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Phenom ParticleMetric particle analysis software
Integrated Thermo Scientific Phenom ParticleMetric Software allows you to gather morphology and particle size data for numerous sub-micron particle applications with any Phenom Desktop SEM. The fully automated measurements of ParticleMetric Software allow a level of visual exploration beyond optical microscopy that can lead to new discoveries and innovations in powder design, development, and quality control.
Phenom ParticleMetric Software provides insightful data about your particles quickly and easily; these insights can help you improve the quality of your products and expedite your research.
Online and offline analysis
Integrated within Thermo Scientific Phenom ProSuite Software for online and offline analysis.
Correlating features
Correlate particle features such as diameter, circularity, aspect ratio and convexity.
Advanced detection algorithm
Features an advanced detection algorithm with default settings for non-expert user and advanced settings for experts.
Automated image mapping
Create image datasets with complimentary automated image mapping software.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
Particle size range |
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Particle detection |
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Speed |
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Measured properties |
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Particle parameters |
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Digital image detection |
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Output |
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Part of ProSuite Software |
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Style Sheet for Komodo Tabs
SEM image of plastic particles, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of metal particles, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of non-dairy creamer granules, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of paracetamol (acetaminophen) powder, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of graphite powder, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of plastic particles, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of metal particles, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of non-dairy creamer granules, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of paracetamol (acetaminophen) powder, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of graphite powder, produced with Phenom ParticleMetric Software.
Limpeza
Mais do que nunca, a fabricação moderna necessita de componentes confiáveis e de qualidade. Com a microscopia eletrônica de varredura (SEM), a análise de limpeza de peças pode ser feita internamente, fornecendo uma ampla variedade de dados analíticos e encurtando o ciclo de produção.
Espectroscopia por energia dispersiva
A espectroscopia por energia dispersiva (EDS) coleta informações elementares detalhadas juntamente com imagens de microscopia eletrônica, fornecendo contexto de composição crítico para observações EM. Com a EDS, a composição química pode ser determinada a partir de varreduras de superfície rápidas e holísticas que chegam até a átomos individuais.
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Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
Mapeamento elementar em escala atômica com EDS
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Espectroscopia por energia dispersiva
A espectroscopia por energia dispersiva (EDS) coleta informações elementares detalhadas juntamente com imagens de microscopia eletrônica, fornecendo contexto de composição crítico para observações EM. Com a EDS, a composição química pode ser determinada a partir de varreduras de superfície rápidas e holísticas que chegam até a átomos individuais.
Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
Mapeamento elementar em escala atômica com EDS
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
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Serviços de microscopia eletrônica para
a ciência dos materiais
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
Suporte e recursos para microscopia eletrônica
Folha de estilo para Rodapé de suporte e serviço
Folha de estilo para Fontes
Folha de estilo para Cartões