Espectroscopia de raios X por energia dispersiva

A espectroscopia de raios X por energia dispersiva (EDS, também abreviada como EDX ou XEDS) é uma técnica analítica que permite a caracterização química/análise elementar de materiais. Uma amostra excitada por uma fonte de energia (como o feixe de elétrons de um microscópio eletrônico) dissipa parte da energia absorvida pela ejeção de um elétron da camada nuclear. Em seguida, um elétron de camada externa de energia mais alta avança para preencher seu lugar, liberando a diferença de energia como um raio-X que tem um espectro característico, baseado em seu átomo de origem. Isso permite analisar a composição de um determinado volume de amostra que foi excitado pela fonte de energia. A posição dos picos no espectro identifica o elemento, enquanto a intensidade do sinal corresponde à concentração do elemento.

Mapeamento elementar EDS

Como mencionado anteriormente, um feixe de elétrons fornece energia suficiente para ejetar os elétrons da camada nuclear, causando a emissão de raios X. Informações de composição até o nível atômico, podem ser obtidas com a adição de um detector EDS a um microscópio de elétrons. Conforme a sonda de elétrons varre a amostra, há a emissão e a medição dos raios X característicos e cada espectro EDS registrado é mapeado para uma posição específica na amostra. A qualidade dos resultados depende da intensidade do sinal e da limpeza do espectro. A intensidade do sinal depende muito de uma boa relação de sinal-ruído, particularmente para a detecção de oligoelementos e minimização de dose (que permite um registro mais rápido e resultados livres de artefatos). A limpeza afetará o número de picos espúrios observados; isso é uma consequência dos materiais que compõem a coluna de elétrons.

Análise de materiais EDS

  • Sensível a baixas concentrações: limites mínimos de detecção abaixo de 0,1% nos melhores casos
  • Oferece um alto grau de precisão relativa, geralmente de 2% a 4%
  • Não destrutivo na maioria das situações
  • Geralmente requer esforço e tempo mínimos de preparação da amostra
  • Fornece análises completas de amostras complexas rapidamente, muitas vezes em menos de um minuto

Soluções EDS avançadas e totalmente integradas estão disponíveis nos sistemas TEM, SEM e Desktop da Thermo Scientific.

Software de mapeamento elementar


Recursos

Renderização de superfície segmentada de nanopartículas coloridas com elementos presentes: núcleos de prata (vermelho) com envoltórios de platina (verde). Para aumentar a visibilidade, as cascas de platina são coloridas de forma semitransparente. Amostra de cortesia do Prof. Yi Ding e Prof. Jun Luo, Centro de microscopia de elétrons, Universidade de tecnologia de Tianjin.

Tomografia EDS de nanotubos P-Zn-In. Amostra de cortesia do Dr. Reza Shahbazian Yassar, Universidade de Tecnologia de Michigan.

Renderização de superfície segmentada de nanopartículas coloridas com elementos presentes: núcleos de prata (vermelho) com envoltórios de platina (verde). Para aumentar a visibilidade, as cascas de platina são coloridas de forma semitransparente. Amostra de cortesia do Prof. Yi Ding e Prof. Jun Luo, Centro de microscopia de elétrons, Universidade de tecnologia de Tianjin.

Tomografia EDS de nanotubos P-Zn-In. Amostra de cortesia do Dr. Reza Shahbazian Yassar, Universidade de Tecnologia de Michigan.

Aplicações

Grãos minerais de alumínio encontrados com SEM durante o teste de limpeza de peças

Limpeza
 

Mais do que nunca, a fabricação moderna necessita de componentes confiáveis e de qualidade. Com a microscopia eletrônica de varredura (SEM), a análise de limpeza de peças pode ser feita internamente, fornecendo uma ampla variedade de dados analíticos e encurtando o ciclo de produção.

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 


Amostras


Pesquisa de baterias

O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.

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Pesquisa de polímeros

A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.

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Pesquisa de metais

A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.

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Petróleo e gás

À medida que a demanda por petróleo e gás continua, há uma necessidade contínua de extração eficiente e eficaz de hidrocarbonetos. A Thermo Fisher Scientific oferece uma variedade de soluções de microscopia e espectroscopia para diferentes aplicações de ciência do petróleo.

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Nanopartículas

Os materiais têm propriedades fundamentalmente diferentes nanometricamente e macrometricamente. Para estudá-las, a instrumentação S/TEM pode ser combinada com a espectroscopia de raios X por energia dispersiva para obter dados de resolução nanométrica ou até mesmo subnanométrica.

