Search Thermo Fisher Scientific
Search Thermo Fisher Scientific
The Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop Scanning Electron Microscope (SEM) is a multi-purpose desktop SEM designed for additive manufacturing, delivering purity at the microscale.
It is equipped with a chamber large enough to analyze samples up to 100 mm x 100 mm. The proprietary venting and loading mechanism ensures the fastest vent/load cycle in the world, providing the highest throughput.
With the Phenom ParticleX AM Desktop SEM, you can take in-house control of your data:
The Phenom ParticleX AM Desktop SEM features a chamber with an accurate and fast motorized stage that allows analysis of samples of up to 100 mm x 100 mm. Even with this larger sample size, the proprietary loading shuttle keeps the vent/load cycle to an industry-leading loading time of 60 seconds or less, ultimately delivering faster throughput than other SEM systems.
The Phenom ParticleX AM Desktop SEM measures various size and shape parameters, such as minimum and maximum diameter, perimeter, aspect ratio, roughness, and feret diameter. All of these can be displayed with 10%, 50%, or 90% values (i.e., d10, d50, d90).
The elemental mapping and line scan functionality lets you start working with a single click. The line scan functionality shows the quantified element distribution in a line plot. This is especially useful for analyzing edges, coatings, and cross sections of coatings, paints, and other samples with multiple layers.
An optional secondary electron detector (SED) can be added to the Phenom ParticleX AM Desktop SEM. The SED collects low-energy electrons from the top surface layer of the sample, making it ideally suited to revealing detailed sample surface information. The SED can be of great use for studying microstructures, fibers, and particles or other applications where topography and morphology are important.
See how the Phenom ParticleX AM Desktop SEM performs in the real world with application notes, webinars, and more.
Electron optical |
|
Electron optical magnification range |
|
Light optical magnification |
|
Resolution |
|
Image resolution options |
|
Acceleration voltages |
|
Vacuum levels |
|
Detector |
|
Sample size |
|
Sample loading time |
|
Deseja conhecer o grande poder da microscopia eletrônica de varredura sem comprometer a usabilidade? Aprimore seu conhecimento sobre a microscopia eletrônica de varredura e descubra como os SEMs Desktop são perfeitamente compatíveis com a pesquisa em nossos blogs Phenom Desktop SEM.
Alexander Bouman on the new Phenom ParticleX.
To support quality control professionals, the Phenom ParticleX comes in two models: the Phenom ParticleX AM for Additive Manufacturing and the Phenom ParticleX TC for Technical Cleanliness.
Watch this on-demand webinar to learn how Phenom ParticleX desktop SEMs are the ideal solution for:
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
Alexander Bouman on the new Phenom ParticleX.
To support quality control professionals, the Phenom ParticleX comes in two models: the Phenom ParticleX AM for Additive Manufacturing and the Phenom ParticleX TC for Technical Cleanliness.
Watch this on-demand webinar to learn how Phenom ParticleX desktop SEMs are the ideal solution for:
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Mais do que nunca, a fabricação moderna necessita de componentes confiáveis e de qualidade. Com a microscopia eletrônica de varredura (SEM), a análise de limpeza de peças pode ser feita internamente, fornecendo uma ampla variedade de dados analíticos e encurtando o ciclo de produção.
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.