating experiment.
Example how to acquire STEM image from12 segments of Panther STEM and HAADF simultaneously
Example of the tile acquisition in TEM. Please also check STEM tiled acquisition script
Example of the tile acquisition in STEM
Example of the work with apertures
Display image metadata
Example of focus series acquisition
Feature based image segmentation (geological sample).
Compensation of thermal drift during a bulk heating experiment.
Example how to acquire STEM image from12 segments of Panther STEM and HAADF simultaneously
Example of the tile acquisition in TEM. Please also check STEM tiled acquisition script
Example of the tile acquisition in STEM
Example of the work with apertures
Display image metadata
Example of focus series acquisition
Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Caracterização de materiais 3D
O desenvolvimento de materiais muitas vezes requer caracterização 3D em várias escalas. Os instrumentos DualBeam permitem a secção em série de grandes volumes e a subsequente geração de imagens SEM nanométricas, que podem ser processadas em reconstruções 3D de alta qualidade da amostra.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Caracterização de materiais 3D
O desenvolvimento de materiais muitas vezes requer caracterização 3D em várias escalas. Os instrumentos DualBeam permitem a secção em série de grandes volumes e a subsequente geração de imagens SEM nanométricas, que podem ser processadas em reconstruções 3D de alta qualidade da amostra.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Serviços de microscopia eletrônica para
a ciência dos materiais
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