Hot stage microscopy

Real-world materials applications often take place under variable environmental conditions, including high temperatures. The behavior of your heated material as it recrystallizes, melts, and deforms can inform critical macro- and microscopic observations, such as how a manufactured part might respond to stress or how feed materials behave during production. As a sample’s response to heat is a dynamic process, it must be paired with dynamic observation for accurate insight. Modern heating stages in electron microscopes allow for in situ experiments for high-resolution observation of heated materials. These demanding experiments are capable of linking sample morphology, environment, and thermodynamics, and can help you control the corresponding behavior of the bulk material.

SEM heating stages

There are many considerations when operating electron microscopes at elevated temperatures, such as the desired temperature range, sample size, and chemical environment. The following table shows what is possible with Thermo Scientific temperature stages.

Folha de estilo para especificações de tabela de produtos

Name

Application

Temperature

Max. Sample Size

Environment

High vacuum heating stage

General-purpose heating, high resolution imaging, in-column detection, fast processes, electron-backscatter diffraction (EBSD)

Up to 1100°C

(EBSD up to 900°C)

10 mm

High vacuum

Environmental SEM (ESEM) stage

Heating in gaseous environment: oxidation or other chemical reactions

Up to 1000°C or 1400°C, depending on the model

5 mm

ESEM

µHeater

Powder heating, chunk lift-out studies (DualBeam), STEM imaging, high-temperature EBSD and EDS, ramp rate of 10,000°C/s

Up to 1200°C

50 µm

Any

Cooling stage, WetSTEM

Precise control over humidity, wetting studies, modest heating

-20°C to +60°C

3 mm

ESEM

Gold on a silicon substrate heated with a SEM hot stage.
Gold on a silicon substrate at approximately 1080°C. The High Vacuum Heating Stage allows all in-lens detectors and imaging modes to be used to image the sample with excellent resolution and contrast.

Resources

Mixture of magnetite and hematite nanoparticles heated at 1030 °C.
Backscattered electron image (left) and EDS maps of iron and oxygen (right) acquired simultaneously.

Texture development on implant material. As the temperature increases from 700 °C to 1300 °C
we can observe a completely different surface structure. Pressure: 120 Pa.

Two-phase Co-Sb alloy during heating to 700°C on the High Vacuum Heating Stage. The antimony-rich
phase sublimated during heating, causing exposure of the second phase.

Mixture of magnetite and hematite nanoparticles heated at 1030 °C.
Backscattered electron image (left) and EDS maps of iron and oxygen (right) acquired simultaneously.

Texture development on implant material. As the temperature increases from 700 °C to 1300 °C
we can observe a completely different surface structure. Pressure: 120 Pa.

Two-phase Co-Sb alloy during heating to 700°C on the High Vacuum Heating Stage. The antimony-rich
phase sublimated during heating, causing exposure of the second phase.

Applications

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 


Samples


Pesquisa de baterias

O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.

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Pesquisa de metais

A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.

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Pesquisa de polímeros

A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.

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Nanopartículas

Os materiais têm propriedades fundamentalmente diferentes nanometricamente e macrometricamente. Para estudá-las, a instrumentação S/TEM pode ser combinada com a espectroscopia de raios X por energia dispersiva para obter dados de resolução nanométrica ou até mesmo subnanométrica.

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Forênsica

Os microtraços de evidências de cena de crime podem ser analisados e comparados usando a microscopia eletrônica como parte de uma investigação forense. As amostras compatíveis incluem fragmentos de vidro e de tinta, marcas de ferramentas, drogas, explosivos e resíduo de disparo de arma de fogo.

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Pesquisa de catálise

Os catalisadores são essenciais para a maioria dos processos industriais modernos. Sua eficiência depende da composição e da morfologia microscópicas das partículas catalíticas. A EM com EDS é a técnica ideal para estudar essas propriedades.

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Teste de materiais automotivos

Cada componente em um veículo moderno é projetado para segurança, eficiência e desempenho. A caracterização detalhada dos materiais automotivos pela microscopia eletrônica e pela espectroscopia informa as decisões críticas do processo, as melhorias do produto e os novos materiais.

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Fibras e filtros

O diâmetro, a morfologia e a densidade das fibras sintéticas são parâmetros fundamentais que determinam a vida útil e a funcionalidade de um filtro. A microscopia eletrônica de varredura (SEM) é a técnica ideal para investigar essas características de forma rápida e fácil.

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Products

Style Sheet for Komodo Tabs

Helios 5 DualBeam

  • Preparação de amostra TEM ultrafina, totalmente automatizada e de alta qualidade
  • Alta produtividade, subsuperfície de alta resolução e caracterização 3D
  • Recursos rápidos de nanoprototipagem

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Preparação de amostra STEM e TEM sem gálio
  • Subsuperfície multimodal e informações 3D
  • Coluna FIB de plasma de xênon de 2,5 μA de próxima geração

Axia ChemiSEM

  • Mapeamento elementar quantitativo ao vivo
  • Imagens por microscopia eletrônica de varredura de alta fidelidade
  • Flexível e fácil de usar, mesmo para usuários iniciantes
  • Manutenção fácil

Apreo 2 SEM

  • SEM de alto desempenho para resolução geral nanométrica ou subnanométrica
  • Detector retroespelhado T1 na coluna para contraste de materiais sensíveis e com taxa de TV
  • Excelente desempenho em longas distâncias de trabalho (10 mm)

Prisma E SEM

  • SEM de nível básico com excelente qualidade de imagem
  • Carregamento e navegação de amostras fáceis e rápidos para várias amostras
  • Compatível com uma ampla gama de materiais graças aos modos de vácuo dedicados

Verios 5 XHR SEM

  • SEM monocromática para resolução subnanométrica em toda a faixa de energia de 1 keV a 30 keV
  • Fácil acesso a energias de aterrissagem de feixe de até 20 eV
  • Excelente estabilidade com o estágio piezo como padrão

Quattro ESEM

  • FEG SEM de alta resolução ultraversátil com capacidade ambiental única (ESEM)
  • Observe todas as informações de todas as amostras com imagens simultâneas SE e BSE em cada modo de funcionamento

Phenom ProX Desktop SEM

  • SEM de mesa de alto desempenho com detector EDS integrado
  • Resolução <8 nm (SE) e <10 nm (BSE); ampliação de até 150.000 vezes
  • Detector SE opcional
 
 

Phenom Pro Desktop SEM

  • SEM de mesa de alto desempenho
  • Resolução <8 nm (SE) e <10 nm (BSE); ampliação de até 150.000 vezes
  • Detector SE opcional

Phenom Pure Desktop SEM

  • SEM de mesa de nível básico
  • Resolução <25 nm; ampliação de até 65.000 vezes
  • Fonte CeB6 de longa duração
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