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Microscópios eletrônicos de transmissão
Os avanços na pesquisa da ciência de materiais dependem de informações rápidas e confiáveis de alta resolução que permitem otimizar o desempenho de um material. Uma compreensão completa do material requer o uso de técnicas avançadas de caracterização junto com dados de composição e estruturais em 2D e 3D.
Isso significa que é necessário ter acesso a uma instrumentação robusta e precisa capaz de fornecer as informações em nível atômico com a mais alta resolução possível. A microscopia eletrônica de transmissão e varredura (STEM) é capaz de fornecer dados de alta qualidade combinando os princípios da microscopia eletrônica de transmissão (TEM) e da microscopia eletrônica de varredura (SEM). Assim como a TEM, a STEM requer amostras muito finas e examina principalmente os elétrons do feixe transmitidos pela amostra. Uma das principais vantagens da STEM em relação à TEM é o fato de ela permitir o uso de outros sinais que não podem ser espacialmente correlacionados na TEM, incluindo raios X característicos e espectros de perda de energia eletrônica.
Assim como a SEM, a técnica STEM faz a varredura de um feixe de elétrons de foco muito preciso por meio da amostra em um padrão de grade. As interações entre os elétrons do feixe e os átomos da amostra geram uma aquisição simultânea do fluxo de sinal de dados multimodais, correlacionada com a posição do feixe para criar uma imagem virtual na qual o nível de sinal em qualquer lugar na amostra é representado pelo nível de cinza no local correspondente na imagem. Sua principal vantagem em relação à imagem SEM convencional é a melhoria na resolução espacial.
Com a STEM, é possível coletar dados analíticos extremamente localizados para a amostra. Isso inclui mapas de EDS de alta resolução e área grande, sondagem de estados de oxidação usando EELS e geração de imagens de resolução atômica de interfaces de material.
A linha de produtos STEM da Thermo Fisher Scientific apresenta imagens e análises aceleradas por meio de operação simplificada/automatizada, oferecendo uma maior qualidade de dados e tempos de aquisição mais rápidos. Ela também combina imagens STEM de alta resolução com avanços incomparáveis na detecção de sinal EDS para mapeamento de composição e caracterização química 3D com os detectores EDS Dual-X e Super-X da Thermo Scientific. As plataformas STEM da Thermo Fisher Scientific são adequadas para ambientes multiusuários e multidisciplinares, combinando todas as aplicações em um único sistema.
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High-resolution drift-corrected-frame-integration (DCFI) STEM image of an aluminum-zirconium alloy, collected on the Talos STEM.
Large area, high-resolution EDS mapping of gold-nickel nanoparticles, performed on the Talos STEM platform and acquired in less than 1 minute.
Cadmium sulfide sample, mostly used for optical applications, analyzed with side-entry EDS on the Talos STEM platform.
Gallium arsenide (GaAs) sample imaged with the Spectra STEM. Sample prepared with an oxygen ion beam on the Helios Hydra DualBeam.
STEM image of a metal cross section prepared with a focused ion beam, clearly revealing precipitates (left box) and dislocations (right box). Image width ~10 μm.
Documentação
High-resolution drift-corrected-frame-integration (DCFI) STEM image of an aluminum-zirconium alloy, collected on the Talos STEM.
Large area, high-resolution EDS mapping of gold-nickel nanoparticles, performed on the Talos STEM platform and acquired in less than 1 minute.
Cadmium sulfide sample, mostly used for optical applications, analyzed with side-entry EDS on the Talos STEM platform.
Gallium arsenide (GaAs) sample imaged with the Spectra STEM. Sample prepared with an oxygen ion beam on the Helios Hydra DualBeam.
STEM image of a metal cross section prepared with a focused ion beam, clearly revealing precipitates (left box) and dislocations (right box). Image width ~10 μm.
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