| Kevin Fairfax：Materials Analysis History,Products and Markets |
| 程斌： X射线光电子能谱测试规范化探讨 |
| 唐定国： XPS在热电材料研究中心的应用 |
| 盛世善： 与250xi联用的特殊样品制备系统 |
| 王海： 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 |
| Richard White： XPS depth Profiling with the new MAGCIS cluster ion source, from polymers to inorganic samples |
| 吴正龙： 反射式电子能量损失谱和弹性电子散射谱 |
| 谢斌平： 铁硒超导膜的原位制备和电子结构测量 |
| 陈建： 表面分析化学深度剖析溅射深度测量 |
| 蒋栋： Ar+刻蚀对聚合物结构的破坏 |
| 康强： 氩离子溅射对CrN薄膜表面化学成分的影响 |
| 王梅玲： Cu(In,Ga)Se2薄膜组成的XPS准确测量 |
| 张治忠： 电子显微成分分析中的若干问题与解决方案 |
| Riley Chris： Theta Probe A tool for characterizing ultra thin films and self assembled monolayers using parallel angle resolved XPS (ARXPS) |
| 刘芬： XPS在高分子材料研究中的应用 |
| 程斌： GB/T25184-2010《X射线光电子能谱仪检定方法》用于ESCALAB250系列仪器内部校准的探讨 |
| 刘雍： XPS Study on heavy fermion system |
| 崔云： XPS在强激光材料中的应用及问题 |
| 吴正龙： 表明化学分析 X射线光电子能谱强度标的重复性和一致性 |
| Andrew Wright： Avantage Datasystem |
| 寿林： 十年回顾与展望 |
| 张志强： 赛默飞表面分析仪器的日常维护 |
| 王娜： 新型DXRxi显微拉曼成像光谱仪 / 新型picoSpin80 核磁共振波谱仪 |
| 尚欣： XRF新技术在材料分析中的应用&颠覆性的XRD技术解析 |
| 孙文彬： 哈克流变仪介绍及其在材料加工表征中的应用 |