辉光放电质谱分析 (GD-MS)

辉光放电质谱仪让您定义固体样本直接分析的新标准，提供高通量测定高纯度导体和半导体材料中微量元素的解决方案。

Thermo Scientific Element GD Plus GD-MS 系统在高分辨率质谱仪中采用快速辉光放电离子源，主要为高纯度金属和合金、半导体和电池应用提供完整的材料表征。作为直接分析高纯度导体和半导体材料的理想工具，此系统可以检测并常规地定量固体样品中的几乎所有元素（ppb 级或以下）。

快速流离子源具有独特的高灵敏度和低干扰水平。此外，快速流离子源可实现快速抽真空和缩短样品采集时间，显著提高样品处理量和实验室生产率。 

高分辨率 ICP-MS 的简单性使其具有较先进的性能，而不影响直接、可靠的方法开发。Element GD Plus GD-MS 提供不受干扰的测量，可获得简单的线性校正曲线以进行定量分析。三种固定分辨率设置（300、4,000、10,000）且切换时间 <1 s，可确保可靠去除光谱干扰的较佳条件。固定狭缝设计可确保较大的稳定性和重现性。

典型应用涉及同时分析基体 (%)，痕量 (ppm) 和超痕量 (ppb)元素。为此，检测系统提供具有 >12 个数量级的线性动态范围并在不同检测模式之间自动交叉校准的全自动切换检测器。 

传统上，材料中痕量碳、氮和氧等气相元素的定量是通过燃烧技术实现的，需要第二台分析仪器。Element GD Plus GD-MS 的 CNO 选件通过净化装置吸附所供应氩气中的痕量水分、二氧化碳和氮气的来纯化作为放电气的氩气。这样可以实现碳、氮和氧的亚 ppm 检测限。

• 具有较高准确度和广泛可调溅射速率的独特设计，适合整体分析和深度剖析
• 灵敏度高，分析时间短
• 样品间切换简单、快速
• 多原子离子干扰低，无需低温冷却
• 灵活的样品夹，适用于平板样品、压片粉末和针状样品
• 插拔式锥和阳极帽，便于快速更换，以防样品残留

使用适宜的 GD-MS 附件，即便较复杂的元素分析也能变得更加简易。通过为您的辉光放电质谱仪专门设计的附件提高性能、便利和灵活性。

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