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Materials Science
SEM in Geology
SEM EDS is a vital part of multi-modal, multi-scale analysis of rocks and minerals.
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SEM mineral identification
Few disciplines rely as heavily on consistent, multi-scale observation and interpretation of features as the earth sciences. Everything from deep earth flow processes to more efficient methods of resource extraction are dependent on accurate sample characterization.
Thermo Fisher Scientific has built a family of imaging platforms and software solutions to facilitate data collection, visualization and analysis during complicated multi-modal, multi-scale characterization routines.
Petrology and mineralogy
Accurate textural analysis and the associated distribution of minerals within the rock texture are key to accurately describing the physical and chemical aspects of a rock system. Automated determination of mineralogy, based on scanning electron microscopy coupled with energy-dispersive X-ray spectroscopy (SEM-EDS), has established itself as a popular method for acquiring high-resolution images and chemical maps in the mining and mineral processing industries. Thermo Fisher Scientific has a 30-year history of delivering market-leading SEM-EDS technology. Here are just a few of the advantages afforded by our petrology and mineralogy solutions;
- Expand the number of samples that can be processed with routine petrologic and mineralogic analysis
- Build a strong statistical repository of mineral content based on automated analysis
- Automatically obtain accurate mineralogical identification
- Create a digital inventory of your thin sections and associated mineral assemblages
- Combine EDS elemental analysis, mineralogy and high-resolution imagery for advanced sample interpretation
- Analyze more samples for more robust statistics
Multi-scale analysis with geoscience software
While context is vital for textural analysis, it is especially important for geological or structural interpretation. Electron imaging captures a large number of modalities in a single acquisition, allowing for direct interpretation of composition and texture. However, simply observing a single frame, or even a series of images, out of context reduces the power of this analysis.
We provide a suite of automation software developed with the express purpose of preserving context. Thermo Scientific Maps Software is the cross-platform automation engine for our full line of electron microscopy imaging platforms. Maps Software takes the pain out of acquiring larger image mosaics within an easy to use and intuitive software environment.
- Preserve context with large, automatically acquired, high-resolution datasets
- Utilize system time efficiently
- Share observations with context for more collaborative data interpretation
Chemical zonation in a plagioclase feldspar sample. Albite is shown in dark blue, labradorite is shown in light blue.
Multi-scale analysis of a sandstone sample. The left image is a slice from a microCT dataset, the right 3 images are from subsequent SEM analysis that interrogated the clay mineralogy present in the pores.
Cross-section overview of the major rock types, revealing varied mineral and structural distribution.
Surface analysis of a rock cross-section. A single mineralogical dataset from SEM-EDS analysis is uniquely capable of telling a rich story on texture and composition.
Multi-scale analysis of a core plug with X-ray microtomography (microCT) and SEM. The initial sample, plus the extracted mini plug, were imaged with HeliScan microCT. A cross-section of the mini plug was then imaged with SEM. The SEM data has been correlated and segmented with Avizo Software.
Chemical zonation in a plagioclase feldspar sample. Albite is shown in dark blue, labradorite is shown in light blue.
Multi-scale analysis of a sandstone sample. The left image is a slice from a microCT dataset, the right 3 images are from subsequent SEM analysis that interrogated the clay mineralogy present in the pores.
Cross-section overview of the major rock types, revealing varied mineral and structural distribution.
Surface analysis of a rock cross-section. A single mineralogical dataset from SEM-EDS analysis is uniquely capable of telling a rich story on texture and composition.
Multi-scale analysis of a core plug with X-ray microtomography (microCT) and SEM. The initial sample, plus the extracted mini plug, were imaged with HeliScan microCT. A cross-section of the mini plug was then imaged with SEM. The SEM data has been correlated and segmented with Avizo Software.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Style Sheet for Komodo Tabs
Caracterização de materiais 3D
O desenvolvimento de materiais muitas vezes requer caracterização 3D em várias escalas. Os instrumentos DualBeam permitem a secção em série de grandes volumes e a subsequente geração de imagens SEM nanométricas, que podem ser processadas em reconstruções 3D de alta qualidade da amostra.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Corte transversal
O corte transversal fornece dados adicionais ao revelar informações de subsuperfície. Os instrumentos DualBeam apresentam excelentes colunas de feixe de íons focalizados para corte transversal de alta qualidade. A automação permite realizar o processamento autônomo de amostras com alta produtividade.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Caracterização de materiais 3D
O desenvolvimento de materiais muitas vezes requer caracterização 3D em várias escalas. Os instrumentos DualBeam permitem a secção em série de grandes volumes e a subsequente geração de imagens SEM nanométricas, que podem ser processadas em reconstruções 3D de alta qualidade da amostra.
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Corte transversal
O corte transversal fornece dados adicionais ao revelar informações de subsuperfície. Os instrumentos DualBeam apresentam excelentes colunas de feixe de íons focalizados para corte transversal de alta qualidade. A automação permite realizar o processamento autônomo de amostras com alta produtividade.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Folha de estilo para cartões de instrumentos original
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Folha de estilo para Rodapé de suporte e serviço
Folha de estilo para Fontes
Folha de estilo para Cartões
Serviços de microscopia eletrônica para
a ciência dos materiais
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
