｢今まで見えなかったSiCの不良を『見える化』！　パワー半導体の開発を加速させる不純物解析｣ タイアップ広告記事が、EE Times Japanに掲載されました

2024年6月14日

次世代パワー半導体の研究・技術開発に欠かせない炭化ケイ素（SiC）や窒化ガリウム（GaN）ウエハーの不純物解析に「ガルバノ光学系搭載フェムト秒LA-ICP-MS」をいち早く導入し、受託分析／受託調査を手掛ける東レリサーチセンター様の取り組みをご紹介するタイアップ広告記事が、EE Times Japanに掲載されました。

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https://eetimes.itmedia.co.jp/ee/articles/2405/16/news003.html