Cathodoluminescence

Cathodoluminescence (CL) is the process by which a material emits characteristic photons of visible light when struck by electrons (such as those produced by the source in an electron microscope). Researchers in geology, optoelectronics, failure analysis, ceramics, glass and many other fields use CL detection as a unique way to highlight sample properties that are not visible with conventional electron or X-ray imaging techniques. By correlating CL data to topography, crystallography and elemental information, a better understanding of photonic properties, composition, material quality or sample history can be obtained.

CL detector

A range of third-party CL accessories exists for the Thermo Scientific SEM and DualBeam product lines. These are usually specialized in spectral CL detection, i.e. the collection of a full spectrum for each pixel of the image (also called hyperspectral imaging). While this provides a great deal of information, most CL solutions suffer from alignment and ease-of-use issues, limitations in working distance and field of view, and/or cannot perform simultaneous detection of X-ray/backscattered electron signal.

The Thermo Scientific RGB Cathodoluminescence Detector offers real-color CL imaging, without any of the beforementioned limitations, integrated into the instrument user interface. It features a flat design that slides between the sample and the final lens, much like a retractable backscatter detector. Unlike conventional mirror-based solutions, the large detector area eliminates the need for any optical alignment and does not limit the field of view. Additionally, simultaneous detection of secondary electrons (SE), backscatter electrons (BSE) or X-rays is possible, enabling correlation of CL data with SE, BSE and energy-dispersive x-ray spectroscopy (EDS) in only a single scan of the electron beam.

Integrated into the user interface of the microscope, the RGB Cathodoluminescence Detector makes color images available as soon as the beam is scanning. This makes the detector a unique asset to multi-user labs requiring CL data and correlation with worry-free operation.

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Resources

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Applications

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Controle de qualidade
 

O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.

 

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Pesquisa de materiais fundamentais

Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.

 


Samples


Pesquisa geológica

A geociência depende da observação consistente e precisa em várias escalas de recursos em amostras de rochas. A SEM-EDS, combinada com software de automação, permite a análise direta e em larga escala da textura e da composição mineral para a pesquisa da petrologia e da mineralogia.

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Petróleo e gás

À medida que a demanda por petróleo e gás continua, há uma necessidade contínua de extração eficiente e eficaz de hidrocarbonetos. A Thermo Fisher Scientific oferece uma variedade de soluções de microscopia e espectroscopia para diferentes aplicações de ciência do petróleo.

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Teste de materiais automotivos

Cada componente em um veículo moderno é projetado para segurança, eficiência e desempenho. A caracterização detalhada dos materiais automotivos pela microscopia eletrônica e pela espectroscopia informa as decisões críticas do processo, as melhorias do produto e os novos materiais.

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Products

Folha de estilo para cartões de instrumentos original

Helios Hydra DualBeam

  • Quatro espécies de íons alternáveis rápidas (Xe, Ar, O, N) para processamento PFIB otimizado da mais ampla gama de materiais
  • Preparação de amostra TEM sem gálio
  • Imagem SEM de resolução extremamente alta

Helios 5 DualBeam

  • Preparação de amostra TEM ultrafina, totalmente automatizada e de alta qualidade
  • Alta produtividade, subsuperfície de alta resolução e caracterização 3D
  • Recursos rápidos de nanoprototipagem

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Preparação de amostra STEM e TEM sem gálio
  • Subsuperfície multimodal e informações 3D
  • Coluna FIB de plasma de xênon de 2,5 μA de próxima geração

Scios 2 DualBeam

  • Compatibilidade total com amostras magnéticas e não condutoras
  • Subsuperfície de alto rendimento e caracterização 3D
  • Recursos avançados de facilidade de uso e automação

Axia ChemiSEM

  • Mapeamento elementar quantitativo ao vivo
  • Imagens por microscopia eletrônica de varredura de alta fidelidade
  • Flexível e fácil de usar, mesmo para usuários iniciantes
  • Manutenção fácil

Apreo 2 SEM

  • SEM de alto desempenho para resolução geral nanométrica ou subnanométrica
  • Detector retroespelhado T1 na coluna para contraste de materiais sensíveis e com taxa de TV
  • Excelente desempenho em longas distâncias de trabalho (10 mm)

Prisma E SEM

  • SEM de nível básico com excelente qualidade de imagem
  • Carregamento e navegação de amostras fáceis e rápidos para várias amostras
  • Compatível com uma ampla gama de materiais graças aos modos de vácuo dedicados

Verios 5 XHR SEM

  • SEM monocromática para resolução subnanométrica em toda a faixa de energia de 1 keV a 30 keV
  • Fácil acesso a energias de aterrissagem de feixe de até 20 eV
  • Excelente estabilidade com o estágio piezo como padrão

Quattro ESEM

  • FEG SEM de alta resolução ultraversátil com capacidade ambiental única (ESEM)
  • Observe todas as informações de todas as amostras com imagens simultâneas SE e BSE em cada modo de funcionamento

Software Maps

  • Adquira imagens de alta resolução em áreas grandes
  • Encontre regiões de interesse facilmente
  • Automatize o processo de aquisição de imagens
  • Correlacione dados de diferentes fontes

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