A morfologia, a estrutura, a forma e o tamanho das partículas têm uma função importante em suas propriedades químicas e físicas. Trata-se de um fato particularmente verdadeiro para as nanopartículas. Estas apresentam características físicas fundamentalmente diferentes dos materiais correspondentes em massa (na escala macro). Por exemplo, o tamanho das nanopartículas semicondutoras pode alterar a frequência e o comprimento de onda da luz que emitem, tornando vital o controle preciso de suas dimensões para aplicações optoeletrônicas práticas. Entender as propriedades estruturais e químicas dessas partículas e como elas podem ser modificadas requer uma análise precisa que só é possível com ferramentas como a microscopia eletrônica.

Outro exemplo é a fabricação aditiva, que utiliza pós de alimentação metálicos para produzir componentes projetados e desenhados com precisão. A qualidade e a consistência das partículas do pó de alimentação têm um impacto direto na qualidade da peça fabricada. A caracterização química e física é necessária porque as variações na morfologia e na química das partículas podem provocar camadas irregulares, aumento de defeitos e até mesmo falhas catastróficas. Por outro lado, o estudo visual preciso desses pós pode ensejar inovações e melhorias em desenho, desenvolvimento e controle de qualidade.

A Thermo Fisher Scientific oferece uma variedade de soluções de microscopia, acompanhadas de software de análise avançada, que auxiliam na caracterização de partículas. Dispomos de hardware e software desenvolvidos para fornecer análise automatizada e precisa de partículas e pós de alimentação para todas as necessidades.

Aplicações

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Controle de processo
 

A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.

 

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Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

Grãos minerais de alumínio encontrados com SEM durante o teste de limpeza de peças

Limpeza
 

Mais do que nunca, a fabricação moderna necessita de componentes confiáveis e de qualidade. Com a microscopia eletrônica de varredura (SEM), a análise de limpeza de peças pode ser feita internamente, fornecendo uma ampla variedade de dados analíticos e encurtando o ciclo de produção.

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Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 


Amostras


Pesquisa de baterias

O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.

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Teste de materiais automotivos

Cada componente em um veículo moderno é projetado para segurança, eficiência e desempenho. A caracterização detalhada dos materiais automotivos pela microscopia eletrônica e pela espectroscopia informa as decisões críticas do processo, as melhorias do produto e os novos materiais.

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Pesquisa de metais

A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.

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Materiais 2D

A pesquisa de materiais inovadores está cada vez mais interessada na estrutura de materiais de baixa dimensão. A microscopia eletrônica de transmissão de varredura com correção de sonda e monocromação permite a formação de imagens de alta resolução de materiais bidimensionais.

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Pesquisa de polímeros

A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.

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Nanopartículas

Os materiais têm propriedades fundamentalmente diferentes nanometricamente e macrometricamente. Para estudá-las, a instrumentação S/TEM pode ser combinada com a espectroscopia de raios X por energia dispersiva para obter dados de resolução nanométrica ou até mesmo subnanométrica.

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Pesquisa de catálise

Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.

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Produtos

Folha de estilo para cartões de instrumentos original

Axia ChemiSEM

  • Mapeamento elementar quantitativo ao vivo
  • Imagens por microscopia eletrônica de varredura de alta fidelidade
  • Flexível e fácil de usar, mesmo para usuários iniciantes
  • Manutenção fácil

Apreo 2 SEM

  • SEM de alto desempenho para resolução geral nanométrica ou subnanométrica
  • Detector retroespelhado T1 na coluna para contraste de materiais sensíveis e com taxa de TV
  • Excelente desempenho em longas distâncias de trabalho (10 mm)

Phenom XL G2 Desktop SEM

  • Para amostras grandes (100 x 100 mm) e ideal para automação
  • Resolução <10 nm e ampliação de até 200.000 vezes; tensão de aceleração de 4,8 kV até 20 kV
  • Detector EDS e BSE opcional totalmente integrado

Phenom Pro Desktop SEM

  • SEM de mesa de alto desempenho
  • Resolução <8 nm (SE) e <10 nm (BSE); ampliação de até 150.000 vezes
  • Detector SE opcional

Phenom ProX Desktop SEM

  • SEM de mesa de alto desempenho com detector EDS integrado
  • Resolução <8 nm (SE) e <10 nm (BSE); ampliação de até 150.000 vezes
  • Detector SE opcional
 
 

Phenom Pure SEM

  • Módulo de imagem
  • Monitor de 19"
  • Bomba de vácuo de diafragma

Phenom ParticleX AM Desktop SEM

  • SEM de mesa versátil com software de automação para fabricação aditiva
  • Resolução <10 nm; ampliação de até 200.000 vezes
  • Detector SE opcional

Phenom ParticleX TC Desktop SEM

  • Desktop SEM versátil com software de automação para limpeza técnica
  • Resolução <10 nm; ampliação de até 200.000 vezes
  • Detector SE opcional

Phenom Perception GSR Desktop SEM

  • GSR de mesa SEM automatizado dedicado
  • Resolução <10 nm; ampliação de até 200.000 vezes
  • Fonte CeB6 de longa duração

Phenom Pharos Desktop SEM

  • Fonte FEG com faixa de tensão de aceleração de 2 kV a 15 kV
  • Resolução de <2,5 nm (SE) e <4,0 nm (BSE) a 15 kV; ampliação de até 1.000.000 vezes
  • Detector EDS e SE opcional totalmente integrado

Talos F200S TEM

  • Dados precisos de composição química
  • Imagens de alto desempenho e análise de composição precisa para microscopia dinâmica
  • Apresenta o software Velox para aquisição e análise rápidas e fáceis de dados multimodais

Talos F200X TEM

  • Alta resolução/produtividade na geração de imagens STEM e na análise química
  • Adicione suportes de amostra in situ para experimentos dinâmicos
  • Apresenta o software Velox para aquisição e análise rápidas e fáceis de dados multimodais

Talos F200C TEM

  • A análise flexível da EDS revela informações químicas
  • Formação de imagens de TEM e STEM de alto contraste e alta qualidade
  • A câmera CMOS Ceta de 16 Mpixel fornece um campo de visão amplo e alta velocidade de leitura

Talos F200i TEM

  • Imagens S/TEM de alta qualidade e EDS precisa
  • Disponível com tecnologia de EDS dupla
  • Melhores recursos completos in situ
  • Imagem de campo de visão grande em alta velocidade

Software Avizo

  • Compatível com vários dados/várias visualizações, vários canais, série temporal, dados muito grandes
  • Registro automático avançado em vários modos 2D/3D
  • Algoritmos de redução de artefatos

Software Maps

  • Adquira imagens de alta resolução em áreas grandes
  • Encontre regiões de interesse facilmente
  • Automatize o processo de aquisição de imagens
  • Correlacione dados de diferentes fontes

Velox

  • Um painel experimentos no lado esquerdo da janela de processamento.
  • Mapeamento quantitativo ao vivo
  • Interface de layout interativa do detector para configuração e controle de experimentos reproduzíveis

Mapeamento de elementos

  • Informações rápidas e confiáveis sobre a distribuição de elementos dentro da amostra ou da linha selecionada
  • Resultados facilmente exportados e relatados

Dispersor de partículas Nebula

  • Método padrão para dispersão uniforme de pó seco
  • Evita aglomerados de partículas
  • Usado com o Phenom Desktop SEM

ParticleMetric

  • Software integrado no ProSuite para análise on-line e off-line
  • Correlação das características da partícula, como diâmetro, circularidade, proporção e convexidade
  • Criação de conjuntos de dados de imagem com o mapeamento de imagem automatizado
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