Phenom Pro Desktop SEM

The sixth-generation of Thermo Scientific Phenom Pro G6 Desktop SEM fills the gap between light microscopy and floor-model SEM analysis, thus expanding the capabilities of research facilities.

Fast and easy to use, the Phenom Pro G6 Desktop SEM can be used to relieve the burden of routine analysis for common samples from floor-model SEM instruments. Instrument configuration and the sample loading mechanism ensure quick imaging with minimal time spent tuning between experiments.

Facility users of any experience level can quickly begin producing high-quality results with the Phenom Pro G6 Desktop SEM. Its long-lifetime CeB6 source offers high brightness while requiring low maintenance. Additionally, its high stability and small form factor allow the instrument to be used in practically any lab environment; more simply put, it does not require specialized infrastructure or expert oversight.

Key Features

Effortless

The color navigation camera in the Phenom Pro Desktop SEM provides information that helps you make the link between optical and electron optical images. Users are ready to take images after only 10 minutes of basic training. A large variety of sample holders is available to accommodate a range of applications. Sample loading is fast and easy thanks to our patented sample vacuum loading technology.

Phenom ProSuite Software

Thermo Scientific Phenom ProSuite Software is an optional software application platform that has been developed to further enhance the capabilities of the Phenom desktop SEM. Phenom ProSuite Software enables maximum information to be extracted from images obtained on the Phenom Pro Desktop SEM. 

Secondary electron detector

A secondary electron detector (SED) is optionally available on the Phenom Pro Desktop SEM. The SED collects low-energy electrons from the top surface layer of the sample. It is therefore the perfect choice to reveal detailed sample surface information. 

ChemiSEM Technology

Thermo Scientific ChemiSEM Technology revolutionizes and simplifies EDS analysis by fully integrating SEM and EDS functions into a single, cohesive user interface. Based on live quantification and building on decades of expertise in EDS analysis, the technology provides elemental information quickly and easily, guaranteeing reliable results in less time. ChemiSEM Technology now comes with a powerful new feature: ChemiPhase. ChemiPhase identifies unique phases with a big data approach, finding minor and trace elements while eliminating user bias and reducing possible mistakes.

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Specifications

Folha de estilo para especificações de tabela de produtos

Light optical magnification

  • 20-134x

Electron optical magnification range

  • 160-350,000x

Resolution

  • ≤ 6 nm SED and ≤ 8 nm BSD

Digital zoom

  • Max. 12x

Light optical navigation camera

  • Color

Acceleration voltages

  • Default: 5 kV, 10 kV and 15 kV
  • Advanced mode: adjustable range between 4.8 kV and 20.5 kV imaging mode

Vacuum modes

  • High vacuum mode
  • Charge reduction mode via optional low vacuum sample holder

Detector

  • Backscattered electron detector (standard)
  • Energy dispersive X-ray spectroscopy detector (optional)
  • Secondary electron detector (optional)

Sample size

  • Up to 25 mm diameter
  • 32 mm (optional)

Sample height

  • Up to 35 mm
  • 100 mm (optional)

Blogs SEM Desktop

Deseja conhecer o grande poder da microscopia eletrônica de varredura sem comprometer a usabilidade? Aprimore seu conhecimento sobre a microscopia eletrônica de varredura e descubra como os SEMs Desktop são perfeitamente compatíveis com a pesquisa em nossos blogs Phenom Desktop SEM.

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Resources

Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs

This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:

  • How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
  • How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
  • How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.

Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs

This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:

  • How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
  • How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
  • How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.

Applications

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Controle de processo
 

A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.

 

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

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Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 

Techniques

Análise elementar EDS

A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.

Saiba mais ›

Tomografia EDS 3D

A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.

Saiba mais ›

Mapeamento elementar em escala atômica com EDS

A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.

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Geração de imagens de amostras quentes

O estudo de materiais em condições reais muitas vezes envolve trabalhar em altas temperaturas. O comportamento dos materiais à medida que eles se recristalizam, derretem, deformam ou reagem na presença de calor pode ser estudado in situ com microscopia eletrônica de varredura ou ferramentas DualBeam.

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Experimentação in situ

A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.

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Análise em várias escalas

Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.

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Análise elementar EDS

A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.

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Tomografia EDS 3D

A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.

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Mapeamento elementar em escala atômica com EDS

A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.

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Geração de imagens de amostras quentes

O estudo de materiais em condições reais muitas vezes envolve trabalhar em altas temperaturas. O comportamento dos materiais à medida que eles se recristalizam, derretem, deformam ou reagem na presença de calor pode ser estudado in situ com microscopia eletrônica de varredura ou ferramentas DualBeam.

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Experimentação in situ

A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.

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Análise em várias escalas

Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.

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Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.

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