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Pesquisa geológica

A geociência depende da observação consistente e precisa em várias escalas de recursos em amostras de rochas. A SEM-EDS, combinada com software de automação, permite a análise direta e em larga escala da textura e da composição mineral para a pesquisa da petrologia e da mineralogia.

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Forênsica

Os microtraços de evidências de cena de crime podem ser analisados e comparados usando a microscopia eletrônica como parte de uma investigação forense. As amostras compatíveis incluem fragmentos de vidro e de tinta, marcas de ferramentas, drogas, explosivos e resíduo de disparo de arma de fogo.

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Materiais 2D

A pesquisa de materiais inovadores está cada vez mais interessada na estrutura de materiais de baixa dimensão. A microscopia eletrônica de transmissão de varredura com correção de sonda e monocromação permite a formação de imagens de alta resolução de materiais bidimensionais.

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Pesquisa de catálise

Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.

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Teste de materiais automotivos

Cada componente em um veículo moderno é projetado para segurança, eficiência e desempenho. A caracterização detalhada dos materiais automotivos pela microscopia eletrônica e pela espectroscopia informa as decisões críticas do processo, as melhorias do produto e os novos materiais.

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Produtos

Folha de estilo para cartões de instrumentos original

Spectra 200

  • Imagens de alta resolução e contraste para acelerar tensões de 30 kV a 200 kV
  • Lente objetiva simétrica S-TWIN/X-TWIN com desenho de haste de grande distância de 5,4 mm
  • Resolução da imagem STEM subangstrom de 60 kV a 200 kV

Spectra 300

  • Informações estruturais e químicas de máxima resolução em nível atômico
  • Faixa flexível de alta tensão de 30 kV a 300 kV
  • Sistema condensador de três lentes

Talos L120C TEM

  • Maior estabilidade
  • Câmera 4k × 4K Ceta CMOS
  • Gama de ampliação TEM de 25 kX a 650 kX
  • A análise flexível da EDS revela informações químicas

Talos F200i TEM

  • Imagens S/TEM de alta qualidade e EDS precisa
  • Disponível com tecnologia de EDS dupla
  • Melhores recursos completos in situ
  • Imagem de campo de visão grande em alta velocidade

Talos F200X TEM

  • Alta resolução/produtividade na geração de imagens STEM e na análise química
  • Adicione suportes de amostra in situ para experimentos dinâmicos
  • Apresenta o software Velox para aquisição e análise rápidas e fáceis de dados multimodais

Talos F200C TEM

  • A análise flexível da EDS revela informações químicas
  • Formação de imagens de TEM e STEM de alto contraste e alta qualidade
  • A câmera CMOS Ceta de 16 Mpixel fornece um campo de visão amplo e alta velocidade de leitura

Talos F200S TEM

  • Dados precisos de composição química
  • Imagens de alto desempenho e análise de composição precisa para microscopia dinâmica
  • Apresenta o software Velox para aquisição e análise rápidas e fáceis de dados multimodais

Helios Hydra DualBeam

  • Quatro espécies de íons alternáveis rápidas (Xe, Ar, O, N) para processamento PFIB otimizado da mais ampla gama de materiais
  • Preparação de amostra TEM sem gálio
  • Imagem SEM de resolução extremamente alta

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Preparação de amostra STEM e TEM sem gálio
  • Subsuperfície multimodal e informações 3D
  • Coluna FIB de plasma de xênon de 2,5 μA de próxima geração

Helios 5 DualBeam

  • Preparação de amostra TEM ultrafina, totalmente automatizada e de alta qualidade
  • Alta produtividade, subsuperfície de alta resolução e caracterização 3D
  • Recursos rápidos de nanoprototipagem

Verios 5 XHR SEM

  • SEM monocromática para resolução subnanométrica em toda a faixa de energia de 1 keV a 30 keV
  • Fácil acesso a energias de aterrissagem de feixe de até 20 eV
  • Excelente estabilidade com o estágio piezo como padrão

Quattro ESEM

  • FEG SEM de alta resolução ultraversátil com capacidade ambiental única (ESEM)
  • Observe todas as informações de todas as amostras com imagens simultâneas SE e BSE em cada modo de funcionamento

