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Embora a microscopia eletrônica de varredura (SEM) tenha feito avanços enormes, os novos usuários podem considerá-la como sendo uma técnica complicada. A preparação das amostras, os alinhamentos, o custo de propriedade e as dificuldades com técnicas analíticas impedem a adoção generalizada. Nós nos comprometemos a resolver esses desafios para tornar a SEM verdadeiramente acessível sem comprometer a flexibilidade. Nosso objetivo era tornar a microscopia uma experiência fácil e agradável na qual você não deveria ter que lutar contra o microscópio para obter dados de qualidade. O resultado é o microscópio eletrônico de varredura Axia ChemiSEM™ da Thermo Scientific™, um sistema no qual a obtenção de dados SEM EDS deixou de ser trabalhosa. A EDS não é mais apenas uma reflexão posterior: dados químicos e imagens, agora, se tornaram uma só solução.
O Axia ChemiSEM é diferente dos microscópios eletrônicos de varredura tradicionais, pois sempre coleta dados EDS em segundo plano. Ele usa algoritmos exclusivos para processar os sinais de SEM e EDS simultaneamente, permitindo a exibição de morfologia e composição elementar quantitativa de uma amostra em conjunto, em tempo real. Ele processa constantemente os dados da EDS em segundo plano, oferecendo atualizações em tempo real sobre os dados elementares à medida que são adquiridos. Os elementos encontrados na amostra podem ser ativados e desativados, permitindo o isolamento de áreas de interesse.
O Axia ChemiSEM apresenta uma experiência de usuário superior aprimorada pela automação, como a tecnologia SmartAlign para operação sem alinhamento, funções automáticas desenvolvidas recentemente e mapeamento EDS quantitativo ao vivo. Esse processamento sempre ativo torna a análise duas vezes mais rápida, em comparação com os métodos tradicionais. O microscópio eletrônico de varredura Axia ChemiSEM coloca a análise SEM/EDS ao alcance de um público científico mais amplo, acelera o fluxo de trabalho e economiza tempo no treinamento.
Mapeamento elementar quantitativo ao vivo
Atualize o fluxo de trabalho analítico com a tecnologia ChemiSEM da Thermo Scientific totalmente integrada e de ponta, que oferece caracterização na metade do tempo.
Fácil de começar
Orientação do usuário integrada, imagem de composição ao vivo em tempo real e operação sem alinhamento combinadas neste instrumento permitindo, assim, que você se concentre na coleta de dados.
Carregamento flexível de amostras
O estágio flexível acomoda amostras de até 10 kg com movimento x-y, e a porta abre totalmente para facilitar o carregamento de amostras grandes e estranhas, mantendo um tempo de inatividade da bomba muito rápido.
Excelente desempenho de imagem
Manipule facilmente uma ampla variedade de aplicações, incluindo amostras isolantes com operação de tensão baixa e varredura de feixe avançada para garantir imagens de alta fidelidade
Vários aplicativos
Lide com aplicativos avançados com a opção de automação do sistema avançada, como o software Maps™ da Thermo Scientific, e personalize o desenvolvimento do fluxo de trabalho com o software AutoScript™ da Thermo Scientific.
Manutenção fácil
A troca de fonte é fácil e pode ser concluída por qualquer usuário, enquanto o design simples se traduz em alto tempo de atividade e serviço rápido quando a atenção é necessária.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
| Padrão |
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| Resolução do feixe de elétrons |
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| Câmara |
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| Estágio |
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| Opções comuns |
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Folha de estilo para Guia técnicas (VERSÃO LONGA) e galeria de mídia
Webinar sob demanda: Conheça nosso mais novo microscópio eletrônico de varredura
Participe deste webinar e:
- Descubra a análise elementar sem a necessidade de nenhum clique que melhora a acessibilidade e a produtividade com a formação de imagens elementares quantitativas ao vivo.
- Experimente a flexibilidade preparada para o futuro de uma câmara grande, suporte de amostras de até 10 kg e um número suficiente de portas para acomodar muitos acessórios.
- Veja como você pode economizar tempo com bombeamento rápido, alinhamentos automáticos e uma interface simples.
