Gráfico de fluxo de trabalho de microscopia em várias escalas mostrando microTC, PFIB e TEM
Gráfico de volume e resolução que podem ser analisados por vários instrumentos
no fluxo de trabalho de análise em várias escalas.

À medida que os materiais continuam a avançar, torna-se cada vez mais importante não só examiná-los em resoluções cada vez maiores, mas também obter essas observações no contexto macroscópico relevante. Para isso, é necessário correlacionar diferentes modos de imagem com as mesmas coordenadas para que se tenha uma percepção verdadeiramente contextual. Também é necessário obter as medições com rapidez suficiente para aplicação prática real em ambientes de controle de processos e análise de falhas. A Thermo Fisher Scientific oferece um fluxo de trabalho completo para a observação de materiais, combinando imagens correlacionadas em várias escalas com informações adicionais, como composição química.

A análise em várias escalas começa com a observação em microescala com técnicas espectroscópicas não destrutivas. A microtomografia por raios X (microTC) produz uma renderização 3D completa da amostra por meio de varreduras de raios X seriais. Essas varreduras, ou tomogramas 2D, são digitalmente combinadas para formar a estrutura 3D. Com o microtomógrafo computadorizado Heliscan da Thermo Scientific, a série de varreduras circulares é substituída por uma única varredura helicoidal contínua. Isso permite uma varredura mais rápida em uma dose mais baixa, aumentando a precisão e a quantidade de informações obtidas. As observações de microTC podem fornecer uma resolução muito baixa de até 400 nm, tornando-a uma ferramenta ideal para pesquisas não destrutivas da amostra antes da caracterização de resolução mais alta.

Uma vez identificada uma região de interesse, a instrumentação DualBeam (feixe de íons focalizados e microscopia eletrônica de varredura, FIB-SEM) é usada para análise de superfície mais próxima e extração de amostra. (Observe que o feixe de íons focalizado pode consistir em uma fonte de íons metálicos líquida (gálio) ou um feixe de íons focalizados de plasma.) A SEM permite a análise de superfície em nanoescala, enquanto a FIB/PFIB é usada para seccionamento em série ou extração de uma lamela fina de amostra para observação adicional com microscopia eletrônica de transmissão (TEM). A adição de um laser femtossegundo à PFIB-SEM permite uma preparação de amostra, corte transversal ou secção em série ainda mais rápida. A análise TEM subsequente fornece caracterização de materiais em escala atômica para uma visão completa da composição elementar e estrutural de uma amostra.

A verdadeira microscopia em várias escalas gera imagens confiáveis e de alta qualidade em todos os instrumentos, além de alinhá-las com precisão formando uma representação completa da amostra. Com o software de automação e análise de dados da Thermo Scientific, todo o fluxo de trabalho em várias escalas se torna um procedimento orientado e de rotina que pode ser prontamente integrado em seu ambiente de processo ou de controle de qualidade.

Multi scale microscopy workflow plot showing software and hardware
The multi-scale analysis workflow offered by Thermo Fisher Scientific integrating software and hardware.
*Maps is not directly integrated with mCT, it can load processed CT data.
**AutoScript is not available yet on HeliScan and TEM microscopes.

Análise do HeliScan MicroTC usada no estudo correlativo de defeitos em uma carcaça de filtro de óleo feita de um composto reforçado com fibra de vidro.

Caracterização de falha de material de uma peça de Inconel 718 fabricada aditivamente com análise em várias escalas. Realizado em colaboração com a Universidade de Manchester.

Análise do HeliScan MicroTC usada no estudo correlativo de defeitos em uma carcaça de filtro de óleo feita de um composto reforçado com fibra de vidro.

Caracterização de falha de material de uma peça de Inconel 718 fabricada aditivamente com análise em várias escalas. Realizado em colaboração com a Universidade de Manchester.

Aplicações

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 


Amostras


Pesquisa de baterias

O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.

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Pesquisa de polímeros

A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.

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Pesquisa de metais

A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.

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Pesquisa de catálise

Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.

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Petróleo e gás

À medida que a demanda por petróleo e gás continua, há uma necessidade contínua de extração eficiente e eficaz de hidrocarbonetos. A Thermo Fisher Scientific oferece uma variedade de soluções de microscopia e espectroscopia para diferentes aplicações de ciência do petróleo.

