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Thermo Scientific NEXS Software goes far beyond a CAD viewer and stage driver by facilitating fault isolation, failure analysis, sample preparation and circuit edit. NEXS Software enables diverse workflows by providing CAD connectivity with Thermo Scientific analytical equipment.
NEXS Software directly reads/displays the mask data and drives the system stage accurately to fault or edit locations.
- Reads/displays GDS2 and OASIS mask data
- Creates cache database for faster re-load, rendering and tracing (GDS only)
- Connects to most Thermo Scientific tools used for EFA, PFA and Circuit Edit space
- Supports overlaying CAD on microscope image
- Auto-syncs position/magnification between NEXS and Circuit Edit system for a more seamless user experience
- Annotates layout, navigates by text location point, and receives marked hotspot locations
- Reads popular box, text and net trace formats (.vl, .dl, .hl)
- Traces/highlights nets and cells
- Reads software diagnostic callouts and scan chains from various formats (.vl, .sigps.txt, query.txt)
Technical specifications
- Windows® 10 – Runs on Thermo Scientific support PC (SPC)
- 64-bit Linux OS – Can run on Linux server farm, network or local server
- RAM and hard drive requirements vary with CAD database sizes
Database file formats supported
- GDS2
- Gnuzip compressed GDS2 (.gz) for Linux only
- OASIS
Thermo Scientific equipment supported
- PFA: Helios, Scios, Apreo, Prisma, Verios, Quattro
- EFA: Meridian, WaferScan, ELITE, nProber
- Circuit Edit: Centrios, Taipan, OptiFIB IV, V400 ACE
Desenvolvimento e localização de semicondutores
Microscopia eletrônica avançada, feixe de íon focalizado e técnicas analíticas associadas para identificar soluções viáveis e métodos de desenho para a fabricação de dispositivos semicondutores de alto desempenho.
Análise de falha de semicondutores
Estruturas de dispositivos semicondutores cada vez mais complexas resultam em mais locais onde defeitos que induzem falhas podem se ocultar. Nossos fluxos de trabalho de última geração o ajudam a localizar e caracterizar problemas elétricos sutis que afetam o rendimento, o desempenho e a confiabilidade.
Style Sheet for Komodo Tabs
Isolamento de falha óptica
Projetos cada vez mais complexos dificultam o isolamento de falhas e defeitos na fabricação de semicondutores. As técnicas de isolamento óptico de falhas permitem analisar o desempenho de dispositivos eletricamente ativos para localizar defeitos críticos que causam falhas no dispositivo.
Edição de circuito
Soluções avançadas e dedicadas de edição de circuitos e nanoprototipagem, que combinam novos sistemas de distribuição de gás com um amplo portfólio de substâncias químicas e tecnologia de feixe de íons focalizados, oferecem controle e precisão incomparáveis para o desenvolvimento de dispositivos semicondutores.
Isolamento de falha óptica
Projetos cada vez mais complexos dificultam o isolamento de falhas e defeitos na fabricação de semicondutores. As técnicas de isolamento óptico de falhas permitem analisar o desempenho de dispositivos eletricamente ativos para localizar defeitos críticos que causam falhas no dispositivo.
Edição de circuito
Soluções avançadas e dedicadas de edição de circuitos e nanoprototipagem, que combinam novos sistemas de distribuição de gás com um amplo portfólio de substâncias químicas e tecnologia de feixe de íons focalizados, oferecem controle e precisão incomparáveis para o desenvolvimento de dispositivos semicondutores.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Serviços de microscopia eletrônica
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
Suporte e recursos para microscopia eletrônica
Folha de estilo para Rodapé de suporte e serviço
Folha de estilo para Fontes
Folha de estilo para Cartões