Color coatings (zinc silicate) incorporating Ba, Ti, S fillers and iron traces imaged with the retractable BSE detector. Axia ChemiSEM provides instant access to the chemical variations of the different fillers. (Acc voltage 20 keV, beam current 3.6 nA)
The instant quantitative elemental mapping provided by Axia ChemiSEM allows to highlight the presence of Al, Mg and Ti contaminants that would have been otherwise unnoticed. (Acc voltage 10 keV, beam current 0.76 nA)
Copper and Nickel coated brass. As Cu and Ni have similar atomic number the compositional information provided by the backscattered electrons detector is not enough to clarify the layers’ distribution. That information, with Axia ChemiSEM is one click away. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.94 nA)
Tungsten carbide (WC-Co) drill bit with a titanium aluminum nitride (TiAlN) coating. The distribution of the different elements is easily provided by the quantitative elemental imaging of Axia ChemiSEM. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.85 nA)
Chrome plated aluminum alloy. The sample has a copper and nickel coating whose difference is not evident as Cu and Ni have similar atomic number, thus the compositional information provided by the backscattered electrons detector is not enough to clarify the layers’ distribution. That information, with Axia ChemiSEM is one click away. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.48 nA)
Facemask: Weft thread of a facemask showing the presence of different particles on it. Their nature and the distribution of the different elements (Al, Ca, Na, Cl, K) is easily recognizable thanks to the instant chemical information provided by Axia ChemiSEM. (Acc voltage 10 keV, beam current 0.39 nA)
Section of a geological sample acquired combining the live quantitative elemental information and the navigation montage feature. The navigation montage allows to collect multiple images over a wide area automatically (in this case 13x13 frames have been acquired). Thanks to the instantaneous elemental information provided by Axia ChemiSEM, the montage shows the chemical variability within the grains over a large thin section and permits the user to identify areas of interest for further analysis.
Polished cement surface highlighting several chemical variations that were not visible with the contribution of the retractable BSE detector only. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.48 nA)
Zirconium oxide (ZrO2) precipitates in different inclusions in steel. Sample courtesy of Laboratory team of Primetals Austria.
Inhomogeneities in the surface of an aluminum alloy manufactured object. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.44 nA)
Calcium carbonates (CaCO3). The image shows three different polymorphs (aragonite, calcite, vaterite) with different morphologies and size distribution. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.44 nA)
Polycristalline alumina (PCA).
Image (left): Acc voltage 2 keV, beam current 45 pA. Image (right); Acc voltage 15 keV, beam current 7.9 pA
Silver on gold nanosheets. High resolution results are possible with Axia ChemiSEM. (Acc voltage 15 keV, beam current 7.9 pA)
A ceramic catalytic converter honeycomb mounted inside the Axia ChemiSEM's chamber, ready to be imaged. No sample preparation or special mounting is required.
Faça o download do nosso ebook, Análise SEM e EDS na indústria, para saber mais sobre:
- Como a aplicação conjunta da análise SEM e EDS é compatível com a caracterização aprofundada de materiais para aplicações industriais
- Como a exclusiva tecnologia ColorSEM da Thermo Scientific integra essas duas técnicas em um único pacote, rápido e fácil de usar, acessível e valioso tanto para os inexperientes e os especialistas
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Participe deste webinar e:
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- Veja como você pode economizar tempo com bombeamento rápido, alinhamentos automáticos e uma interface simples.
Color coatings (zinc silicate) incorporating Ba, Ti, S fillers and iron traces imaged with the retractable BSE detector. Axia ChemiSEM provides instant access to the chemical variations of the different fillers. (Acc voltage 20 keV, beam current 3.6 nA)
The instant quantitative elemental mapping provided by Axia ChemiSEM allows to highlight the presence of Al, Mg and Ti contaminants that would have been otherwise unnoticed. (Acc voltage 10 keV, beam current 0.76 nA)
Copper and Nickel coated brass. As Cu and Ni have similar atomic number the compositional information provided by the backscattered electrons detector is not enough to clarify the layers’ distribution. That information, with Axia ChemiSEM is one click away. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.94 nA)
Tungsten carbide (WC-Co) drill bit with a titanium aluminum nitride (TiAlN) coating. The distribution of the different elements is easily provided by the quantitative elemental imaging of Axia ChemiSEM. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.85 nA)
Chrome plated aluminum alloy. The sample has a copper and nickel coating whose difference is not evident as Cu and Ni have similar atomic number, thus the compositional information provided by the backscattered electrons detector is not enough to clarify the layers’ distribution. That information, with Axia ChemiSEM is one click away. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.48 nA)
Facemask: Weft thread of a facemask showing the presence of different particles on it. Their nature and the distribution of the different elements (Al, Ca, Na, Cl, K) is easily recognizable thanks to the instant chemical information provided by Axia ChemiSEM. (Acc voltage 10 keV, beam current 0.39 nA)
Section of a geological sample acquired combining the live quantitative elemental information and the navigation montage feature. The navigation montage allows to collect multiple images over a wide area automatically (in this case 13x13 frames have been acquired). Thanks to the instantaneous elemental information provided by Axia ChemiSEM, the montage shows the chemical variability within the grains over a large thin section and permits the user to identify areas of interest for further analysis.
