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Field emission gun scanning electron microscope
The Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM brings field emission SEM to your tabletop. The Phenom Pharos G2 FEG-SEM will outperform many floor-standing SEMs in terms of image quality, while offering a vastly better user experience. For academic and industrial laboratories that so far did not consider SEM a realistic option, the Phenom Pharos G2 FEG-SEM makes FEG performance accessible thanks to its attractive form factor and short training required. Blazing fast sample loading means fast sample exchange, which means higher productivity. Unlike other SEMs, which end up being fully booked, the Phenom Pharos G2 FEG-SEM performs imaging and analysis jobs so quickly that it serves well as a walk-up tool.
The new Phenom Pharos G2 FEG-SEM expands its acceleration voltage range down to 1 kV, to better accommodate insulating and beam-sensitive samples, and up to 20 kV, with a resolution of 2.0 nm that reveals the finest details.
Introducing the Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM: Intuitive evidence for your research
Unique field emission source
Unique among desktop SEMs, the Phenom Pharos G2 FEG-SEM offers a field emission source, which guarantees high brightness, crisp images, and stable beam current.
Excellent resolving power
The Phenom Pharos G2 FEG-SEM offers a resolution of 2.0 nm at 20 kV. Such performance shows the shape of nanoparticles, imperfections in coatings, or other features that would be missed by tungsten SEMs or other tabletop SEMs.
Gentle imaging
With a voltage range down to 1 kV, the Phenom Pharos G2 FEG-SEM enables imaging of beam-sensitive samples, such as polymers, as well as insulating samples, without the requirement to apply a coating. As a result, nanoscale surface features are not obscured.
Higher productivity
While FEG SEMs have a reputation for being difficult to accommodate and difficult to operate, the Phenom Pharos G2 FEG-SEM literally requires only a desk, and less than one hour of training. Master students, visitors, or other researchers typically not trained to work on high-end FEG SEMs can easily use the Phenom Pharos G2 FEG-SEM to create eye-catching images.
A world of information
On the Phenom Pharos G2 FEG-SEM, morphological information is acquired together with compositional information, thanks to SE, BSE, and EDS detectors built into the system. A range of sample holders is available for temperature-controlled or electrical experiments.
ChemiSEM Technology
Thermo Scientific ChemiSEM Technology revolutionizes and simplifies EDS analysis by fully integrating SEM and EDS functions into a single, cohesive user interface. Based on live quantification and building on decades of expertise in EDS analysis, the technology provides elemental information quickly and easily, guaranteeing reliable results in less time. ChemiSEM Technology now comes with a powerful new feature: ChemiPhase. ChemiPhase identifies unique phases with a big data approach, finding minor and trace elements while eliminating user bias and reducing possible mistakes.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
| Resolution |
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| Electron optical magnification range |
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| Light optical magnification |
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| Acceleration voltages |
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| Vacuum modes |
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| Detector |
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| Sample size |
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| Sample height |
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Style Sheet for Komodo Tabs
Uncoated insulators, such as this sea shell, can only be properly imaged at low acceleration voltage. At 2 kV (left image), significant charging artifacts can still be observed. At 1 kV (right image), those artifacts have disappeared.
Sensitive materials require gentle conditions. With an acceleration voltage down to 1 kV, the Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM images beam-sensitive samples without sample coating or other sample preparation. Left: pharmaceutical powder, imaged without damage at 1 kV. Right: the same sample imaged at 5 kV, with damage, illustrating the need for low-kV imaging.
Silver nanostructure
Gold nanoparticles
CaCO3 powder (Coated)
Coated Polymer Film
Lung tissue
Phenom User Interface
EDS & Live EDS
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Uncoated insulators, such as this sea shell, can only be properly imaged at low acceleration voltage. At 2 kV (left image), significant charging artifacts can still be observed. At 1 kV (right image), those artifacts have disappeared.
Sensitive materials require gentle conditions. With an acceleration voltage down to 1 kV, the Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM images beam-sensitive samples without sample coating or other sample preparation. Left: pharmaceutical powder, imaged without damage at 1 kV. Right: the same sample imaged at 5 kV, with damage, illustrating the need for low-kV imaging.
Silver nanostructure
Gold nanoparticles
CaCO3 powder (Coated)
Coated Polymer Film
Lung tissue
Phenom User Interface
EDS & Live EDS
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Espectroscopia por energia dispersiva
A espectroscopia por energia dispersiva (EDS) coleta informações elementares detalhadas juntamente com imagens de microscopia eletrônica, fornecendo contexto de composição crítico para observações EM. Com a EDS, a composição química pode ser determinada a partir de varreduras de superfície rápidas e holísticas que chegam até a átomos individuais.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Mapeamento elementar em escala atômica com EDS
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
Geração de imagens de amostras quentes
O estudo de materiais em condições reais muitas vezes envolve trabalhar em altas temperaturas. O comportamento dos materiais à medida que eles se recristalizam, derretem, deformam ou reagem na presença de calor pode ser estudado in situ com microscopia eletrônica de varredura ou ferramentas DualBeam.
Experimentação in situ
A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Espectroscopia por energia dispersiva
A espectroscopia por energia dispersiva (EDS) coleta informações elementares detalhadas juntamente com imagens de microscopia eletrônica, fornecendo contexto de composição crítico para observações EM. Com a EDS, a composição química pode ser determinada a partir de varreduras de superfície rápidas e holísticas que chegam até a átomos individuais.
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Mapeamento elementar em escala atômica com EDS
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
Geração de imagens de amostras quentes
O estudo de materiais em condições reais muitas vezes envolve trabalhar em altas temperaturas. O comportamento dos materiais à medida que eles se recristalizam, derretem, deformam ou reagem na presença de calor pode ser estudado in situ com microscopia eletrônica de varredura ou ferramentas DualBeam.
Experimentação in situ
A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
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