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Pesquisa geológica

A geociência depende da observação consistente e precisa em várias escalas de recursos em amostras de rochas. A SEM-EDS, combinada com software de automação, permite a análise direta e em larga escala da textura e da composição mineral para a pesquisa da petrologia e da mineralogia.

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Fibras e filtros

O diâmetro, a morfologia e a densidade das fibras sintéticas são parâmetros fundamentais que determinam a vida útil e a funcionalidade de um filtro. A microscopia eletrônica de varredura (SEM) é a técnica ideal para investigar essas características de forma rápida e fácil.

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Teste de materiais automotivos

Cada componente em um veículo moderno é projetado para segurança, eficiência e desempenho. A caracterização detalhada dos materiais automotivos pela microscopia eletrônica e pela espectroscopia informa as decisões críticas do processo, as melhorias do produto e os novos materiais.

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Produtos

Folha de estilo para cartões de instrumentos original

Sistema Helios 5 Laser PFIB

  • Cortes transversais rápidos em escala milimétrica
  • Subsuperfície profunda estatisticamente relevante e análise de dados 3D
  • Compartilha todos os recursos da plataforma Helios 5 PFIB

Helios Hydra DualBeam

  • Quatro espécies de íons alternáveis rápidas (Xe, Ar, O, N) para processamento PFIB otimizado da mais ampla gama de materiais
  • Preparação de amostra TEM sem gálio
  • Imagem SEM de resolução extremamente alta

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Preparação de amostra STEM e TEM sem gálio
  • Subsuperfície multimodal e informações 3D
  • Coluna FIB de plasma de xênon de 2,5 μA de próxima geração

Spectra 300

  • Informações estruturais e químicas de máxima resolução em nível atômico
  • Faixa flexível de alta tensão de 30 kV a 300 kV
  • Sistema condensador de três lentes

Spectra 200

  • Imagens de alta resolução e contraste para acelerar tensões de 30 kV a 200 kV
  • Lente objetiva simétrica S-TWIN/X-TWIN com desenho de haste de grande distância de 5,4 mm
  • Resolução da imagem STEM subangstrom de 60 kV a 200 kV

Talos F200X TEM

  • Alta resolução/produtividade na geração de imagens STEM e na análise química
  • Adicione suportes de amostra in situ para experimentos dinâmicos
  • Apresenta o software Velox para aquisição e análise rápidas e fáceis de dados multimodais

Talos F200C TEM

  • A análise flexível da EDS revela informações químicas
  • Formação de imagens de TEM e STEM de alto contraste e alta qualidade
  • A câmera CMOS Ceta de 16 Mpixel fornece um campo de visão amplo e alta velocidade de leitura

Talos F200S TEM

  • Dados precisos de composição química
  • Imagens de alto desempenho e análise de composição precisa para microscopia dinâmica
  • Apresenta o software Velox para aquisição e análise rápidas e fáceis de dados multimodais

Talos F200i TEM

  • Imagens S/TEM de alta qualidade e EDS precisa
  • Disponível com tecnologia de EDS dupla
  • Melhores recursos completos in situ
  • Imagem de campo de visão grande em alta velocidade

Scios 2 DualBeam

  • Compatibilidade total com amostras magnéticas e não condutoras
  • Subsuperfície de alto rendimento e caracterização 3D
  • Recursos avançados de facilidade de uso e automação

Software Maps

  • Adquira imagens de alta resolução em áreas grandes
  • Encontre regiões de interesse facilmente
  • Automatize o processo de aquisição de imagens
  • Correlacione dados de diferentes fontes

AutoTEM 5

  • Preparação de amostras S/TEM totalmente automatizada in situ
  • Compatibilidade com geometria de cima para baixo, plana e invertida
  • Fluxo de trabalho altamente configurável
  • Interface de usuário intuitiva e fácil de usar

Software Auto Slice and View 4.0

  • Seccionamento serial automatizado para DualBeam
  • Aquisição de dados multimodais (SEM, EDS, EBSD)
  • Recursos de edição imediatos
  • Posicionamento de corte com base na aresta

Software Avizo

  • Compatível com vários dados/várias visualizações, vários canais, série temporal, dados muito grandes
  • Registro automático avançado em vários modos 2D/3D
  • Algoritmos de redução de artefatos
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