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Autoscript 4 Software for scanning electron microscopy and FIB SEM
Automation software packages for electron/ion microscopy like Thermo Scientific Maps and Thermo Scientific Auto Slice and View are great for making collection of standard imaging techniques easy. However, working to achieve cutting edge research goals or to meet specific industrial requirements is seldom standard.
Industrial automation as well as fundamental research often requires advanced techniques for imaging and analysis that cannot be covered in the scope of general purpose software.
Automated electron microscopy and FIB SEM imaging
Thermo Scientific AutoScript 4 Software is the customization toolkit for electron and ion microscopy. Built around Python, Autoscript Software provides you the power to automate imaging and associated processing pipelines built to solve specific research questions.
AutoScript Software:
- Provides a direct link between research needs and microscope automation
- Enables improved reproducibility and accuracy
- Focuses time on the microscope for higher throughput
Integrated IDE
An integrated development environment (IDE) makes it easy to get up and running with AutoScript Software. Object browsing and syntax tools with auto completion are all included to ensure a rich user experience and rapid, consistent scripting framework.
Python
Harness the power of your microscope using the most popular scientific programming language. Autoscript Software is built on Python 3.5 and includes a number of pre-installed libraries for scientific computing, data analysis, data visualization, image processing, and machine learning.
Scripting toolbox
AutoScript 4 Software comes bundled with a set of commonly needed, prebuilt routines. Not starting from scratch means more time to focus on developing the scripts that define the unique workflow for your research.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
| Supported microscope control methods |
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| Common packages |
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| Application examples |
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| Compatibility |
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Style Sheet for Komodo Tabs
Feature based image segmentation (geological sample).
Compensation of thermal drift during a bulk heating experiment.
Feature based image segmentation (geological sample).
Compensation of thermal drift during a bulk heating experiment.
Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Caracterização de materiais 3D
O desenvolvimento de materiais muitas vezes requer caracterização 3D em várias escalas. Os instrumentos DualBeam permitem a secção em série de grandes volumes e a subsequente geração de imagens SEM nanométricas, que podem ser processadas em reconstruções 3D de alta qualidade da amostra.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Caracterização de materiais 3D
O desenvolvimento de materiais muitas vezes requer caracterização 3D em várias escalas. Os instrumentos DualBeam permitem a secção em série de grandes volumes e a subsequente geração de imagens SEM nanométricas, que podem ser processadas em reconstruções 3D de alta qualidade da amostra.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Serviços de microscopia eletrônica para
a ciência dos materiais
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
Suporte e recursos para microscopia eletrônica
Folha de estilo para Rodapé de suporte e serviço
Folha de estilo para Fontes
Folha de estilo para Cartões