Prisma E SEM

  • SEM de nível básico com excelente qualidade de imagem
  • Carregamento e navegação de amostras fáceis e rápidos para várias amostras
  • Compatível com uma ampla gama de materiais graças aos modos de vácuo dedicados

VolumeScope 2 SEM

  • Dados 3D isotrópicos de volumes grandes
  • Alto contraste e resolução nos modos de vácuo alto e baixo
  • Alternância simples entre uso SEM normal e geração de imagens seriais de face de bloco

Apreo 2 SEM

  • SEM de alto desempenho para resolução geral nanométrica ou subnanométrica
  • Detector retroespelhado T1 na coluna para contraste de materiais sensíveis e com taxa de TV
  • Excelente desempenho em longas distâncias de trabalho (10 mm)

Scios 2 DualBeam

  • Compatibilidade total com amostras magnéticas e não condutoras
  • Subsuperfície de alto rendimento e caracterização 3D
  • Recursos avançados de facilidade de uso e automação

Phenom XL G2 Desktop SEM

  • Para amostras grandes (100 x 100 mm) e ideal para automação
  • Resolução <10 nm e ampliação de até 200.000 vezes; tensão de aceleração de 4,8 kV até 20 kV
  • Detector EDS e BSE opcional totalmente integrado

Phenom ProX Desktop SEM

  • SEM de mesa de alto desempenho com detector EDS integrado
  • Resolução <8 nm (SE) e <10 nm (BSE); ampliação de até 150.000 vezes
  • Detector SE opcional
 
 

Phenom Pro Desktop SEM

  • SEM de mesa de alto desempenho
  • Resolução <8 nm (SE) e <10 nm (BSE); ampliação de até 150.000 vezes
  • Detector SE opcional

Phenom ParticleX AM Desktop SEM

  • SEM de mesa versátil com software de automação para fabricação aditiva
  • Resolução <10 nm; ampliação de até 200.000 vezes
  • Detector SE opcional

Phenom ParticleX TC Desktop SEM

  • Desktop SEM versátil com software de automação para limpeza técnica
  • Resolução <10 nm; ampliação de até 200.000 vezes
  • Detector SE opcional

Phenom Pure Desktop SEM

  • SEM de mesa de nível básico
  • Resolução <25 nm; ampliação de até 65.000 vezes
  • Fonte CeB6 de longa duração

Phenom Perception GSR Desktop SEM

  • GSR de mesa SEM automatizado dedicado
  • Resolução <10 nm; ampliação de até 200.000 vezes
  • Fonte CeB6 de longa duração

Phenom Pharos Desktop SEM

  • Fonte FEG com faixa de tensão de aceleração de 2 kV a 15 kV
  • Resolução de <2,5 nm (SE) e <4,0 nm (BSE) a 15 kV; ampliação de até 1.000.000 vezes
  • Detector EDS e SE opcional totalmente integrado

AsbestoMetric

  • Ferramenta automatizada para aquisição de imagens, detecção de fibras e geração de relatórios
  • Análise de EDS assistida com revisão de fibra
  • Relatório de padrão ISO sobre análise de amianto

Software Avizo

  • Compatível com vários dados/várias visualizações, vários canais, série temporal, dados muito grandes
  • Registro automático avançado em vários modos 2D/3D
  • Algoritmos de redução de artefatos

Software Inspect 3D

  • Ferramentas e filtros de processamento de imagens para correlação cruzada
  • Rastreamento de recurso para alinhamento de imagem
  • Técnica de reconstrução algébrica para comparação de projeção iterativa

Software Maps

  • Adquira imagens de alta resolução em áreas grandes
  • Encontre regiões de interesse facilmente
  • Automatize o processo de aquisição de imagens
  • Correlacione dados de diferentes fontes

Mapeamento de elementos

  • Informações rápidas e confiáveis sobre a distribuição de elementos dentro da amostra ou da linha selecionada
  • Resultados facilmente exportados e relatados

Reconstrução 3D

  • Interface de usuário intuitiva, empregabilidade máxima
  • Interface de usuário intuitiva e totalmente automatizada
  • Com base na tecnologia de "forma a partir do sombreamento", não é necessário inclinar o estágio

Velox

  • Um painel experimentos no lado esquerdo da janela de processamento.
  • Mapeamento quantitativo ao vivo
  • Interface de layout interativa do detector para configuração e controle de experimentos reproduzíveis
Style Sheet for Komodo Tabs
Folha de estilo para alterar o estilo H2 para p com classe de cabeçalho em-h2

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