Seja estudando novos materiais ou tentando encontrar as causas principais das falhas, a caracterização extremamente localizada de amostras dia a dia mais complexas com características cada vez menores está se tornando ainda mais crítica. Na verdade, a caracterização subsuperfície ou tridimensional geralmente é necessária para entender completamente as propriedades do material de uma amostra. Isso pode ser particularmente útil para materiais heterogêneos ou para a detecção e caracterização de inclusões e precipitados. A instrumentação DualBeam (microscopia eletrônica de varredura com feixe de íons focalizado, FIB SEM) permite a aquisição de conjuntos de dados 3D de alta qualidade, em resolução nanométrica, por seccionamento serial (aplicação sequencial de imagem SEM e desbaste FIB).

FIB plasma (PFIB)

Muitas vezes, volumes grandes, inacessíveis com instrumentos convencionais de FIB de gálio, são necessários para obter resultados representativos e estatisticamente relevantes devido às informações contextuais adicionais que uma amostra grande fornece. Os instrumentos de FIB de plasma, como o PFIB DualBeam da Thermo Scientific Helios G4 e o Thermo Scientific Helios Hydra DualBeam, oferecem excelente desempenho de corrente elevada, permitindo conjuntos de dados 3D totalmente automatizados, de alta qualidade e de grande volume em uma variedade de modalidades. Além disso, a tecnologia de fonte de íons múltipla do Helios Hydra DualBeam permite que você escolha a melhor fonte de íons para cada amostra específica e caso de uso.

O seccionamento serial com FIB de plasma pode fornecer informações sobre contraste de materiais (com formação de imagens de elétrons retroespelhados), informações de composição (com espectroscopia por energia dispersiva) e informações microestruturais e cristalográficas (com difração de retroespelhamento de elétrons). Esses dados podem ser visualizados com o software Thermo Scientific Avizo, que oferece uma solução de fluxo de trabalho exclusiva para resolução máxima, caracterização 3D avançada e análise em escala nanométrica.

PFIB a laser

O sistema PFIB a laser Helios 5 da Thermo Scientific vai além do FIB de plasma regular para realizar cortes transversais e caracterização 3D de volumes ainda maiores, até escala milimétrica (com remoção de material grosso >15.000 vezes mais rápida em comparação com a FIB de gálio). Ele também facilita o processamento de materiais que são normalmente desafiadores para desbaste por feixe de íons, como carregamento e materiais sensíveis a feixe, com danos mínimos.

Zircally sample 3d EBSD reconstruction produced with the Helios DualBeam.
3D EBSD reconstruction of a zircalloy sample (250 x 250 x 220 μm³) produced with the Helios PFIB DualBeam, Auto Slice & View 4 Software, and Avizo Software.

Revestimento de filtro de óleo automotivo (um composto de polímero/fibra de vidro) digitalizado no Helios Hydra DualBeam e reconstruído em um volume 3D no software Avizo. A largura do campo horizontal é de 350 µm.

Imagem de amostra de tecido incorporada no Helios Hydra DualBeam e reconstruída em um volume 3D no software Amira, destacando a capacidade do Helios Hydra DualBeam de realizar caracterização 3D de alta qualidade de materiais orgânicos.

Revestimento de filtro de óleo automotivo (um composto de polímero/fibra de vidro) digitalizado no Helios Hydra DualBeam e reconstruído em um volume 3D no software Avizo. A largura do campo horizontal é de 350 µm.

Imagem de amostra de tecido incorporada no Helios Hydra DualBeam e reconstruída em um volume 3D no software Amira, destacando a capacidade do Helios Hydra DualBeam de realizar caracterização 3D de alta qualidade de materiais orgânicos.

Aplicações

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 


Amostras


Pesquisa de baterias

O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.

Saiba mais ›


Pesquisa de polímeros

A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.

Saiba mais ›


Pesquisa de metais

A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.

Saiba mais ›


Petróleo e gás

À medida que a demanda por petróleo e gás continua, há uma necessidade contínua de extração eficiente e eficaz de hidrocarbonetos. A Thermo Fisher Scientific oferece uma variedade de soluções de microscopia e espectroscopia para diferentes aplicações de ciência do petróleo.

Saiba mais ›


Fibras e filtros

O diâmetro, a morfologia e a densidade das fibras sintéticas são parâmetros fundamentais que determinam a vida útil e a funcionalidade de um filtro. A microscopia eletrônica de varredura (SEM) é a técnica ideal para investigar essas características de forma rápida e fácil.

Saiba mais ›


Pesquisa geológica

A geociência depende da observação consistente e precisa em várias escalas de recursos em amostras de rochas. A SEM-EDS, combinada com software de automação, permite a análise direta e em larga escala da textura e da composição mineral para a pesquisa da petrologia e da mineralogia.

Saiba mais ›


Produtos

Folha de estilo para cartões de instrumentos original

Sistema Helios 5 Laser PFIB

  • Cortes transversais rápidos em escala milimétrica
  • Subsuperfície profunda estatisticamente relevante e análise de dados 3D
  • Compartilha todos os recursos da plataforma Helios 5 PFIB

Helios Hydra DualBeam

  • Quatro espécies de íons alternáveis rápidas (Xe, Ar, O, N) para processamento PFIB otimizado da mais ampla gama de materiais
  • Preparação de amostra TEM sem gálio
  • Imagem SEM de resolução extremamente alta

Helios 5 DualBeam

  • Preparação de amostra TEM ultrafina, totalmente automatizada e de alta qualidade
  • Alta produtividade, subsuperfície de alta resolução e caracterização 3D
  • Recursos rápidos de nanoprototipagem

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Preparação de amostra STEM e TEM sem gálio
  • Subsuperfície multimodal e informações 3D
  • Coluna FIB de plasma de xênon de 2,5 μA de próxima geração

Scios 2 DualBeam

  • Compatibilidade total com amostras magnéticas e não condutoras
  • Subsuperfície de alto rendimento e caracterização 3D
  • Recursos avançados de facilidade de uso e automação

Phenom ParticleX Steel Desktop SEM

  • SEM e EDS integrados
  • Fácil de usar
  • Inclusões submicrométricas

Software Avizo

  • Compatível com vários dados/várias visualizações, vários canais, série temporal, dados muito grandes
  • Registro automático avançado em vários modos 2D/3D
  • Algoritmos de redução de artefatos

Software Maps

  • Adquira imagens de alta resolução em áreas grandes
  • Encontre regiões de interesse facilmente
  • Automatize o processo de aquisição de imagens
  • Correlacione dados de diferentes fontes

Reconstrução 3D

  • Interface de usuário intuitiva, empregabilidade máxima
  • Interface de usuário intuitiva e totalmente automatizada
  • Com base na tecnologia de "forma a partir do sombreamento", não é necessário inclinar o estágio

μHeater

  • Solução de aquecimento ultrarrápida para imagens de alta resolução in situ
  • Totalmente integrado
  • Temperaturas de até 1200 °C

Software Auto Slice and View 4.0

  • Seccionamento serial automatizado para DualBeam
  • Aquisição de dados multimodais (SEM, EDS, EBSD)
  • Recursos de edição imediatos
  • Posicionamento de corte com base na aresta
Folha de estilos para Guias da galeria de mídia

Entre em contato conosco

Folha de estilo para Rodapé de suporte e serviço
Folha de estilo para Fontes
Folha de estilo para Cartões

Serviços de microscopia eletrônica para
a ciência dos materiais

Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.