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Os processos industriais modernos exigem alta produtividade para uma produção econômica. Esse ritmo é medido pela necessidade de qualidade, confiabilidade e consistência no produto final. Portanto, o controle de processos procura otimizar e regular a produção para encontrar um equilíbrio entre a produção e a qualidade. O monitoramento de vários parâmetros, como tamanho, morfologia e impurezas, deve ser o mais eficiente possível para minimizar o impacto da análise no tempo de produção geral. Além disso, as observações devem ser altamente confiáveis para garantir que os ajustes do processo sejam baseados nas características reais da amostra.
Apesar dos dados altamente versáteis e valiosos que podem ser obtidos em microscópios eletrônicos (EM), esses instrumentos historicamente têm sido impraticáveis para aplicações de controle de processos devido à necessidade de operação manual. Hoje, com o advento de ferramentas dedicadas e software automatizado, o EM está se tornando uma parte vital do monitoramento e da análise da produção. É até possível obter informações químicas e estruturais por meio do acoplamento da espectroscopia de raios X por energia dispersiva (EDS) com imagens de microscopia eletrônica dentro do mesmo instrumento.
As ferramentas de microscopia eletrônica de varredura (SEM) são capazes de visualizar, quantificar e relatar automaticamente partículas, inclusões e falhas em nível submicrométrico a nanométrico que causam um impacto fundamental na qualidade do produto. Para obter detalhes ainda maiores, os microscópios eletrônicos de transmissão (TEM) são capazes de observar e caracterizar recursos subnanométricos, como a composição estrutural e elementar de nanopartículas. Essa análise rápida, realizada em questão de minutos, produz estatísticas robustas e úteis sobre os principais parâmetros da amostra para controle e aprimoramento de processos críticos. Por fim, havendo a necessidade de informações de subsuperfície, as ferramentas DualBeam (feixe de íons focalizados e SEM) são capazes de sondar amostras alternando o desbaste de superfície e a geração de imagens, fornecendo informações 3D, como espessura da camada.
A Thermo Fisher Scientific oferece uma variedade de soluções de hardware e software dedicadas a aplicações de controle de processos. Siga os links abaixo para obter informações adicionais.
Zinc phosphate on sheet metal imaged with SEM.
Additive manufacturing powder imaged with SEM. Morphological classification, to separate particles and agglomerates, can subsequently be performed in analysis software.
Through a combination of Maps, Velox and Avizo Software the Talos TEM can automatically produce and analyze large-area TEM data such as a collection of nanoparticles. Here, the subsequent data analysis reveals the distribution of particle diameter. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.
Large-area TEM image of nanoparticles produced by a Thermo Scientific Talos TEM. In the subsequent image these particles are automatically analyzed and sorted according to size. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.
Through a combination of Maps, Velox and Avizo Software the Talos TEM can automatically produce and analyze large-area TEM data such as this collection of nanoparticles. Here, color corresponds to particle size; this data can subsequently be quantified and analyzed. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.
Zinc phosphate on sheet metal imaged with SEM.
Additive manufacturing powder imaged with SEM. Morphological classification, to separate particles and agglomerates, can subsequently be performed in analysis software.
Through a combination of Maps, Velox and Avizo Software the Talos TEM can automatically produce and analyze large-area TEM data such as a collection of nanoparticles. Here, the subsequent data analysis reveals the distribution of particle diameter. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.
Large-area TEM image of nanoparticles produced by a Thermo Scientific Talos TEM. In the subsequent image these particles are automatically analyzed and sorted according to size. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.
Through a combination of Maps, Velox and Avizo Software the Talos TEM can automatically produce and analyze large-area TEM data such as this collection of nanoparticles. Here, color corresponds to particle size; this data can subsequently be quantified and analyzed. Sample courtesy of Prof. B. Gorman and Prof. R. Richards, Colorado School of Mines.
Pesquisa de baterias
O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.
