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Scanning Electron Microscopes
Phenom ParticleX TC Desktop SEM
Component cleanliness analysis with a multi-purpose desktop SEM.
Watch webinar
Desktop SEM for component cleanliness analysis
The Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM is a multi-purpose desktop SEM enabling technical cleanliness at the microscale.
Materials characterization
A versatile solution for high-quality, in-house analysis, the Phenom ParticleX Desktop SEM gives you the ability to carry out speedy characterization, verification and classification of materials, supporting your production with fast, accurate and trusted data. The system is simple to operate and fast to learn, opening up particle and material analysis to a wider group of users.
Thermo Scientific Phenom ParticleX TC demo
Insights
See how the Phenom ParticleX TC Desktop SEM performs in the real world with case studies, webinars, and more.
Technical cleanliness analysis with an SEM Why
Technical cleanliness
With the growing demand for analysis of smaller particles beyond the scope of light microscopy within (automotive) industries, the Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM enables automated scanning electron microscopy with energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS). This is a major advantage over light microscopy as it enables chemical classification of the particles, providing great insights in your production processes and/or environments. Standard reports compliant with VDA 19 / ISO 16232 or ISO 4406/4407 are available.
Secondary electron detector
A secondary electron detector (SED) is optionally available on the Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM. The SED collects low-energy electrons from the top surface layer of the sample. It is therefore the perfect choice to reveal detailed sample surface information. The SED can be of great use for applications where topography and morphology are important. This is often the case when studying microstructures, fibers or particles.
General SEM usage
The user interface is based on the proven ease-of-use technology applied in the successful Phenom desktop SEM products. The interface enables both existing and new users to quickly become familiar with the system with a minimum of training.
Elemental mapping and line scan
For a user, it is simply click and go to work with the elemental mapping and line scan functionality of the Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) Desktop SEM. The line scan functionality shows the quantified element distribution in a line plot.
ChemiSEM Technology
Thermo Scientific ChemiSEM Technology revolutionizes and simplifies EDS analysis by fully integrating SEM and EDS functions into a single, cohesive user interface. Based on live quantification and building on decades of expertise in EDS analysis, the technology provides elemental information quickly and easily, guaranteeing reliable results in less time. ChemiSEM Technology now comes with a powerful new feature: ChemiPhase. ChemiPhase identifies unique phases with a big data approach, finding minor and trace elements while eliminating user bias and reducing possible mistakes.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
| Electron optical |
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| Electron optical magnification range |
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| Light optical magnification |
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| Resolution |
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| Image resolution options |
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| Acceleration voltages |
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| Vacuum levels |
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| Detector |
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| Sample size |
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| Sample loading time |
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Blogs SEM Desktop
Deseja conhecer o grande poder da microscopia eletrônica de varredura sem comprometer a usabilidade? Aprimore seu conhecimento sobre a microscopia eletrônica de varredura e descubra como os SEMs Desktop são perfeitamente compatíveis com a pesquisa em nossos blogs Phenom Desktop SEM.
Mineral fiber automatically detected and characterized by Phenom ParticleX TC.
Large mineral fiber automatically detected and characterized by Phenom ParticleX TC.
Screenshot Elemental Mapping.
SEM image of smartphone.
SED image taken with Phenom ParticleX.
SEM image of cable.
SEM image of textile.
Alexander Bouman on the new Phenom ParticleX
Watch Phenom ParticleX Desktop SEM: Quality Starts at the Microscale
Watch this on-demand webinar to learn how Phenom ParticleX desktop SEMs are the ideal solution for:
- ISO 16232 and VDA-19 Compliance for Technical Cleanliness.
- ISO 4406 and ISO 4407 for contamination of hydraulic fluids.
- Particle morphology for additive manufacturing feedstocks.
- Workflow examples for particle classifications and reporting.
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series
In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
- How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
- Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
- Speed up your automated gunshot residue analysis
- Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
- Understand your steel with automated inclusion analysis
- One tool for complete AM powder characterization
Mineral fiber automatically detected and characterized by Phenom ParticleX TC.
Large mineral fiber automatically detected and characterized by Phenom ParticleX TC.
Screenshot Elemental Mapping.
SEM image of smartphone.
SED image taken with Phenom ParticleX.
SEM image of cable.
SEM image of textile.
Alexander Bouman on the new Phenom ParticleX
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- ISO 16232 and VDA-19 Compliance for Technical Cleanliness.
- ISO 4406 and ISO 4407 for contamination of hydraulic fluids.
- Particle morphology for additive manufacturing feedstocks.
- Workflow examples for particle classifications and reporting.
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This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
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- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
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In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
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- Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
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- Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
- Understand your steel with automated inclusion analysis
- One tool for complete AM powder characterization
Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Limpeza
Mais do que nunca, a fabricação moderna necessita de componentes confiáveis e de qualidade. Com a microscopia eletrônica de varredura (SEM), a análise de limpeza de peças pode ser feita internamente, fornecendo uma ampla variedade de dados analíticos e encurtando o ciclo de produção.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Mapeamento elementar em escala atômica com EDS
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Mapeamento elementar em escala atômica com EDS
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
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Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
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