Electrostatic discharge (ESD) causes localized increases in temperature that can damage small features and structures that make up today’s semiconductor devices and integrated circuits. As these structures and devices become smaller and more complex in design, isolating such electrical faults becomes more challenging. This means advanced and highly sensitive testing equipment is needed to ensure that these devices can survive electrostatic discharge. This equipment can also help to prove that devices are in compliance with national, international, and industry ESD test standards.

For example, the most common ESD compliance test, called human body model (HBM) testing, simulates the effect of a human discharging electrical energy into an electronic component. Another example is charged device model (CDM) testing, where a discharge is simulated coming from the device to an external point.

Thermo Fisher Scientific offers a range of equipment that suits all your ESD testing needs, including instruments for transmission-line pulse (TLP), HBM, and CDM testing. The exact tool required will depend on the size and complexity of the device, so be sure to visit our product pages on this website for more information.

 



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Qualificação de semicondutores ESD

Cada plano de controle de descarga eletrostática (ESD) é necessário para identificar dispositivos sensíveis à ESD. Oferecemos um conjunto completo de sistemas de teste para ajudar com os requisitos de qualificação do seu dispositivo.


Samples


Materiais semicondutores e caracterização de dispositivos

À medida que os dispositivos semicondutores encolhem e se tornam mais complexos, há a necessidade de novos desenhos e estruturas. Os fluxos de trabalho de análise 3D de alta produtividade podem reduzir o tempo de desenvolvimento de dispositivos, maximizar o rendimento e garantir que os dispositivos atendam às necessidades futuras do setor.

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Products

Folha de estilo para cartões de instrumentos original

Centrios CE

  • Imagem superior, resolução de desbaste
  • Maior precisão e controle do desbaste
  • Construído na plataforma Helios DualBeam da Thermo Scientific

Sistema de teste Celestron

  • Teste de TLP no nível de wafer e pacote
  • Gerador de pulso TLP de alta corrente
  • Pode fazer interface com sondas semiautomáticas
  • Software intuitivo para controle e geração de relatórios

Sistema de teste Orion3

  • Teste do modelo do dispositivo carregado
  • Câmeras coloridas duplas de alta resolução
  • Teste densidades até menos de 0,4 mm de distância

Pegasus

  • Testes de acordo com os mais recentes padrões do setor
  • Rede ESD 150 pF/330 Ω de nível de sistema real
  • Conexão de 2 pinos por meio de sondas de wafer para qualquer dispositivo

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Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.

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