Search Thermo Fisher Scientific
Materials Science
DualBeam FIB Cross Sectioning
FIB cross section generation with DualBeam tools for automated and high throughput subsurface characterization.
Join the conversation
Site-specific cross-section for scratch testing and adhesion of a paint coating,
performed on a Helios G4 PFIB DualBeam.
performed on a Helios G4 PFIB DualBeam.
Modern materials characterization is increasingly reliant on sub-surface characterization for a more comprehensive understanding of the material’s structure and physical properties. Cross-sectioning with a DualBeam instrument, which combines a focused ion beam with a scanning electron microscope (FIB-SEM), allows you to mill the material with FIB and perform high-resolution SEM imaging at nanometer scale. In failure analysis, for instance, this allows for defects to be located under the surface, making DualBeams instruments ideal for identification of the root cause of failures.
Along with high-resolution SEM imaging, cross-section characterization on the DualBeam can be expanded with back-scattered electron (BSE) imaging for maximum materials contrast, energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) for compositional information, and electron backscatter diffraction (EBSD) for microstructural and crystallographic information.
Additionally, with the introduction of the Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam, we now offer the flexibility of argon, oxygen, xenon, and nitrogen ion species in one instrument, allowing you to choose the best FIB type for each of your experiments. Xenon ions are well suited for high-throughput removal of various materials, like metals and ceramics, whereas oxygen ions provide superior milling quality for carbon-based samples. In case extremely large volume characterization is needed, the Thermo Scientific Helios 5 Laser PFIB System is an additional solution. It enables high-throughput cross-sectioning up to millimeter scale, as well as processing of materials that are typically challenging for ion beams (e.g. charging or beam sensitive samples). We combine these unique DualBeam capabilities with our versatile software solutions to bring you a range of workflows for advanced 3D characterization and high-resolution analysis at the nanometer scale.
Curtain-free large-area cross section of a silicon sample performed on the Helios Hydra DualBeam in less than one minute. This process was completed without a protective capping layer, showcasing the high-quality round beam to achieve superior cross-section quality with the argon focused ion beam.
Comparison of cross-section quality when milled using different ion types. For carbon-based materials, the oxygen ion beam typically shows improved cut face quality, as is shown for this automotive oil filter casing (polymer/glass-fiber composite). Horizontal field width is 350 µm.
Cross section of an additive manufacturing powder (CuAgAl) using the Scios DualBeam. EBSD map (inset) shows grains size distribution and orientation within the particle.
Large-area cross section of a solder bump completed in 15 minutes. The curtain-free, high-quality cut face is suitable for XHR (extreme high resolution) SEM imaging.
Curtain-free large-area cross section of a silicon sample performed on the Helios Hydra DualBeam in less than one minute. This process was completed without a protective capping layer, showcasing the high-quality round beam to achieve superior cross-section quality with the argon focused ion beam.
Comparison of cross-section quality when milled using different ion types. For carbon-based materials, the oxygen ion beam typically shows improved cut face quality, as is shown for this automotive oil filter casing (polymer/glass-fiber composite). Horizontal field width is 350 µm.
Cross section of an additive manufacturing powder (CuAgAl) using the Scios DualBeam. EBSD map (inset) shows grains size distribution and orientation within the particle.
Large-area cross section of a solder bump completed in 15 minutes. The curtain-free, high-quality cut face is suitable for XHR (extreme high resolution) SEM imaging.
Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Pesquisa de baterias
O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.
Petróleo e gás
À medida que a demanda por petróleo e gás continua, há uma necessidade contínua de extração eficiente e eficaz de hidrocarbonetos. A Thermo Fisher Scientific oferece uma variedade de soluções de microscopia e espectroscopia para diferentes aplicações de ciência do petróleo.
Pesquisa de metais
A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.
Pesquisa de catálise
Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.
Pesquisa de polímeros
A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.
Pesquisa geológica
A geociência depende da observação consistente e precisa em várias escalas de recursos em amostras de rochas. A SEM-EDS, combinada com software de automação, permite a análise direta e em larga escala da textura e da composição mineral para a pesquisa da petrologia e da mineralogia.
Folha de estilo para cartões de instrumentos original
Style Sheet for Komodo Tabs
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Folha de estilo para Rodapé de suporte e serviço
Folha de estilo para Fontes
Folha de estilo para Cartões
Serviços de microscopia eletrônica para
a ciência dos materiais
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
