SEM EDX gunshot residue analysis

Gunshot residue (GSR) analysis plays an important role in the determination if a firearm has been used in a crime. Established GSR analysis techniques are based on the use of a scanning electron microscope (SEM), which is used to scan the sample and find suspect GSR particles. If a suspect particle is found, an energy dispersive spectroscopy (EDS) technique is used to identify the elements in that particle. 

The Thermo Scientific Phenom Perception GSR Desktop SEM is the only dedicated SEM specifically designed for gunshot residue analysis. Because the system is automated, it enables you to speed up the analysis process. With no need to change your settings each time, you can immediately focus on the task at hand. 

A high-brightness CeB6 source is at the heart of the desktop Phenom system. This means that you can be confident it will provide reliable, long-lasting daily use and won’t need to be replaced unexpectedly. The Phenom Perception GSR Desktop SEM makes gunshot residue analysis on-demand, faster, easier and more reliable than ever before. Perfect for every busy lab that wants to save time and floor space.

  • Dedicated gunshot residue solution
  • Only needs a small lab space
  • Stable operation, available 24/7
  • Long lifetime CeB6 source

Key Features

High throughput, reliable results

Thanks to the fully motorized stage, the Phenom Perception GSR Desktop SEM can handle a scan area of 100 mm x 100 mm. The software uses the internal scan control of the SEM. This enables more accurate beam positioning which especially helps when revisiting the particle in the GSR verification phase. A standard GSR sample holder can hold 30 12mm GSR pin stubs plus the necessary calibration samples.

Fully integrated EDS

The dedicated software package Element Identification (EID) is used to control the fully integrated EDS detector. This EID software is delivered standard as part of the Phenom Perception GSR product.

ChemiSEM Technology

Thermo Scientific ChemiSEM Technology revolutionizes and simplifies EDS analysis by fully integrating SEM and EDS functions into a single, cohesive user interface. Based on live quantification and building on decades of expertise in EDS analysis, the technology provides elemental information quickly and easily, guaranteeing reliable results in less time. ChemiSEM Technology now comes with a powerful new feature: ChemiPhase. ChemiPhase identifies unique phases with a big data approach, finding minor and trace elements while eliminating user bias and reducing possible mistakes.

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Specifications

Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
Sample size
  • Max. 100 mm x 100 mm (up to 30 x 12 mm pin stubs)
  • Max. 40 mm (h)
Software Specifications
  • Compliant with ASTM E1588-17 
  • Typically ≥ 98% hit rate on plano artificial GSR sample
  • Supports classification of Pb-free ammunition types
  • Automatic calibrations for reproducible results
Detector types
  • Silicon drift detector (SDD)
  • Thermoelectrically cooled (LN2 free)
Reporting workflow
  • Particle relocation, verification and custom report generation
Imaging module
  • 316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg
Analysis computer
  • Standard workstation including: 24” widescreen monitor
  • 169(w) x 445(d) x 432(h) mm, 11kg
Power
  • Single phase AC 110 - 240 Volt, 50/60 Hz, 300 W (max.)

Blogs SEM Desktop

Deseja conhecer o grande poder da microscopia eletrônica de varredura sem comprometer a usabilidade? Aprimore seu conhecimento sobre a microscopia eletrônica de varredura e descubra como os SEMs Desktop são perfeitamente compatíveis com a pesquisa em nossos blogs Phenom Desktop SEM.

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Resources

Webinar

On-demand Webinar: Introducing the Phenom Perception Gunshot Residue (GSR) Desktop SEM

In this webinar we detail the Phenom Perception GSR software workflow used in compliance with ASTM and ENFSI guidelines. The webinar covers the accuracy of the instrument and outlines the critical requirements for an effective SEM for gunshot residue analysis.

 


Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs

This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:

  • How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
  • How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
  • How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.

Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series

In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.

  • How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
  • Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
  • Speed up your automated gunshot residue analysis
  • Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
  • Understand your steel with automated inclusion analysis
  • One tool for complete AM powder characterization

Webinar

On-demand Webinar: Introducing the Phenom Perception Gunshot Residue (GSR) Desktop SEM

In this webinar we detail the Phenom Perception GSR software workflow used in compliance with ASTM and ENFSI guidelines. The webinar covers the accuracy of the instrument and outlines the critical requirements for an effective SEM for gunshot residue analysis.

 


Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs

This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:

  • How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
  • How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
  • How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.

Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series

In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.

  • How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
  • Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
  • Speed up your automated gunshot residue analysis
  • Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
  • Understand your steel with automated inclusion analysis
  • One tool for complete AM powder characterization

Applications

Process Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de processo
 

A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.

 

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 


Techniques

Análise elementar EDS

A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.

Saiba mais ›

Tomografia EDS 3D

A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.

Saiba mais ›

Mapeamento elementar em escala atômica com EDS

A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.

Saiba mais ›

Análise de partículas

A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.

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Análise elementar EDS

A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.

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Tomografia EDS 3D

A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.

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Mapeamento elementar em escala atômica com EDS

A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.

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Análise de partículas

A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.

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