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Materials Science
Fiber Microscopy
Fiber analysis with automated SEM – fast, easy, and efficient.
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Filters are commonplace in today’s society, and fulfill critical functions in industry and the household, ranging from air filters that give you clean, breathable air to water filters that ensure you have safe, potable tap water.
The key to high-performance filtration is the development of synthetic fibers. To optimize a filter’s design (so it continues to filter a broad range of dry or wet particulates over time), features like fiber diameter, density, and surface morphology all need to be thoroughly characterized and optimized.
Traditional methods for fiber analysis, such as optical microscopy and atomic force microscopy (AFM), are insufficient for this multi-modal analysis. Optical microscopy lacks the resolution necessary to accurately study nanofibers, whereas AFM is too slow and suffers from physical probe issues. These methods also rely on slow, manual measurement and data analysis.
Scanning electron microscopy (SEM), meanwhile, offers exceptional resolution capabilities, and allows you to automatically characterize multiple fibers at the same time. With the addition of leading automation software, critical filter parameters can be extracted rapidly and reliably. This minimizes the time spent using SEM in the lab, increasing development throughput as you can quickly and easily analyze fibers for filtration design.
Thermo Fisher Scientific offers a range of SEM instrumentation for fiber analysis. When combined with Thermo Scientific FiberMetric Software, accurate, automated measurement of micro- and nanofiber properties is possible.
Electrospun nanofibers on a paper substrate, imaged with a Phenom Desktop SEM.
Fibers from a dust filter imaged with a Phenom Desktop SEM.
Collagen sponge, used for medical purposes, imaged on a Phenom Desktop SEM.
High-magnification image of polyamide nano-fiber-based nonwoven material prepared by electrospinning, imaged with a Phenom Desktop SEM.
Nonwoven polymer fiber material prepared by melt blowing, imaged on a Phenom Desktop SEM.
Nanofibers developed during blood clot formation, imaged on a Phenom Desktop SEM.
Polyamide nano-fiber-based nonwoven material prepared by electrospinning, imaged on a Phenom Desktop SEM.
Polyamide nanofibers on a substrate, imaged with a Phenom Desktop SEM.
Fibers from a high-efficiency-particulate-air (HEPA) filter, imaged on a Phenom Desktop SEM.
Documents
Collagen sponge, used for medical purposes, imaged on a Phenom Desktop SEM.
High-magnification image of polyamide nano-fiber-based nonwoven material prepared by electrospinning, imaged with a Phenom Desktop SEM.
Nonwoven polymer fiber material prepared by melt blowing, imaged on a Phenom Desktop SEM.
Nanofibers developed during blood clot formation, imaged on a Phenom Desktop SEM.
Polyamide nano-fiber-based nonwoven material prepared by electrospinning, imaged on a Phenom Desktop SEM.
Polyamide nanofibers on a substrate, imaged with a Phenom Desktop SEM.
Fibers from a high-efficiency-particulate-air (HEPA) filter, imaged on a Phenom Desktop SEM.
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Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Style Sheet for Komodo Tabs
Caracterização de materiais 3D
O desenvolvimento de materiais muitas vezes requer caracterização 3D em várias escalas. Os instrumentos DualBeam permitem a secção em série de grandes volumes e a subsequente geração de imagens SEM nanométricas, que podem ser processadas em reconstruções 3D de alta qualidade da amostra.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
ColorSEM
Usando a EDS (espectroscopia de raios X por energia dispersiva) com quantificação ao vivo, a tecnologia ColorSEM transforma as imagens SEM em uma técnica colorida. Agora, qualquer usuário pode adquirir dados elementares continuamente para obter informações mais completas do que nunca.
Corte transversal
O corte transversal fornece dados adicionais ao revelar informações de subsuperfície. Os instrumentos DualBeam apresentam excelentes colunas de feixe de íons focalizados para corte transversal de alta qualidade. A automação permite realizar o processamento autônomo de amostras com alta produtividade.
Caracterização de materiais 3D
O desenvolvimento de materiais muitas vezes requer caracterização 3D em várias escalas. Os instrumentos DualBeam permitem a secção em série de grandes volumes e a subsequente geração de imagens SEM nanométricas, que podem ser processadas em reconstruções 3D de alta qualidade da amostra.
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
ColorSEM
Usando a EDS (espectroscopia de raios X por energia dispersiva) com quantificação ao vivo, a tecnologia ColorSEM transforma as imagens SEM em uma técnica colorida. Agora, qualquer usuário pode adquirir dados elementares continuamente para obter informações mais completas do que nunca.
Corte transversal
O corte transversal fornece dados adicionais ao revelar informações de subsuperfície. Os instrumentos DualBeam apresentam excelentes colunas de feixe de íons focalizados para corte transversal de alta qualidade. A automação permite realizar o processamento autônomo de amostras com alta produtividade.
Folha de estilo para cartões de instrumentos original
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Folha de estilo para Rodapé de suporte e serviço
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Serviços de microscopia eletrônica para
a ciência dos materiais
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
