O fluxo de trabalho de partículas automatizado (APW) da Thermo Scientific fornece análise totalmente automatizada de pequenas partículas nas nossas plataformas do microscópio eletrônico de transmissão (varredura) Talos da Thermo Scientific  e do Spectra (S)TEM da Thermo Scientific.  Por meio de uma combinação exclusiva de software e hardware, o APW oferece acesso a imagens de área grande e aquisição de dados analíticos, em alta resolução, juntamente com processamento de dados avançado, automatizado e dinâmico.

Com o APW, você será capaz de:

  • Fornecer informações relevantes estaticamente em nanoescala
  • Aumentar a precisão de seus dados por meio da automação
  • Reduzir o custo por medição por meio de um processo repetido e autônomo
  • Acelerar o desenvolvimento de produtos por meio de uma triagem mais rápida de novos materiais
  • Simplificar os fluxos de trabalho pela substituição dos métodos menos precisos

O APW permite que você adquira dados significativos e estatisticamente relevantes em uma variedade de amostras, incluindo:

  • A distribuição heterogênea de nanopartículas catalíticas em grandes portadores
  • Nanopartículas em bens de consumo, como aditivos alimentares, cosméticos e tintas
  • Precipitados/inclusões em amostras de metal, como aço e alumínio

Esses dados incluem morfologia, composição química e informações estruturais, como tamanho, forma e distribuição de nanopartículas, todas disponíveis em pouco tempo. (Por exemplo, uma imagem de 25 x 25 μm pode ser obtida com resolução nanométrica em menos de 20 minutos.)

O pacote APW fornece todo o software e o hardware necessários para uma análise fácil, automatizada e autônoma da amostra com STEM e espectroscopia de energia dispersiva (EDS), fornecendo as estatísticas cientificamente significativas de que você precisa. O APW contém uma atualização de computador para o Talos ou o Spectra (S)TEM, software de aquisição (Software Maps 3 da Thermo Scientific para (S)TEM e EDS, habilitado pelo software Velox da Thermo Scientific), software de processamento (software Avizo2D da Thermo Scientific) em um computador de processamento de dados dedicado e uma ponte entre o software de aquisição e processamento.


Aplicações

Process Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de processo
 

A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.

 

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 

Mapeamento elementar em escala atômica com EDS

A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.

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Análise elementar EDS

A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.

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Análise de partículas

A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.

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Mapeamento elementar em escala atômica com EDS

A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.

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Análise elementar EDS

A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.

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Análise de partículas

A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.

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Amostras


Nanopartículas

Os materiais têm propriedades fundamentalmente diferentes nanometricamente e macrometricamente. Para estudá-las, a instrumentação S/TEM pode ser combinada com a espectroscopia de raios X por energia dispersiva para obter dados de resolução nanométrica ou até mesmo subnanométrica.

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Pesquisa de catálise

Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.

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Produtos

Folha de estilo para cartões de instrumentos original

Spectra 300

  • Informações estruturais e químicas de máxima resolução em nível atômico
  • Faixa flexível de alta tensão de 30 kV a 300 kV
  • Sistema condensador de três lentes

Spectra 200

  • Imagens de alta resolução e contraste para acelerar tensões de 30 kV a 200 kV
  • Lente objetiva simétrica S-TWIN/X-TWIN com desenho de haste de grande distância de 5,4 mm
  • Resolução da imagem STEM subangstrom de 60 kV a 200 kV

Talos F200i TEM

  • Imagens S/TEM de alta qualidade e EDS precisa
  • Disponível com tecnologia de EDS dupla
  • Melhores recursos completos in situ
  • Imagem de campo de visão grande em alta velocidade

Talos F200S TEM

  • Dados precisos de composição química
  • Imagens de alto desempenho e análise de composição precisa para microscopia dinâmica
  • Apresenta o software Velox para aquisição e análise rápidas e fáceis de dados multimodais

Talos F200X TEM

  • Alta resolução/produtividade na geração de imagens STEM e na análise química
  • Adicione suportes de amostra in situ para experimentos dinâmicos
  • Apresenta o software Velox para aquisição e análise rápidas e fáceis de dados multimodais

Software Maps

  • Adquira imagens de alta resolução em áreas grandes
  • Encontre regiões de interesse facilmente
  • Automatize o processo de aquisição de imagens
  • Correlacione dados de diferentes fontes

Software Avizo

  • Compatível com vários dados/várias visualizações, vários canais, série temporal, dados muito grandes
  • Registro automático avançado em vários modos 2D/3D
  • Algoritmos de redução de artefatos

Velox

  • Um painel experimentos no lado esquerdo da janela de processamento.
  • Mapeamento quantitativo ao vivo
  • Interface de layout interativa do detector para configuração e controle de experimentos reproduzíveis
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