Phenom XL G2 Desktop SEM applications

The next-generation Thermo Scientific Phenom XL G2 Desktop Scanning Electron Microscope (SEM) automates your quality control process, providing accurate, reproducible results while freeing up time for value-added work. 

The Phenom XL G2 Desktop SEM allow you to:

  • Obtain the quality information you need to discover failures early and rapidly adjust your production process when needed.
  • Automate quality control to process a high volume of samples with fewer chances of human error.
  • Get up to speed quickly with an all-new, easy-to-learn interface ideal for a wide range of applications.

The Phenom XL G2 Desktop SEM features full-screen images and an average time-to image of 60 seconds. The unique CeB6 electron source offers a long lifetime with less maintenance. The small form factor requires little lab space, allowing you to place the microscope exactly where you need it.

Phenom XL G2 Argon-Compatible Desktop SEM

The Thermo Scientific Phenom XL G2 Argon-Compatible Desktop Scanning Electron Microscope (SEM) automates your workflows while providing a stable, non-reactive environment for your reactive sample research.

The Phenom XL G2 Argon-Compatible Desktop SEM offers your research:

  • A non-reactive environment to conduct reactive sample research on samples such as solid state lithium batteries
  • A modality where you can have sample preparation and SEM/EDX analysis in the same workspace
  • A safer way to interface with highly volatile samples such as solid state lithium, enabling the next generation of longer-lasting, eco-friendly batteries

The Phenom XL G2 Argon-Compatible Desktop SEM boasts the same 60-second time to image as the Phenom XL G2 SEM, while also being able to be placed in an argon glove box, assuring the safe analysis of solid state lithium.

Download Phenom XL G2 Argon-Compatible Desktop SEM Datasheet


Key Features

Automation

The Phenom XL G2 Desktop SEM is standardly accessible via the Phenom Programming Interface (PPI), a powerful method for controlling the Phenom XL G2 Desktop SEM via Python scripting. If the user has a SEM workflow with repetitive work to analyze particles, pores, fibers or large SEM images, the instrument can do so automatically.

Long-lifetime CeB₆ source

The long-lifetime CeB₆ (cerium hexaboride) source has several advantages. First is the high brightness it provides compared to tungsten, making it much easier for many users to obtain high quality images with many details. Secondly, the lifetime of the source is very long and maintenance can be scheduled.

Eucentric sample holder

In many SEM applications, a user can gain more insight into sample properties if the sample can be tilted and rotated. The optional eucentric sample holder enables eucentric tilt and rotation, making research and analysis faster and more accurate.

Element identification (EID)

The Phenom XL G2 Desktop SEM can be equipped with an optional energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) detector to obtain more material insights with element identification via X-ray analysis.

Step-by-step data collection

The dedicated software package elemental identification software package (EID) is used to control the fully integrated EDS detector. The intuitive step-by-step process within the EID software helps the user to collect all X-ray results in an organized and structured way.

SEM/EDX preparation and analysis in the same workspace

When placed in an argon glove box, this desktop SEM setup enables your research on solid state lithium batteries since it decreases the risk of sample volatility or sample degradation due to lithium oxidation.

Built-in assurance

This desktop SEM helps you maintain sample integrity by eliminating the need to move your samples to different instruments, saving time and resources.

Fostering the goal of a safe lithium battery

This solution allows you to research solid state lithium batteries safely, enabling the next generation of longer-lasting, eco-friendly, more versatile lithium batteries.

Dry room compatibility

This system has been tested and approved to work in dry room environments with dew temperatures as low as -65 0C.


ChemiSEM Technology

Thermo Scientific ChemiSEM Technology revolutionizes and simplifies EDS analysis by fully integrating SEM and EDS functions into a single, cohesive user interface. Based on live quantification and building on decades of expertise in EDS analysis, the technology provides elemental information quickly and easily, guaranteeing reliable results in less time. ChemiSEM Technology now comes with a powerful new feature: ChemiPhase. ChemiPhase identifies unique phases with a big data approach, finding minor and trace elements while eliminating user bias and reducing possible mistakes.

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Specifications

Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
Electron optical
  • Long lifetime thermionic source (CeB6 )
  • Multiple beam currents
Electron optical magnification range
  • 160 - 200,000x
Light optical magnification
  • 3–16x
Resolution
  • <10 nm
Image resolution options
  • 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 and 7680 x 4800 pixels
Acceleration voltages
  • Default: 5 kV, 10 kV and 15 kV
  • Advanced mode: adjustable range between 4.8 kV and 20.5 kV imaging and analysis mode
Vacuum levels
  • Low - medium - high
Detector
  • Backscattered electron detector (standard)
  • Secondary electron detector (optional)
  • Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) detector (optional)
Sample size
  • Max. 100 mm x 100 mm (up to 36 x 12 mm pin stubs)
  • Max. 40 mm (h)
Sample loading time
  • Light optical <5 s 
  • Electron optical <60 s

 

Style Sheet for Komodo Tabs

Resources

Webinar: Automate Your Quality Control

In this on-demand webinar, we show how you can improve the quality control process with the next generation in automated desktop analysis. By watching the webinar, you’ll learn how to:

  • Obtain the quality information you need to discover failures early and rapidly adjust your production process when needed.
  • Automate quality control to process a high volume of samples with fewer chances of human error. (We have both a customized and standard solution, depending on the need.)
  • Get up to speed quickly with an all-new, easy-to-learn interface ideal for a wide range of applications.

Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs

This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:

  • How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
  • How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
  • How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.

Webinar: Automate Your Quality Control

In this on-demand webinar, we show how you can improve the quality control process with the next generation in automated desktop analysis. By watching the webinar, you’ll learn how to:

  • Obtain the quality information you need to discover failures early and rapidly adjust your production process when needed.
  • Automate quality control to process a high volume of samples with fewer chances of human error. (We have both a customized and standard solution, depending on the need.)
  • Get up to speed quickly with an all-new, easy-to-learn interface ideal for a wide range of applications.

Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs

This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:

  • How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
  • How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
  • How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.


Applications

Process Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de processo
 

A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.

 

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

Fundamental Materials Research_R&amp;D_Thumb_274x180_144DPI

Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 

Grãos minerais de alumínio encontrados com SEM durante o teste de limpeza de peças

Limpeza
 

Mais do que nunca, a fabricação moderna necessita de componentes confiáveis e de qualidade. Com a microscopia eletrônica de varredura (SEM), a análise de limpeza de peças pode ser feita internamente, fornecendo uma ampla variedade de dados analíticos e encurtando o ciclo de produção.


Techniques

Análise elementar EDS

A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.

Saiba mais ›

Tomografia EDS 3D

A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.

Saiba mais ›

Mapeamento elementar em escala atômica com EDS

A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.

Saiba mais ›

Análise em várias escalas

Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.

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Análise elementar EDS

A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.

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Tomografia EDS 3D

A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.

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Mapeamento elementar em escala atômica com EDS

A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.

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Análise em várias escalas

Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.

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