Automotive parts testing

Today’s automotive parts have seen incredible advances in the functionality and reliability of transmissions, fuel injection systems, power trains, and braking systems. These improvements are the result of fundamental advances in the materials used in automotive manufacturing, including novel, increasingly complex steel, glass, ceramic, and polymer materials.

Automotive materials testing

These improvements, however, also come with new challenges. For example, high-precision automotive parts are more susceptible to residual, micron-size particulate contamination, which results in component, or potentially even system, failure. To make matters worse, current analytical techniques are often inadequate (too low resolution) to help engineers determine the cause of these failures.

New vehicles also undergo extensive testing to ensure the production of reliable, quality automobiles along with further improvements to current materials and processes.  For instance, the increasing demand for affordable, fuel-efficient tires requires better test methods to develop and study new rubber formulations. The next generation of rubber compounds has to reduce road resistance while still yielding a quality end product in order to substantially impact fuel efficiency. This starts with detailed analytical assessment using techniques such as electron microscopy.  

Automotive quality control

Thermo Fisher Scientific provides a range of instrumentation and software that simplifies your automotive materials analysis. These tools also have the potential to greatly reduce production times as you bring the quality control process in-house. By no longer relying on outsourcing for your QC analysis, production-cycle time can decrease by up to ten-fold.

Style Sheet for Komodo Tabs

Resources

Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series

In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.

  • How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
  • Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
  • Speed up your automated gunshot residue analysis
  • Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
  • Understand your steel with automated inclusion analysis
  • One tool for complete AM powder characterization

Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series

In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.

  • How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
  • Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
  • Speed up your automated gunshot residue analysis
  • Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
  • Understand your steel with automated inclusion analysis
  • One tool for complete AM powder characterization

Applications

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

Grãos minerais de alumínio encontrados com SEM durante o teste de limpeza de peças

Limpeza
 

Mais do que nunca, a fabricação moderna necessita de componentes confiáveis e de qualidade. Com a microscopia eletrônica de varredura (SEM), a análise de limpeza de peças pode ser feita internamente, fornecendo uma ampla variedade de dados analíticos e encurtando o ciclo de produção.

Techniques

Mapeamento elementar em escala atômica com EDS

A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.

Saiba mais ›

Corte transversal

O corte transversal fornece dados adicionais ao revelar informações de subsuperfície. Os instrumentos DualBeam apresentam excelentes colunas de feixe de íons focalizados para corte transversal de alta qualidade. A automação permite realizar o processamento autônomo de amostras com alta produtividade.

Saiba mais ›

Experimentação in situ

A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.

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Análise de partículas

A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.

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Mapeamento elementar em escala atômica com EDS

A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.

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Corte transversal

O corte transversal fornece dados adicionais ao revelar informações de subsuperfície. Os instrumentos DualBeam apresentam excelentes colunas de feixe de íons focalizados para corte transversal de alta qualidade. A automação permite realizar o processamento autônomo de amostras com alta produtividade.

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Experimentação in situ

A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.

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Análise de partículas

A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.

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Products

Folha de estilo para cartões de instrumentos original

Apreo 2 SEM

  • SEM de alto desempenho para resolução geral nanométrica ou subnanométrica
  • Detector retroespelhado T1 na coluna para contraste de materiais sensíveis e com taxa de TV
  • Excelente desempenho em longas distâncias de trabalho (10 mm)

Quattro ESEM

  • FEG SEM de alta resolução ultraversátil com capacidade ambiental única (ESEM)
  • Observe todas as informações de todas as amostras com imagens simultâneas SE e BSE em cada modo de funcionamento

Prisma E SEM

  • SEM de nível básico com excelente qualidade de imagem
  • Carregamento e navegação de amostras fáceis e rápidos para várias amostras
  • Compatível com uma ampla gama de materiais graças aos modos de vácuo dedicados

Phenom Pharos Desktop SEM

  • Fonte FEG com faixa de tensão de aceleração de 2 kV a 15 kV
  • Resolução de <2,5 nm (SE) e <4,0 nm (BSE) a 15 kV; ampliação de até 1.000.000 vezes
  • Detector EDS e SE opcional totalmente integrado

Phenom XL G2 Desktop SEM

  • Para amostras grandes (100 x 100 mm) e ideal para automação
  • Resolução <10 nm e ampliação de até 200.000 vezes; tensão de aceleração de 4,8 kV até 20 kV
  • Detector EDS e BSE opcional totalmente integrado

Phenom ProX Desktop SEM

  • SEM de mesa de alto desempenho com detector EDS integrado
  • Resolução <8 nm (SE) e <10 nm (BSE); ampliação de até 150.000 vezes
  • Detector SE opcional
 
 

Phenom ParticleX TC Desktop SEM

  • Desktop SEM versátil com software de automação para limpeza técnica
  • Resolução <10 nm; ampliação de até 200.000 vezes
  • Detector SE opcional

Nexsa XPS

  • Módulo de inclinação para medições ARXPS
  • Fonte de íons de modo duplo para recursos de perfil de profundidade expandida
  • Análise de isolantes

K-Alpha XPS

  • Espectroscopia de área selecionável
  • Monocromador microfocalizado
  • Espectroscopia de estado químico de alta resolução

ESCALAB Xi+ XPS

  • Espectroscopia de alta sensibilidade
  • XPS com raios X não monocromáticos
  • Analisador de energia hemisférica de 180 graus

Software Avizo

  • Compatível com vários dados/várias visualizações, vários canais, série temporal, dados muito grandes
  • Registro automático avançado em vários modos 2D/3D
  • Algoritmos de redução de artefatos

Insertos filtrantes

  • Análise de resíduos do filtro e análise de amianto
  • Disponível em dois modelos que suportam 47 mm (1,85 pol.) e filtros de 25 mm (1 pol.)
  • Uso no Phenom Desktop SEM

AutoScript 4

  • melhor reprodutibilidade e precisão
  • Geração de imagens e padronização não assistidas e de alta produtividade
  • Compatível com ambiente de script baseado em Python 3.5

PoroMetric

  • Correlacione os recursos de poro, como área, proporção, eixo principal e secundário
  • Adquira imagens diretamente do desktop SEM
  • Dados estatísticos com imagens de alta qualidade

ParticleMetric

  • Software integrado no ProSuite para análise on-line e off-line
  • Correlação das características da partícula, como diâmetro, circularidade, proporção e convexidade
  • Criação de conjuntos de dados de imagem com o mapeamento de imagem automatizado

FiberMetric

  • Economize tempo com medições automatizadas
  • Coleta rápida e automatizada de todos os dados estatísticos
  • Visualize e meça microfibras e nanofibras com precisão incomparável
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class

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Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.