In situ analysis

As materials research continues to advance, it is becoming increasingly important to not only observe materials in their initial and final state but also throughout their various applications. This might include imaging metal feedstocks as they are heated for additive manufacturing or wetting and drying of functionalized nanoparticles in order to understand their behavior in real-world conditions. Characterizing these behaviors is crucial as they impact critical research areas such as clean energy, transportation, catalysis, nano-electronics, and even human health.

In situ electron microscopy

While electron microscopy (EM) has traditionally been a static imaging method, advances in sample handling and rapid imaging have allowed the technique to be used for live, in situ observations. The high resolution of EM enables you to investigate nanoscale annealing behavior, phase transformations in metals, structural changes, sintering phenomena in catalysts, segregation/diffusion phenomena, and more.

In situ EM analysis of materials requires that the instruments offer fast and quantitative data acquisition along with dynamic high-resolution imaging. This is especially important when the investigated processes are dependent on rapidly changeable variables like temperature or humidity. For such dynamic experiments, the combination of flexibility in sample imaging, the ability to use different beam and vacuum conditions, and the fast collection of compositional data are indispensable.

A piece of solder heated and cooled directly within the scanning electron microscope. (Video)

In situ electron microscopes from Thermo Fisher Scientific

Thermo Scientific Environmental scanning electron microscopy (ESEM) and DualBeam (focused ion beam SEM) systems can operate under a variety of conditions that are needed for realistic in situ experiments. In particular, the MEMS-based Thermo Scientific μHeater Holder, in combination with in situ sample preparation, provides high-quality characterization at elevated temperatures.


Resources

Sodium chloride crystals dissolving and recrystallizing, observed directly in the low-vacuum mode of an environmental SEM.
Tissue fiber wetting and drying observed directly in the low-vacuum mode of an environmental SEM.
Metal nanoparticles coalescing as they are heated.
Sodium chloride crystals dissolving and recrystallizing, observed directly in the low-vacuum mode of an environmental SEM.
Tissue fiber wetting and drying observed directly in the low-vacuum mode of an environmental SEM.
Metal nanoparticles coalescing as they are heated.

Applications

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Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

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Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 


Samples


Pesquisa de baterias

O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.

Saiba mais ›


Pesquisa de polímeros

A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.

Saiba mais ›


Pesquisa de metais

A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.

Saiba mais ›


Pesquisa de catálise

Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.

Saiba mais ›


Nanopartículas

Os materiais têm propriedades fundamentalmente diferentes nanometricamente e macrometricamente. Para estudá-las, a instrumentação S/TEM pode ser combinada com a espectroscopia de raios X por energia dispersiva para obter dados de resolução nanométrica ou até mesmo subnanométrica.

Saiba mais ›


Products

Folha de estilo para cartões de instrumentos original

Helios Hydra DualBeam

  • Quatro espécies de íons alternáveis rápidas (Xe, Ar, O, N) para processamento PFIB otimizado da mais ampla gama de materiais
  • Preparação de amostra TEM sem gálio
  • Imagem SEM de resolução extremamente alta

Helios 5 DualBeam

  • Preparação de amostra TEM ultrafina, totalmente automatizada e de alta qualidade
  • Alta produtividade, subsuperfície de alta resolução e caracterização 3D
  • Recursos rápidos de nanoprototipagem

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Preparação de amostra STEM e TEM sem gálio
  • Subsuperfície multimodal e informações 3D
  • Coluna FIB de plasma de xênon de 2,5 μA de próxima geração

Scios 2 DualBeam

  • Compatibilidade total com amostras magnéticas e não condutoras
  • Subsuperfície de alto rendimento e caracterização 3D
  • Recursos avançados de facilidade de uso e automação

Quattro ESEM

  • FEG SEM de alta resolução ultraversátil com capacidade ambiental única (ESEM)
  • Observe todas as informações de todas as amostras com imagens simultâneas SE e BSE em cada modo de funcionamento

Apreo 2 SEM

  • SEM de alto desempenho para resolução geral nanométrica ou subnanométrica
  • Detector retroespelhado T1 na coluna para contraste de materiais sensíveis e com taxa de TV
  • Excelente desempenho em longas distâncias de trabalho (10 mm)

Prisma E SEM

  • SEM de nível básico com excelente qualidade de imagem
  • Carregamento e navegação de amostras fáceis e rápidos para várias amostras
  • Compatível com uma ampla gama de materiais graças aos modos de vácuo dedicados

Verios 5 XHR SEM

  • SEM monocromática para resolução subnanométrica em toda a faixa de energia de 1 keV a 30 keV
  • Fácil acesso a energias de aterrissagem de feixe de até 20 eV
  • Excelente estabilidade com o estágio piezo como padrão

AutoScript 4

  • melhor reprodutibilidade e precisão
  • Geração de imagens e padronização não assistidas e de alta produtividade
  • Compatível com ambiente de script baseado em Python 3.5

μHeater

  • Solução de aquecimento ultrarrápida para imagens de alta resolução in situ
  • Totalmente integrado
  • Temperaturas de até 1200 °C

Software Auto Slice and View 4.0

  • Seccionamento serial automatizado para DualBeam
  • Aquisição de dados multimodais (SEM, EDS, EBSD)
  • Recursos de edição imediatos
  • Posicionamento de corte com base na aresta

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