Nanopartículas
Os materiais têm propriedades fundamentalmente diferentes nanometricamente e macrometricamente. Para estudá-las, a instrumentação S/TEM pode ser combinada com a espectroscopia de raios X por energia dispersiva para obter dados de resolução nanométrica ou até mesmo subnanométrica.
Pesquisa de metais
A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.
Pesquisa de catálise
Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.
Pesquisa de polímeros
A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.
Materiais 2D
A pesquisa de materiais inovadores está cada vez mais interessada na estrutura de materiais de baixa dimensão. A microscopia eletrônica de transmissão de varredura com correção de sonda e monocromação permite a formação de imagens de alta resolução de materiais bidimensionais.
Teste de materiais automotivos
Cada componente em um veículo moderno é projetado para segurança, eficiência e desempenho. A caracterização detalhada dos materiais automotivos pela microscopia eletrônica e pela espectroscopia informa as decisões críticas do processo, as melhorias do produto e os novos materiais.
Folha de estilo para Guia de técnicas e galeria de mídia
Preparação de amostra (S)TEM
Os microscópios DualBeam permitem a preparação de amostras ultrafinas e de alta qualidade para análise de (S)TEM. Graças à automação avançada, os usuários com qualquer nível de experiência podem obter resultados de nível especializado para uma ampla gama de materiais.
Caracterização de materiais 3D
O desenvolvimento de materiais muitas vezes requer caracterização 3D em várias escalas. Os instrumentos DualBeam permitem a secção em série de grandes volumes e a subsequente geração de imagens SEM nanométricas, que podem ser processadas em reconstruções 3D de alta qualidade da amostra.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
ColorSEM
Usando a EDS (espectroscopia de raios X por energia dispersiva) com quantificação ao vivo, a tecnologia ColorSEM transforma as imagens SEM em uma técnica colorida. Agora, qualquer usuário pode adquirir dados elementares continuamente para obter informações mais completas do que nunca.
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SEM ambiental (ESEM)
A SEM ambiental permite a geração de imagens dos materiais em seu estado nativo. Isso é perfeitamente adequado para pesquisadores acadêmicos e industriais que precisam testar e analisar amostras molhadas, sujas, reativas, gasosas ou não compatíveis com vácuo.
Experimentação in situ
A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Fluxo de trabalho de partículas automatizado
O fluxo de trabalho de nanopartículas automatizado (APW) consiste em um fluxo de trabalho de microscópio eletrônico de transmissão para análise de nanopartículas, oferecendo imagens de grande área e alta resolução e aquisição de dados nanométricos em um processamento dinâmico.
Preparação de amostra (S)TEM
Os microscópios DualBeam permitem a preparação de amostras ultrafinas e de alta qualidade para análise de (S)TEM. Graças à automação avançada, os usuários com qualquer nível de experiência podem obter resultados de nível especializado para uma ampla gama de materiais.
Caracterização de materiais 3D
O desenvolvimento de materiais muitas vezes requer caracterização 3D em várias escalas. Os instrumentos DualBeam permitem a secção em série de grandes volumes e a subsequente geração de imagens SEM nanométricas, que podem ser processadas em reconstruções 3D de alta qualidade da amostra.
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
ColorSEM
Usando a EDS (espectroscopia de raios X por energia dispersiva) com quantificação ao vivo, a tecnologia ColorSEM transforma as imagens SEM em uma técnica colorida. Agora, qualquer usuário pode adquirir dados elementares continuamente para obter informações mais completas do que nunca.
SEM ambiental (ESEM)
A SEM ambiental permite a geração de imagens dos materiais em seu estado nativo. Isso é perfeitamente adequado para pesquisadores acadêmicos e industriais que precisam testar e analisar amostras molhadas, sujas, reativas, gasosas ou não compatíveis com vácuo.
Experimentação in situ
A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Fluxo de trabalho de partículas automatizado
O fluxo de trabalho de nanopartículas automatizado (APW) consiste em um fluxo de trabalho de microscópio eletrônico de transmissão para análise de nanopartículas, oferecendo imagens de grande área e alta resolução e aquisição de dados nanométricos em um processamento dinâmico.
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