Polished cement surface highlighting several chemical variations that were not visible with the contribution of the retractable BSE detector only. (Acc voltage 20 keV, beam current 0.48 nA)
Zirconium oxide (ZrO2) precipitates in different inclusions in steel. Sample courtesy of Laboratory team of Primetals Austria.
Inhomogeneities in the surface of an aluminum alloy manufactured object. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.44 nA)
Calcium carbonates (CaCO3). The image shows three different polymorphs (aragonite, calcite, vaterite) with different morphologies and size distribution. (Acc voltage 15 keV, beam current 0.44 nA)
Polycristalline alumina (PCA).
Image (left): Acc voltage 2 keV, beam current 45 pA. Image (right); Acc voltage 15 keV, beam current 7.9 pA
Silver on gold nanosheets. High resolution results are possible with Axia ChemiSEM. (Acc voltage 15 keV, beam current 7.9 pA)
A ceramic catalytic converter honeycomb mounted inside the Axia ChemiSEM's chamber, ready to be imaged. No sample preparation or special mounting is required.
Faça o download do nosso ebook, Análise SEM e EDS na indústria, para saber mais sobre:
- Como a aplicação conjunta da análise SEM e EDS é compatível com a caracterização aprofundada de materiais para aplicações industriais
- Como a exclusiva tecnologia ColorSEM da Thermo Scientific integra essas duas técnicas em um único pacote, rápido e fácil de usar, acessível e valioso tanto para os inexperientes e os especialistas
Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
ColorSEM
Usando a EDS (espectroscopia de raios X por energia dispersiva) com quantificação ao vivo, a tecnologia ColorSEM transforma as imagens SEM em uma técnica colorida. Agora, qualquer usuário pode adquirir dados elementares continuamente para obter informações mais completas do que nunca.
Geração de imagens de amostras quentes
O estudo de materiais em condições reais muitas vezes envolve trabalhar em altas temperaturas. O comportamento dos materiais à medida que eles se recristalizam, derretem, deformam ou reagem na presença de calor pode ser estudado in situ com microscopia eletrônica de varredura ou ferramentas DualBeam.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Catodoluminescência
A catodoluminescência (CL) descreve a emissão de luz de um material quando ele é excitado por um feixe de elétrons. Este sinal, captado por um detector CL especializado, carrega informações sobre a composição da amostra, defeitos de cristal ou propriedades fotônicas.
ColorSEM
Usando a EDS (espectroscopia de raios X por energia dispersiva) com quantificação ao vivo, a tecnologia ColorSEM transforma as imagens SEM em uma técnica colorida. Agora, qualquer usuário pode adquirir dados elementares continuamente para obter informações mais completas do que nunca.
Geração de imagens de amostras quentes
O estudo de materiais em condições reais muitas vezes envolve trabalhar em altas temperaturas. O comportamento dos materiais à medida que eles se recristalizam, derretem, deformam ou reagem na presença de calor pode ser estudado in situ com microscopia eletrônica de varredura ou ferramentas DualBeam.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Catodoluminescência
A catodoluminescência (CL) descreve a emissão de luz de um material quando ele é excitado por um feixe de elétrons. Este sinal, captado por um detector CL especializado, carrega informações sobre a composição da amostra, defeitos de cristal ou propriedades fotônicas.
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Folha de estilo para Fontes
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