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Advanced battery materials analysis
Phenom Desktop SEM designed for battery materials analysis
In battery production and research, the quality of materials is becoming critical. Small contaminants in the NCM powder, for example, can have disastrous results in the final product. To trace these contaminants effectively, high-resolution SEM imaging with EDS analysis for chemistry is needed. When fully automated, this combination is a powerful tool for powder quality inspection.
Conductance classifications
Each particle class can be labeled with a conductance of the particles, allowing you to sort on conductance of particles. This allows you to assess the impact of contamination much more accurately since a small organic contamination is not as severe as a metallic conductive contamination.
Ternary diagram
To view overall chemistry of the particle population, a ternary diagram can be generated where all particles are represented. With Ni, Co, and Mn on each axis, the outyears and general trends can be seen instantly.
ChemiSEM Technology
Thermo Scientific ChemiSEM Technology revolutionizes and simplifies EDS analysis by fully integrating SEM and EDS functions into a single, cohesive user interface. Based on live quantification and building on decades of expertise in EDS analysis, the technology provides elemental information quickly and easily, guaranteeing reliable results in less time. ChemiSEM Technology now comes with a powerful new feature: ChemiPhase. ChemiPhase identifies unique phases with a big data approach, finding minor and trace elements while eliminating user bias and reducing possible mistakes.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
| Electron optical |
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| Electron optical magnification range |
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| Light optical magnification |
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| Resolution |
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| Image resolution options |
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| Acceleration voltages |
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| Vacuum levels |
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| Detector |
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| Sample size |
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| Sample loading time |
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Desktop SEM in battery development
See how the Phenom ParticleX Battery Desktop SEM performs in the real world with application notes, webinars, and more.
Improving the Quality of Lithium Batteries Using a Desktop SEM blog post
Lithium Ion Battery Analysis blog post
SEM Particle Analysis for Battery Manufacturing webinar
Blogs SEM Desktop
Deseja conhecer o grande poder da microscopia eletrônica de varredura sem comprometer a usabilidade? Aprimore seu conhecimento sobre a microscopia eletrônica de varredura e descubra como os SEMs Desktop são perfeitamente compatíveis com a pesquisa em nossos blogs Phenom Desktop SEM.
Desktop scanning electron microscopes for industrial manufacturing
The product selector is here to assist you in choosing the most suitable Scanning Electron Microscope (SEM) system and software for your research. Find out in a few minutes which SEM best suits your research application:
Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series
In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
- How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
- Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
- Speed up your automated gunshot residue analysis
- Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
- Understand your steel with automated inclusion analysis
- One tool for complete AM powder characterization
On-demand webinar: New Phenom ParticleX Steel Desktop SEM
Watch our on-demand webinar to learn more about:
- Industry-specific software and automation designed specifically for inclusion analysis in metallurgic samples
- Small footprint, which allows it be added to any analytical lab without the need to adjust facility infrastructure
- Easy-to-use interface and sample loading that allow you to begin using the instrument with minimal training
- High-quality, in-house SEM quality control
On-demand webinar: New Phenom ParticleX Steel Desktop SEM
Watch our on-demand webinar to learn more about:
- Industry-specific software and automation designed specifically for inclusion analysis in metallurgic samples
- Small footprint, which allows it be added to any analytical lab without the need to adjust facility infrastructure
- Easy-to-use interface and sample loading that allow you to begin using the instrument with minimal training
- High-quality, in-house SEM quality control
Watch Phenom ParticleX Desktop SEM: Quality Starts at the Microscale
Watch this on-demand webinar to learn how Phenom ParticleX desktop SEMs are the ideal solution for:
- ISO 16232 and VDA-19 Compliance for Technical Cleanliness.
- ISO 4406 and ISO 4407 for contamination of hydraulic fluids.
- Particle morphology for additive manufacturing feedstocks.
- Workflow examples for particle classifications and reporting.
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Alexander Bouman on the new Phenom ParticleX
ParticleX Steel Desktop SEM - Workflow introduction
Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series
In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
- How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
- Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
- Speed up your automated gunshot residue analysis
- Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
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On-demand webinar: New Phenom ParticleX Steel Desktop SEM
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On-demand webinar: New Phenom ParticleX Steel Desktop SEM
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- High-quality, in-house SEM quality control
Watch Phenom ParticleX Desktop SEM: Quality Starts at the Microscale
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- ISO 16232 and VDA-19 Compliance for Technical Cleanliness.
- ISO 4406 and ISO 4407 for contamination of hydraulic fluids.
- Particle morphology for additive manufacturing feedstocks.
- Workflow examples for particle classifications and reporting.
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Alexander Bouman on the new Phenom ParticleX
ParticleX Steel Desktop SEM - Workflow introduction
Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Limpeza
Mais do que nunca, a fabricação moderna necessita de componentes confiáveis e de qualidade. Com a microscopia eletrônica de varredura (SEM), a análise de limpeza de peças pode ser feita internamente, fornecendo uma ampla variedade de dados analíticos e encurtando o ciclo de produção.
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Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
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Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Mapeamento elementar em escala atômica com EDS
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
Tomografia EDS 3D
A pesquisa de materiais modernos depende cada vez mais da análise nanométrica em três dimensões. A caracterização 3D, incluindo dados de composição para contexto químico e estrutural completos, é possível com a EM 3D e a espectroscopia de raios X por energia dispersiva.
Mapeamento elementar em escala atômica com EDS
A EDS de resolução atômica fornece um contexto químico sem igual para análise de materiais, diferenciando a identidade elementar de átomos individuais. Quando combinado com a TEM de alta resolução, é possível observar a organização precisa dos átomos em uma amostra.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
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Serviços de microscopia eletrônica para
a ciência dos materiais
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
Suporte e recursos para microscopia eletrônica
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